一种多绕组总匝数测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种多绕组总匝数测试装置，被测多绕组包括数个飞线绕组和数个普通绕组，其中飞线绕组首、尾端引出是导飞线，普通绕组首、尾端引出是针脚，所述的底板有与被测器件针脚的行距、列距相同排列的通孔、一端上端面安装有测试夹，探针垂直插入对应孔内，探针用绝缘胶固定于底板的底端面，穿过底板的探针的尾部用导线按被测器件普通绕组串接顺序连接在一起，测试夹按被测器件飞线绕组串接顺序用导线连接在一起，且测试夹的导飞线首头与普通绕组的尾头用导线连接在一起，探针为针状且上端有盲孔，被测器件针脚插于盲孔中并接触在一起。技术效果是，实现所有绕组测试总匝数的需求，提高了测试效率，保证了匝数的准确性。

A Multi-winding Turn Number Testing Device

The utility model relates to a multi-winding total turn number testing device. The tested multi-windings include several flying-wire windings and several common windings, in which the flying-wire winding head and tail end lead-out are pilot wires, and the common winding head and tail end lead-out are pins. The bottom plate has the same row spacing and row spacing of pins of the tested device, the upper end face of one end is installed with a test clamp, and the probe is vertically inserted. In the corresponding hole, the probe is fixed at the bottom end of the bottom plate with insulating glue, and the tail of the probe passing through the bottom plate is connected by wires in series with the common windings of the device under test. The test clamp is connected by wires in series with the flying wire windings of the device under test, and the flying wire head of the test clamp is connected with the tail end of the common winding by wires. The probe is needle-shaped and the upper end is blind. The pin of the device under test is inserted into the blind hole and contacted together. The technical effect is to meet the requirement of the total turns of all windings, improve the testing efficiency and ensure the accuracy of the turns.

【技术实现步骤摘要】
一种多绕组总匝数测试装置
本技术涉及一种匝数测试装置，特别涉及一种多绕组总匝数测试装置。
技术介绍
本公司生产的器件需要100%进行匝数测试，且对匝数要求100%正确，传统采用分组测试方式，不能保证极性100%正确，同时操作过程中容易出现疏漏，为提高测试效率，降低测试方法对人的依赖性,设计该匝数测试装置,实现快速完成所有绕组串联测试匝数的需求。
技术实现思路
鉴于现有技术存在的问题，本技术提供一种多绕组总匝数测试装置，实现了多绕组测试匝数的需求，具体技术方案是，一种多绕组总匝数测试装置，包括测试夹、探针、底板和导线，被测多绕组包括数个飞线绕组和数个普通绕组，其中飞线绕组首、尾端引出是导飞线，普通绕组首、尾端引出是针脚，其特征在于：所述的底板有与被测器件针脚的行距、列距相同排列的通孔、一端上端面安装有测试夹，探针垂直插入对应孔内，探针用绝缘胶固定于底板的底端面，穿过底板的探针的尾部用导线按被测器件普通绕组串接顺序连接在一起，测试夹按被测器件飞线绕组串接顺序用导线连接在一起，且测试夹的导飞线首头与普通绕组的尾头用导线连接在一起，所述的探针为针状且上端有盲孔，被测器件针脚插于盲孔中并接触在一起本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多绕组总匝数测试装置，包括测试夹（1）、探针（2）、底板（3）和导线（5），被测多绕组包括数个飞线绕组（7）和数个普通绕组（8），其中飞线绕组（7）首、尾端引出是导飞线（7‑1），普通绕组首、尾端引出是针脚（8‑1），其特征在于：所述的底板（3）有与被测器件针脚（8‑1）的行距、列距相同排列的通孔（1‑1）、一端上端面安装有测试夹（1），探针（2）垂直插入对应孔内，探针（2）用绝缘胶固定于底板（3）的底端面，穿过底板（3）的探针（2）的尾部用导线（5）按被测器件普通绕组（8）串接顺序连接在一起，测试夹（1）按被测器件飞线绕组（7）串接顺序用导线（5）连接在一起，且测试夹（1）的导飞线（...

【技术特征摘要】
1.一种多绕组总匝数测试装置，包括测试夹（1）、探针（2）、底板（3）和导线（5），被测多绕组包括数个飞线绕组（7）和数个普通绕组（8），其中飞线绕组（7）首、尾端引出是导飞线（7-1），普通绕组首、尾端引出是针脚（8-1），其特征在于：所述的底板（3）有与被测器件针脚（8-1）的行距、列距相同排列的通孔（1-1）、一端上端面安装有测试夹（1），探针（2）垂直插...

【专利技术属性】
技术研发人员：古大成，李金榜，单英，
申请(专利权)人：天津光电万泰克电子有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12