一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测量工装领域，具体涉及一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法。包括测量主体、触头和千分表，测量主体直线延伸，触头和/或千分表滑动且可锁紧地设置在测量主体上，触头与测量主体垂直设置，千分表的轴线平行于测量主体。通过合理设置测量装置的结构，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值，结合标件的尺寸和差值可得到待检测工件的尺寸。上述过程无需三坐标测量装置对每个工件进行测量，只需采用三坐标测量出标件的尺寸，即可准确得到其它待检测工件的尺寸，解决了现有技术中三坐标测量成本高、延长生产周期的问题。

A Measuring Device and Its Application, Measuring Method and Workpiece Processing Method

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法
本专利技术涉及测量工装领域，具体涉及一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法。
技术介绍
风电齿圈止口尺寸的检测一直是机械加工检测的难点，主要是大型齿圈所用的量具精度差，受每个人的手感影响大，测量准确性不够，造成加工和检测过程无法准确判定尺寸是否能满足要求。虽三坐标测量可以精确测量，但是需要恒温24h，且大型三坐标的测量成本较高达到3500元/h。在加工中，也不可能加工一半就拿下来，再去三坐标恒温检测，这样也会增加很高的成本，且大大影响生产周期。
技术实现思路
为了解决现有技术中三坐标测量成本高、延长生产周期的问题，本专利技术提出一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法，解决了上述技术问题。本专利技术的技术方案如下：一种测量装置，包括测量主体、触头和千分表，所述测量主体直线延伸，所述触头和/或所述千分表滑动且可锁紧地设置在测量主体上，所述触头与所述测量主体垂直设置，所述千分表的轴线平行于所述测量主体。通过合理设置测量装置的结构，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，其特征在于，包括测量主体(1)、触头(2)和千分表(3)，所述测量主体(1)直线延伸，所述触头(2)和/或所述千分表(3)滑动且可锁紧地设置在测量主体(1)上，所述触头(2)与所述测量主体(1)垂直设置，所述千分表(3)的轴线平行于所述测量主体(1)。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，其特征在于，包括测量主体(1)、触头(2)和千分表(3)，所述测量主体(1)直线延伸，所述触头(2)和/或所述千分表(3)滑动且可锁紧地设置在测量主体(1)上，所述触头(2)与所述测量主体(1)垂直设置，所述千分表(3)的轴线平行于所述测量主体(1)。2.如权利要求1所述的一种测量装置，其特征在于，所述测量主体(1)为测量尺，所述触头(2)的远离所述测量主体(1)的一端为接触端(21)，所述接触端(21)呈外凸的鼓形。3.一种如权利要求1-2任一项所述的测量装置在测量风电内齿圈的止口尺寸中的应用。4.一种测量方法，其特征在于，采用如权利要求1-2任一项所述的测量装置，包括如下步骤：S1、调整测量装置，使千分表(3)读数为零时，千分表(3)的测量触头(31)与触头(2)的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，锁紧触头(2)和千分表(3)；S2、采用调整后的测量装置来测量待检测工件的尺寸，千分表(3)的读数的绝对值即为待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值。5.如权利要求4所述的一种测量方法，其特征在于，所述测量方法用于测量待检测工件的内孔孔径时，所述千分表(3)的测量触头(31)远离所述触头(2)设置，步骤S1包括：A1、保持触头(2)与标件的内孔孔壁接触，并锁紧触头(2)；A2、滑动千分表(3)，使千分表(3)的测量触头(31)与标件的内孔孔壁接触，调整测量主体(1)，使测量主体(1)经过内孔圆心；A3、细调千分表(3)，使千分表(3)读数为零时，千分表(3)的测量触头(31)与触头(2)的触点之间的距离等于标件的内孔孔径；A4、锁紧千分表(3)。6.如权利要求5所述的一种测量方法，其特征在于，步骤S2包括：C1、保持...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓东，霍叶青，吴堂辉，
申请(专利权)人：常州天山重工机械有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32