用于分析测量相同类型的零件的多个测试仪器的性能的方法技术

本发明专利技术公开了一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该数据处理系统为多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数，为多个数据集中的每一个数据集生成具有等于多个统计参数的分量的数据集向量，使用聚类算法基于数据集向量将每个数据集分配给簇，以及生成作为标签的函数的统计分布的显示，其中属于同一簇的统计分布被分组在一起。

【技术实现步骤摘要】
用于分析测量相同类型的零件的多个测试仪器的性能的方法
技术介绍
考虑特定零件的生产线，该特定零件由测量来自该零件的一个或多个信号的仪器进行测试。零件测试可以涉及多个相同类型的测试仪器以加速测试过程。此外，同一零件可能会被多次测试。例如，零件可能在第一次测试中被发现有缺陷，并被送往维修站。然后经修复的零件被再次测试。在理想情况下，针对任何给定的零件，所有测试仪器都会测得相同的值。然而，在现实情况中，任何测试仪器针对多个理论上相同的零件提供的一组测量值会具有一定的统计分布。类似地，即使合格零件之间也会显示出一定的差异。当测试仪器的数量很多时，识别出现故障的测试仪器会面临挑战，特别是在输出值的误差较小的情况下，这些误差因零件而异并因此隐藏在统计噪声中。最后，这些测试仪器在确切型号和仪器投入使用的确切日期上可能会有所差异。因此，面对这些差异，检查生产线面临重大挑战。
技术实现思路
本专利技术包括一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有使数据处理系统执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。

【技术特征摘要】
2017.10.30 US 15/798,3451.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。2.一种计算机可读介质，其包括使数据处理系统执行方法的指令，所述方法使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。3.权利要求2的计算机可读介质或者权利要求1的方法，其中所述显示包括与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于所述数据集值的中值或平均值处。4.权利要求2的计算机可读介质或者权利要求1的方法，其中所述数据集在每个簇内进一步按所述中值或所述平均值进行排序。5.权利要求2的计算机可读介质或者权利要求1的方法，其中所述数据集各自包括第一物理量的多个测量值，所述第一物理量由与多个测试仪器中的一个测试仪器相关联的第一测试探针测量，并且每个数据集由标签来表征，所述标签包括与所述测试仪器...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·赫尔费曼，
申请(专利权)人：是德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US