一种相控检测扫查架制造技术

技术编号:21031393 阅读:13 留言:0更新日期:2019-05-04 04:24
本发明专利技术公开了一种相控检测扫查架,包括:连杆支架;设置于连杆支架的滚轮;设置于连杆支架,用于安装相控阵探头的探头槽,实现非手持探头扫查待检部件,方便检测人员工作过程中减少对探头移动的注意力,而把主要精力放到观察和分析上。该扫查架可适用于平直扫查、曲面扫查等,不受被检面影响。该扫查架可通过接驱动设备实现自动扫查。

A Phase-Controlled Detection Scanner

The invention discloses a phased inspection scanner, which comprises a connecting rod bracket, a roller set on the connecting rod bracket, and a connecting rod bracket for installing the probe groove of the phased array probe, realizing the scanning of the components to be inspected by a Non-Handheld probe, facilitating the detectors to reduce their attention to the movement of the probe in the working process, while focusing their main energy on observation and analysis. The scanner can be used for flat scanning, surface scanning and so on, and is not affected by the inspected surface. The scanner can be automatically scanned by connecting the driving device.

【技术实现步骤摘要】
一种相控检测扫查架
本专利技术涉及超声波检测
,具体来说涉及一种相控检测扫查架。
技术介绍
超声波相控阵和常规超声波检测得原理相似,都是基于脉冲反射法的原理。超声相控阵相对常规超声波优点主要包括以下几个方面:相控阵采用S扫,即同时可以拥有许多角度的超声波,就相当于拥有多种角度的探头同时工作,所以相控阵无需锯齿扫查,只要沿着焊缝挪动探头即可,检测效率更高。适用于自动化生产,和批量生产。相控阵可以拥有聚焦功能,而常规超声波一般没有(除了聚焦探头外),所以相控阵检测的灵敏度和分辨率都比常规超声检测高。相控阵检测可以同时拥有B扫、D扫、S扫和C扫描,可以通过建模,建立一个三维立体图形,缺陷显示非常直观,哪怕不懂NDT的人都能看明白,而常规超声波只能通过波形来分辨缺陷。超声相控阵可以检测复杂工件,比如可以检测涡轮叶片的叶根,常规超声波检测因为探头声束角度单一,存在很大的盲区,造成漏检。而相控阵可以快速,直观的检测。超声相控阵可对检测过程记录,实现了检测的追溯性,而常规超声只能靠人为判断波形对检测结果定论。正因为超声相控阵技术的上述优势,它在无损检测工程中应用的越来越广泛。超声相控阵检测时无需锯齿扫查,只需在距被检焊缝一定距离沿焊缝扫查一次即可完成对焊缝的全部检测。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供了一种相控检测扫查架,有助于检测人员将注意力由探头的移动转移到观察和分析上,以此提高检测的准确度。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种相控检测扫查架,包括:连杆支架;设置于所述连杆支架的滚轮;设置于所述连杆支架,用于安装相控阵探头的探头槽。优选地,所述连杆支架包括:用于连接所述滚轮的支撑杆;垂直连接于两根所述支撑杆之间的第二伸缩杆,且所述第二伸缩杆包括可转动连接的第一转动杆和第二转动杆;垂直连接于所述第一转动杆和所述第二转动杆之间的转动节点,用于安装所述探头槽的探头槽连接杆;用于固定所述探头槽连接杆于所述转动节点的第二固定螺丝。优选地,所述支撑杆为第一伸缩杆,所述探头槽连接杆为可伸缩式。优选地,所述第一伸缩杆和/或所述探头槽连接杆包括:连续设置有多个小孔,且为空心杆的伸杆;与所述伸杆配合,且设置有与所述小孔配合的弹簧销的缩杆。优选地,所述伸杆还包括两组键槽),所述缩杆还包括与所述键槽配合的连接键。优选地,所述连杆支架还包括:与所述探头槽连接杆可滑动配合的第一套管;固定连接于所述第一套管的第三伸缩杆,且第三伸缩杆连接于所述探头槽。优选地,所述探头槽包括:用于固定连接所述连杆支架的第二套管;可伸缩安装于所述第二套管的伸缩杆;连接于所述伸缩杆,用于夹持所述探头的夹板。优选地,所述滚轮包括:连接于所述连杆支架,安装高度可调节的万向接头;连接于所述万向接头的万向轮。优选地,所述万向接头包括依次连接的第一连接头、第二连接头、第三连接头、十字柱形接头、第四连接头、第五连接头和第六连接头;所述第一接头采用套管设计,与所述第一伸缩杆为螺栓连接;所述第二连接头固定连接于所述第一接头;所述第二接头与所述第三接头为可转动连接;所述第三接头和所述第四接头均设置有转向连接件,所述十字柱形接头连接于两个所述转向连接件之间;所述第四接头与所述第五接头为可转动连接;所述第五连接头固定连接于所述第六接头);所述第六接头连接于所述万向轮。优选地,所述十字柱形接头设置有用于连接所述转向连接件的第二小孔,所述连杆支架还包括安装于所述第二小孔,用于锁紧所述十字柱形接头和所述转向连接件。从上述的技术方案可以看出,本专利技术提供的相控检测扫查架,连杆支架通过滚轮带动探头槽滑动于待检部件,实现非手持探头扫查待检部件,解除了检测人员对于探头移动的注意力,进而专注于保持恒定的定位距离移动扫查架,从而提高检测的准确度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的相控检测扫查架的顶视结构示意图,其中,0为探头槽连接杆,1为万向轮,2为轮架,3为第一固定螺丝,4为第一伸缩杆,5为第二伸缩杆,6为第二固定螺丝,7为探头槽;图2为本专利技术实施例提供的第二伸缩杆的结构示意图,其中,8为第一转动杆,9为螺丝孔,10为第二转动杆;图3为本专利技术实施例提供的伸缩杆的结构示意图,其中,12为凹槽;图4为本专利技术实施例提供的伸缩杆的结构示意图,其中,13为伸杆,14为第一小孔,15为弹簧销,16为弹簧,17缩杆;图5为本专利技术实施例提供的伸杆的前视结构示意图,其中,18为键槽;图6为本专利技术实施例提供的缩杆的前视结构示意图,其中,19为连接键;图7为本专利技术实施例提供的万向接头的结构示意图,其中,20第一连接头,21第三固定螺丝,22为第二连接头,23为第三连接头,24为转向连接件,25为十字柱形接头,26为第四固定螺丝,27为第四连接头,28为第五固定螺丝,29为第五连接头,30为第六连接头,31为万向轮;图8为本专利技术实施例提供的十字柱形接头的端头结构示意图,其中,32为第二小孔;图9为本专利技术实施例提供的探头槽的前视结构示意图,其中,33为第一套管,34为第六固定螺丝,35为第七固定螺丝,36为第三伸缩杆,37为夹板,38第二套管;图10为本专利技术实施例提供的探头槽的侧视结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供的本专利技术实施例提供的相控检测扫查架,请参照图1和图10所示,包括:连杆支架;设置于所述连杆支架的滚轮;设置于所述连杆支架,用于安装相控阵探头40的探头槽7。从上述的技术方案可以看出,本专利技术实施例提供的相控检测扫查架,连接有探头槽的连杆支架通过滚轮滑动于待检部件,使得连杆支架带动探头槽运动,实现非手持探头扫查待检部件,解除了检测人员对于探头夹持的注意力,进而专注于探头槽保持恒定的定位距离扫查待检部位,以此提高检测的准确性。优选地,请参照图1和图2所示,连杆支架包括:用于连接滚轮的支撑杆;垂直连接于两根支撑杆之间的第二伸缩杆5,且第二伸缩杆5包括可转动连接的第一转动杆8和第二转动杆10;垂直连接于第一转动杆8和第二转动杆10之间的转动节点,用于安装探头槽7的探头槽连接杆0;用于固定探头槽连接杆0于转动节点的第二固定螺丝6。通过调节第一转动杆8与第二转动杆10的转动角度,以便探头槽能够适应不同的检测面,实现平面和曲面的扫查,提高探头槽扫查的多样性。此外,上述调节还可以用于调整探头槽的安装高度,以匹配不同高度的探头的安装。具体地,请参照图1所示,支撑杆为第一伸缩杆4,探头槽连接杆0为可伸缩式。第一伸缩杆4和探头槽连接杆0实现了连杆支架的横向伸缩。通过控制第二伸缩杆5的转动角度调节两根第一伸缩杆4之间的跨度,间接实现连杆支架的纵向伸缩,保证连杆支架的尺寸能够进行缩放,以适应于不同大小的检测空间的扫本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种相控检测扫查架,其特征在于,包括:连杆支架;设置于所述连杆支架的滚轮;设置于所述连杆支架,用于安装相控阵探头(40)的探头槽(7)。

【技术特征摘要】
1.一种相控检测扫查架,其特征在于,包括:连杆支架;设置于所述连杆支架的滚轮;设置于所述连杆支架,用于安装相控阵探头(40)的探头槽(7)。2.根据权利要求1所述的相控检测扫查架,其特征在于,所述连杆支架包括:用于连接所述滚轮的支撑杆;垂直连接于两根所述支撑杆之间的第二伸缩杆(5),且所述第二伸缩杆(5)包括可转动连接的第一转动杆(8)和第二转动杆(10);垂直连接于所述第一转动杆(8)和所述第二转动杆(9)之间的转动节点,用于安装所述探头槽(7)的探头槽连接杆(0);用于固定所述探头槽连接杆(0)于所述转动节点的第二固定螺丝(6)。3.根据权利要求2所述的相控检测扫查架,其特征在于,所述支撑杆为第一伸缩杆(4),所述探头槽连接杆(0)为可伸缩式。4.根据权利要求3所述的相控检测扫查架,其特征在于,所述第一伸缩杆(4)和/或所述探头槽连接杆(0)包括:连续设置有多个小孔(14),且为空心杆的伸杆(13);与所述伸杆(13)配合,且设置有与所述小孔(14)配合的弹簧销(15)的缩杆(17)。5.根据权利要求4所述的相控检测扫查架,其特征在于,所述伸杆(13)还包括两组键槽(18),所述缩杆(17)还包括与所述键槽(18)配合的连接键(19)。6.根据权利要求2所述的相控检测扫查架,其特征在于,所述连杆支架还包括:与所述探头槽连接杆(0)可滑动配合的第一套管(33);固定连接于所述第一套管(33)的第三伸缩杆(36),且第三伸缩杆(36)连接于所述探头槽(7)。7.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:张广兴
申请(专利权)人:国电锅炉压力容器检验有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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