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一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统技术方案

技术编号:21002638 阅读:60 留言:0更新日期:2019-04-30 21:11
一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统,属于吸收光谱测量技术领域。所述系统含有可调谐激光器、测量气室、参考光路、真空泵和示波器等部件。测量气室含有外壳、进气管道、出气管道、热电偶、中心测量区域和对称设置在中心测量区域两侧的“T”型玻璃柱;在所述进气管道出口和出气管道进口处均设有一环形缓冲气室;在每个玻璃柱外部设有套管;在套管与外壳内壁面之间填充保温棉,并在套管内壁和中心测量区域内壁面上镀有一层硅质薄膜。本发明专利技术可有效提高测量过程中系统温度的均匀稳定性,减小气室壁面极性分子的吸附和解析,同时消除空气中组分对待测气体的干扰,从而进一步提高谱线参数的测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统
本专利技术涉及一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统,属于吸收光谱测量

技术介绍
目前,可调谐激光二极管吸收光谱技术(TDLAS)是一类常用的非接触式测量手段和热门的研究方向,具有灵敏度高,响应速度快,可以实现在线实时测量的优点,通常用于测量工业气体的温度,组分,浓度和压力等物性参数。尽管如此,基于TDLAS的气体物性参数测量的精确度取决于气体分子吸收谱线参数的精准度,因此需要尽可能的提高谱线参数的测量精度,一种可以实现气体谱线参数标定的测量系统也尤为重要。目前用于做吸收谱线参数标定的测量气室大多采用玻璃材质的“三节管”结构形式,其优点在于相比于不锈钢材料,玻璃材质可相对减小管壁对待测气体分子的吸附作用,尤其是H2O、NH3等极性分子,但其缺点也很明显,如气室密封性、耐压能力均较差,而谱线标定一般在低压下进行,对气室密封性要求较高。也有采用不锈钢材质的测量气室,虽然耐压能力强,但由于不锈钢表面光滑度不够,极性分子很容易吸附于内表面,尤其在高温实验中极性分子的吸附和解析现象相当严重,因此很难在实验过程中保证气体浓度和压力的稳定性,从本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统,所述测量系统含有可调谐激光器、分束光纤、测量光路、参考光路、真空泵和示波器;所述的测量光路含有第一准直器、测量气室和第一探测器;所述参考光路含有第二准直器和第二探测器;其特征在于:所述气室含有外壳(10)、进气管道(4)和出气管道(5),以及设置在外壳内的热电偶(6)、中心测量区域(1)和对称设置在中心测量区域两侧的“T”型玻璃柱(2);在每个“T”型玻璃柱外部设有套管(11),该套管与“T”型玻璃柱之间留有气体通道(15);在套管与外壳内壁面之间填充保温棉(3),并在套管内壁和中心测量区域内壁面上镀有一层硅质薄膜(13)。

【技术特征摘要】
1.一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统,所述测量系统含有可调谐激光器、分束光纤、测量光路、参考光路、真空泵和示波器;所述的测量光路含有第一准直器、测量气室和第一探测器;所述参考光路含有第二准直器和第二探测器;其特征在于:所述气室含有外壳(10)、进气管道(4)和出气管道(5),以及设置在外壳内的热电偶(6)、中心测量区域(1)和对称设置在中心测量区域两侧的“T”型玻璃柱(2);在每个“T”型玻璃柱外部设有套管(11),该套管与“T”型玻璃柱之间留有气体通道(15);在套管与外壳内壁面之间填充保温棉(3),并在套管内壁和中心测量区域内壁面上镀有一层硅质薄膜(13)。2.如权利要求1所述的一种基于气体吸收光谱的谱线参数的测量系统,其特征在于,在所述进气管道(4)出口...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭志敏丁艳军李济东
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:北京,11

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