电场探头制造技术

一种电场探头，所述电场探头包括：感应探头、同轴线和连接头，所述感应探头包括：两个线状金属导体和包裹所述金属导体的绝缘材料，所述同轴线包括：芯线及其包裹所述芯线的绝缘材料、屏蔽层和绝缘外壳，所述连接头包括：探针和外壳，其中：所述两个线状金属导体之间呈90度夹角；所述芯线，耦接在所述金属导体与所述连接头的探针之间；所述屏蔽层，第一端口开路，第二端口与所述连接头的外壳连接。应用上述电场探头，成本较低、性能较好。

Electric field probe

The electric field probe comprises an induction probe, a coaxial line and a connector. The induction probe comprises two linear metal conductors and an insulating material encapsulating the metal conductor. The coaxial line comprises a core wire and an insulating material encapsulating the core wire, a shielding layer and an insulating shell. The connector comprises a probe and an outer shell, wherein the two wires are: The core wire is coupled between the metal conductor and the probe of the connecting head; the shielding layer is open at the first port, and the second port is connected with the shell of the connecting head. The application of the electric field probe has the advantages of low cost and good performance.

【技术实现步骤摘要】
电场探头
本技术涉及电磁场
，尤其涉及一种电场探头。
技术介绍
随着无线电子技术的发展，无线电子产品的市场占有率越来越高。而无线电子产品容易存在辐射干扰等问题，必须要通过电磁干扰(Electro-MagneticInterference，EMI)认证才能进行销售。现有的EMI认证机构主要通过各类标准天线进行辐射泄漏的测试，在微波暗室中进行远场测量。标准的远场测量，可以准确、定量地测试被测产品是否符合相应的EMI认证规范。但是，一方面，远场测试需要在特定的微波暗室环境进行，而建造微波暗室需要的建造成本和维护成本都非常高，一般公司没有这样的条件；另一方面，远场测试只能得知产品是否通过认证，无法确认辐射干扰源来自于产品的具体位置。而近场测量则可以解决以上两个问题：1、近场测量不需要在微波暗室进行，在普通非屏蔽的实验室环境就可以测量，故成本较低。2、近场测量可以定位干扰源的具体位置，方便工程师解决辐射干扰问题。对于近场测试，性能良好的电场探头，有助于提高通过认证预测的效率，是EMI近场测试的重要组成部分。在现有的产品中，用于EMI近场测试的电场探头要么实现过于复杂、成本较高，要么效率低本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电场探头，其特征在于，包括：感应探头、同轴线和连接头，所述感应探头包括：两个线状金属导体和包裹所述金属导体的绝缘材料，所述同轴线包括：芯线及其包裹所述芯线的绝缘材料、屏蔽层和绝缘外壳，所述连接头包括：探针和外壳，其中：所述两个线状金属导体之间呈90度夹角；所述芯线，耦接在所述金属导体与所述连接头的探针之间；所述屏蔽层，第一端口开路，第二端口与所述连接头的外壳连接。

【技术特征摘要】
1.一种电场探头，其特征在于，包括：感应探头、同轴线和连接头，所述感应探头包括：两个线状金属导体和包裹所述金属导体的绝缘材料，所述同轴线包括：芯线及其包裹所述芯线的绝缘材料、屏蔽层和绝缘外壳，所述连接头包括：探针和外壳，其中：所述两个线状金属导体之间呈90度夹角；所述芯线，耦接...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄增锋，万峰，陈光胜，
申请(专利权)人：上海东软载波微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31