一种显示装置及其控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种显示装置及其控制方法，涉及显示技术领域，可解决显示装置存在坏点影响显示的问题。显示装置包括多个亚像素，显示装置的控制方法包括：根据显示装置中对应坏点的坏点亚像素的位置、当前帧图像中坏点亚像素的数据信号、以及与每个坏点亚像素发光颜色相同且邻近的所有亚像素中作为补偿亚像素的个数，计算每个补偿亚像素的补偿数据信号；补偿亚像素用于在当前帧图像进行显示时，对与其邻近的坏点亚像素损失的亮度进行补偿；根据当前帧图像中对应补偿亚像素的数据信号以及计算得到的该补偿亚像素的补偿数据信号，计算得到针对每个补偿亚像素的总数据信号；并在当前帧图像进行显示时，向补偿亚像素输入所述总数据信号。

A Display Device and Its Control Method

The embodiment of the present invention provides a display device and its control method, which relates to the field of display technology, and can solve the problem that the display device has bad points affecting the display. The display device includes a plurality of sub-pixels. The control method of the display device includes: calculating the compensation data signal of each sub-pixel according to the location of the sub-pixel of the bad point in the display device, the data signal of the sub-pixel of the bad point in the current frame image, and the number of sub-pixels as compensation sub-pixels in all sub-pixels with the same light emitting color of each sub-pixel of the bad point and adjacent to each sub-pixel \u8865\u507f\u4e9a\u50cf\u7d20\u7528\u4e8e\u5728\u5f53\u524d\u5e27\u56fe\u50cf\u8fdb\u884c\u663e\u793a\u65f6\uff0c\u5bf9\u4e0e\u5176\u90bb\u8fd1\u7684\u574f\u70b9\u4e9a\u50cf\u7d20\u635f\u5931\u7684\u4eae\u5ea6\u8fdb\u884c\u8865\u507f\uff1b\u6839\u636e\u5f53\u524d\u5e27\u56fe\u50cf\u4e2d\u5bf9\u5e94\u8865\u507f\u4e9a\u50cf\u7d20\u7684\u6570\u636e\u4fe1\u53f7\u4ee5\u53ca\u8ba1\u7b97\u5f97\u5230\u7684\u8be5\u8865\u507f\u4e9a\u50cf\u7d20\u7684\u8865\u507f\u6570\u636e\u4fe1\u53f7\uff0c\u8ba1\u7b97\u5f97\u5230\u9488\u5bf9\u6bcf\u4e2a\u8865\u507f\u4e9a\u50cf\u7d20\u7684\u603b\u6570\u636e\u4fe1\u53f7\uff1b\u5e76\u5728\u5f53\u524d\u5e27\u56fe\u50cf\u8fdb\u884c\u663e\u793a\u65f6\uff0c\u5411\u8865 The sub-pixel is input into the total data signal.

【技术实现步骤摘要】
一种显示装置及其控制方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示装置及其控制方法。
技术介绍
目前，显示装置在显示时常存在暗点的问题。以显示装置为Micro-LED(Light-EmittingDiode)显示装置为例，由于晶格匹配的原因，Micro-LED显示装置在制作过程中必须先在供体基板如蓝宝石基板上通过分子束外延技术生长出多个Micro-LED颗粒，再将Micro-LED颗粒转移到电路基板上。由于电路基板的尺寸远大于供体基板的尺寸，因此需要进行多次Micro-LED颗粒的转移。在上百万颗Micro-LED颗粒转移的过程中，很容易出现个别Micro-LED颗粒未转移成功或Micro-LED颗粒损坏等现象。由于Micro-LED颗粒尺寸非常小，且Micro-LED颗粒之间的间隙也非常小(达到了微米级)，因而对于Micro-LED颗粒转移失败或Micro-LED颗粒损坏的位置修复困难且复杂。这样一来，Micro-LED显示装置显示时，在Micro-LED颗粒转移失败或Micro-LED颗粒损坏的位置就会出现暗点(也称坏点)，从而影响了Micro-LED显示装置的显示。专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置的控制方法，所述显示装置包括多个亚像素，其特征在于，所述显示装置的控制方法包括：根据所述显示装置中对应坏点的坏点亚像素的位置、当前帧图像中所述坏点亚像素的数据信号、以及与每个所述坏点亚像素发光颜色相同且邻近的所有亚像素中作为补偿亚像素的个数，计算每个所述补偿亚像素的补偿数据信号；所述补偿亚像素用于在当前帧图像进行显示时，对与其邻近的所述坏点亚像素损失的亮度进行补偿；根据所述当前帧图像中对应所述补偿亚像素的数据信号以及计算得到的该补偿亚像素的所述补偿数据信号，计算得到针对每个所述补偿亚像素的总数据信号；并在当前帧图像进行显示时，向所述补偿亚像素输入所述总数据信号。

【技术特征摘要】
1.一种显示装置的控制方法，所述显示装置包括多个亚像素，其特征在于，所述显示装置的控制方法包括：根据所述显示装置中对应坏点的坏点亚像素的位置、当前帧图像中所述坏点亚像素的数据信号、以及与每个所述坏点亚像素发光颜色相同且邻近的所有亚像素中作为补偿亚像素的个数，计算每个所述补偿亚像素的补偿数据信号；所述补偿亚像素用于在当前帧图像进行显示时，对与其邻近的所述坏点亚像素损失的亮度进行补偿；根据所述当前帧图像中对应所述补偿亚像素的数据信号以及计算得到的该补偿亚像素的所述补偿数据信号，计算得到针对每个所述补偿亚像素的总数据信号；并在当前帧图像进行显示时，向所述补偿亚像素输入所述总数据信号。2.根据权利要求1所述的显示装置的控制方法，其特征在于，所述根据所述显示装置中对应坏点的坏点亚像素的位置、当前帧图像中所述坏点亚像素的数据信号、以及与每个所述坏点亚像素发光颜色相同且邻近的所有亚像素中作为补偿亚像素的个数，计算每个所述补偿亚像素的补偿数据信号之前，所述显示装置的控制方法还包括：对多个所述亚像素分别进行检测，以判断每个所述亚像素是否能点亮；若否，则该亚像素为坏点亚像素，并存储所述坏点亚像素的位置。3.根据权利要求2所述的显示装置的控制方法，其特征在于，所述显示装置包括相互交叉的多条栅线和多条数据线；所述对多个所述亚像素分别进行检测，以判断每个所述亚像素是否能点亮，包括：逐行向多条所述栅线输入信号，在每条所述栅线输入信号时，向每条所述数据线的信号输入端输入电流信号，并检测该数据线上是否有电流；若有电流，则该条栅线和所述数据线控制的所述亚像素能点亮，若没有电流，则该条栅线和所述数据线控制的所述亚像素不能点亮。4.根据权利要求1-3任一项所述的显示装置的控制方法，其特征在于，所述显示装置为Micro-LED显示装置或电致发光显示装置；所述数据信号为电流信号。5.根据权利要求4所述的显示装置的控制方法，其特征在于，所述补偿亚像素对与其邻近的一个所述坏点亚像素损失的亮度进行补偿；所述补偿亚像素的所述补偿数据信号为A/N；其中，A为当前帧图像中所述坏点亚像素的电流信号；N为对该所述坏点亚像素损失的亮度...

【专利技术属性】
技术研发人员：周星，石广东，鹿堃，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11