一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测量工装领域，具体涉及一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法。包括测量主体、触头和千分表，测量主体直线延伸，触头和/或千分表滑动且可锁紧地设置在测量主体上，触头与测量主体垂直设置，千分表的轴线平行于测量主体。通过合理设置测量装置的结构，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值，结合标件的尺寸和差值可得到待检测工件的尺寸。上述过程无需三坐标测量装置对每个工件进行测量，只需采用三坐标测量出标件的尺寸，即可准确得到其它待检测工件的尺寸，解决了现有技术中三坐标测量成本高、延长生产周期的问题。

A Measuring Device and Its Application, Measuring Method and Workpiece Processing Method

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法
本专利技术涉及测量工装领域，具体涉及一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法。
技术介绍
风电齿圈止口尺寸的检测一直是机械加工检测的难点，主要是大型齿圈所用的量具精度差，受每个人的手感影响大，测量准确性不够，造成加工和检测过程无法准确判定尺寸是否能满足要求。虽三坐标测量可以精确测量，但是需要恒温24h，且大型三坐标的测量成本较高达到3500元/h。在加工中，也不可能加工一半就拿下来，再去三坐标恒温检测，这样也会增加很高的成本，且大大影响生产周期。
技术实现思路
为了解决现有技术中三坐标测量成本高、延长生产周期的问题，本专利技术提出一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法，解决了上述技术问题。本专利技术的技术方案如下：一种测量装置，包括测量主体、触头和千分表，所述测量主体直线延伸，所述触头和/或所述千分表滑动且可锁紧地设置在测量主体上，所述触头与所述测量主体垂直设置，所述千分表的轴线平行于所述测量主体。通过合理设置测量装置的结构，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值，结合标件的尺寸和差值可得到待检测工件的尺寸。上述过程无需三坐标测量装置对每个工件进行测量，只需采用三坐标测量出标件的尺寸，其它的待检测工件均可通过上述测量装置进行检测，即可准确得到其它待检测工件的尺寸，后期加工可直接根据差值进行加工，大大缩短了生产周期，降低了成本。进一步地，所述测量主体为测量尺，所述触头的远离所述测量主体的一端为接触端，所述接触端呈外凸的鼓形。一种上述的测量装置在测量风电内齿圈的止口尺寸中的应用。上述测量装置可用于测量内径、外径和长度等，其可用于测量风电内齿圈的止口尺寸。一种测量方法，采用上述的测量装置，包括如下步骤：S1、调整测量装置，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，锁紧触头和千分表；S2、采用调整后的测量装置来测量待检测工件的尺寸，千分表的读数的绝对值即为待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值。上述检测方法，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值。进一步地，设置千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，则在测量待检测工件时，千分表的直接读数的绝对值即为待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值，无需进一步计算。进一步地，所述测量方法用于测量待检测工件的内孔孔径时，所述千分表的测量触头远离所述触头设置，步骤S1包括：A1、保持触头与标件的内孔孔壁接触，并锁紧触头；A2、滑动千分表，使千分表的测量触头与标件的内孔孔壁接触，调整测量主体，使测量主体经过内孔圆心；A3、细调千分表，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的内孔孔径；A4、锁紧千分表。测量待检测工件的内孔孔径时，由于内孔的孔径为内孔径向的最大长度，可通过该特性来调整测量主体的位置，使测量主体经过内孔圆心。具体地，可先人眼观察粗调测量主体的位置，然后使千分表的测量触头与内孔孔壁接触并处于一定的压缩状态，在一定范围内以触点为圆心摆动测量主体，观察千分表读数，测量触头的压缩程度最小时，测量主体经过内孔圆心。再调整千分表，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的内孔孔径，锁紧千分表，即完成测量装置的调整。进一步地，步骤S2包括：C1、保持触头与待检测工件的内孔孔壁接触，并锁紧触头；C2、千分表的测量触头与待检测工件的内孔孔壁接触，以触头的触点为圆心，摆动测量主体，根据千分表的读数调整测量主体的位置，使测量主体经过待检测工件的内孔圆心；C3、读出千分表的读数，得到待检测工件的内孔孔径与标件的内孔孔径之间的差值。将调整好的测量装置的触头和千分表的测量触头均与待检测工件的内孔孔壁接触，先人眼观察粗调测量主体的位置，然后以触头的触点为圆心摆动测量主体，观察千分表读数，读数最小时，测量主体经过内孔圆心，通过读数获得待检测工件的内孔孔径与标件的内孔孔径之间的差值。进一步地，所述测量方法用于测量待检测工件的外径时，所述千分表的测量触头靠近所述触头设置，步骤S1包括：B1、保持触头与标件的外壁接触，并锁紧触头；B2、滑动千分表，使千分表的测量触头与标件的外壁接触，调整测量主体，使测量主体经过待检测工件的圆心；B3、细调千分表，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的外径；B4、锁紧千分表。测量待检测工件的外径时，由于外径为外壁任意两点在径向上的最大长度，可通过该特性来调整测量主体的位置，使测量主体经过标件圆心。具体地，可先人眼观察粗调测量主体的位置，然后使千分表的测量触头与标件的外壁接触并处于一定的压缩状态，在一定范围内以触点为圆心摆动测量主体，观察千分表读数，读数最大时，测量主体经过内孔圆心。再调整千分表，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的外径，锁紧千分表，即完成测量装置的调整。进一步地，步骤S2包括：D1、保持触头与待检测工件的外壁接触；D2、千分表的测量触头与待检测工件的外壁接触，以触头的触点为圆心，摆动测量主体，根据千分表的读数调整测量主体的位置，使测量主体经过待检测工件的圆心；D3、读出千分表的读数，得到待检测工件的外径与标件的外径之间的差值。将调整好的测量装置的触头和千分表的测量触头均与待检测工件的外壁接触，先人眼观察粗调测量主体的位置，然后以触头的触点为圆心摆动测量主体，观察千分表读数，读数最大时，测量主体经过内孔圆心，通过读数获得待检测工件的内孔孔径与标件的内孔孔径之间的差值。进一步地，千分表读数为零时，所述千分表的测量触头处于压缩状态。通过上述设置，在待检测工件的尺寸大于或小于标件的情况下，千分表均可读出两者之间的差值。一种工件加工方法，采用上述的测量方法测得待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值，并根据差值加工工件。直接通过差值来加工待检测工件，简化了加工过程，提高了加工效率。基于上述技术方案，本专利技术所能实现的技术效果为：1.本专利技术的测量装置，通过设置触头和千分表至少一个可滑动地设置在测量主体上，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值，结合标件的尺寸和差值可得到待检测工件的尺寸。上述过程无需三坐标测量装置对每个工件进行测量，只需采用三坐标测量出标件的尺寸，其它的待检测工件均可通过上述测量装置进行检测，即可准确得到其它待检测工件的尺寸，后期加工可直接根据差值进行加工，大大缩短了生产周期，降低了成本；2.本专利技术的测量装置，设置触头的接触端呈外凸的鼓形，如此可保证触头与待检测工件进行点接触，测量精度高；3.本专利技术的测量装置可用于测量内径、外径和长度等，可应用于风电内齿圈的止口尺寸的测量；4.本专利技术的测量方法，在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值。进一步地，设置千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，则在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，其特征在于，包括测量主体(1)、触头(2)和千分表(3)，所述测量主体(1)直线延伸，所述触头(2)和/或所述千分表(3)滑动且可锁紧地设置在测量主体(1)上，所述触头(2)与所述测量主体(1)垂直设置，所述千分表(3)的轴线平行于所述测量主体(1)。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，其特征在于，包括测量主体(1)、触头(2)和千分表(3)，所述测量主体(1)直线延伸，所述触头(2)和/或所述千分表(3)滑动且可锁紧地设置在测量主体(1)上，所述触头(2)与所述测量主体(1)垂直设置，所述千分表(3)的轴线平行于所述测量主体(1)。2.如权利要求1所述的一种测量装置，其特征在于，所述测量主体(1)为测量尺，所述触头(2)的远离所述测量主体(1)的一端为接触端(21)，所述接触端(21)呈外凸的鼓形。3.一种如权利要求1-2任一项所述的测量装置在测量风电内齿圈的止口尺寸中的应用。4.一种测量方法，其特征在于，采用如权利要求1-2任一项所述的测量装置，包括如下步骤：S1、调整测量装置，使千分表(3)读数为零时，千分表(3)的测量触头(31)与触头(2)的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，锁紧触头(2)和千分表(3)；S2、采用调整后的测量装置来测量待检测工件的尺寸，千分表(3)的读数的绝对值即为待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值。5.如权利要求4所述的一种测量方法，其特征在于，所述测量方法用于测量待检测工件的内孔孔径时，所述千分表(3)的测量触头(31)远离所述触头(2)设置，步骤S1包括：A1、保持触头(2)与标件的内孔孔壁接触，并锁紧触头(2)；A2、滑动千分表(3)，使千分表(3)的测量触头(31)与标件的内孔孔壁接触，调整测量主体(1)，使测量主体(1)经过内孔圆心；A3、细调千分表(3)，使千分表(3)读数为零时，千分表(3)的测量触头(31)与触头(2)的触点之间的距离等于标件的内孔孔径；A4、锁紧千分表(3)。6.如权利要求5所述的一种测量方法，其特征在于，步骤S2包括：C1、保持...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓东，霍叶青，吴堂辉，
申请(专利权)人：常州天山重工机械有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32