一种霍尔元件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术适用于霍尔测试领域，提供了一种霍尔元件测试装置，包括工作台，工作台上设有第一测试机构、第二测试机构、放置座以及指示灯，第一测试机构包括垂直设置在工作台上的第一支撑板，第一支撑板上端设有施加向下推力的第一升降机构，第一升降机构下端设有固定板，固定板上设有第一探针，第二测试机构包括垂直设置在工作台上的第二支撑板，第一支撑板在第二支撑板一侧，第二支撑板上端设有施加向下推力的第二升降机构，第二升降机构下方设有连接板，连接板上设有第二探针，第二支撑板另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。本实用新型专利技术提供的霍尔元件测试装置，体积小，结构简单，方便移动，测试方便；无需大型电源提供磁场，降低了检测成本。

A Hall Component Testing Device

The utility model is suitable for Hall testing field, and provides a Hall component testing device, including a worktable, which is provided with a first testing mechanism, a second testing mechanism, a placement seat and an indicator lamp. The first testing mechanism includes a first supporting plate vertically arranged on the worktable, a first lifting mechanism with downward thrust at the top of the first supporting plate, and a first elevator. The lower end of the structure is provided with a fixing plate, the fixing plate is provided with a first probe, the second testing mechanism includes a second supporting plate vertically arranged on the worktable, the first supporting plate is on one side of the second supporting plate, the second lifting mechanism with downward thrust is on the upper end of the second supporting plate, a connecting plate is under the second lifting mechanism, a second probe is on the connecting plate, and a second supporting plate is on the other side. Testing mechanism of Hall element. The Hall element testing device provided by the utility model has the advantages of small size, simple structure, convenient movement and testing convenience, and does not need large power supply to provide magnetic field, thus reducing the testing cost.

【技术实现步骤摘要】
一种霍尔元件测试装置
本技术属于霍尔测试领域，尤其涉及一种霍尔元件测试装置。
技术介绍
现有测试霍尔元件的测试装置，大多采用大型稳压电源用来提供稳定的磁场，这类测试装置对磁场电源要求极高，否则会造成磁场不稳定从而导致测试误差，而高质量的电磁场电源需大量稳压、滤波及补偿电路，其结构复杂、体积笨重以及不方便移动，造成测试不便，且价格昂贵，检测成本较高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种霍尔元件测试装置，旨在解决现有的霍尔元件测试装置体积较大、结构复杂以及不方便移动，造成测试的不便；且需大型电源提供磁场，所需检测成本较高的问题。本技术是这样实现的，一种霍尔元件测试装置，包括工作台，所述工作台上设有第一测试机构、第二测试机构、放置座以及指示灯，所述第一测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第一支撑板，所述第一支撑板上端设有施加向下推力的第一升降机构，所述第一升降机构下端设有固定板，所述固定板上设有第一探针，所述第二测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第二支撑板，所述第一支撑板在所述第二支撑板一侧，所述第二支撑板上端设有施加向下推力的第二升降机构，所述第二升降机构下方设有连接板，所述连接板上设有第二探针，所述放置座位于所述连接板下方，所述第二支撑板另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。本技术的进一步技术方案是：所述第一升降机构包括第一肘夹，所述第一肘夹上端通过第一固定件固定在所述第一支撑板上，所述第一肘夹下端设有第一移动杆，所述第一移动杆另一端设有第一压块，所述第一压块下方设有连接块，所述第一压块通过连接杆与所述连接块连接。本技术的进一步技术方案是：所述连接块设有上下通透的凹槽，所述连接块下端与所述固定板连接，所述凹槽位于所述连接块正上方。本技术的进一步技术方案是：所述第二升降机构包括包括第二肘夹，所述第二肘夹上端通过第二固定件固定在所述第二支撑板上，所述第二肘夹下端设有第二移动杆，所述第二移动杆另一端设有第二压块，所述连接板设置在所述第二压块下方。本技术的进一步技术方案是：所述检测机构包括探测棒，所述探测棒靠近所述第二测试机构的一端设有磁铁。本技术的进一步技术方案是：所述工作台上设有滑移机构，所述滑移机构包括滑轨以及与所述滑轨适配的滑块，所述探测棒设置在所述滑块上，所述探测棒与所述滑轨垂直设置。本技术的进一步技术方案是：所述工作台上还设有第一挡块、第二挡块以及设置在所述固定板下方的第三挡块，所述第一挡块、第二挡块及第三挡块均设置在所述第一支撑板前方，所述第一挡块与所述第二挡块平行设置，所述第一挡块与所述第二挡块均与所述第三挡块垂直设置。本技术的进一步技术方案是：所述工作台两侧均设有通孔。本技术的有益效果是：本技术提供的霍尔元件测试装置，体积小，结构简单，方便移动，测试方便；无需大型电源提供磁场，降低了检测成本。附图说明图1是本技术实施例提供的霍尔元件测试装置的结构示意图；图中各部件名称如下：1-工作台；2-第一测试机构；3-第二测试机构；4-放置座；5-指示灯；201-第一支撑板；202-固定板；203-第一探针；31-第二支撑板；32-连接板；33-第二探针；6-第一肘夹；7-第一固定件；8-第一移动杆；9-第一压块；10连接块；11-连接杆；12-凹槽；13-第二肘夹；14-第二固定件；15-第二移动杆；16-第二压块；17-探测棒；18-磁铁；19-滑轨；20-滑块；21-第一挡块；22-第二挡块；23-第三挡块；24-通孔。具体实施方式结合上述附图说明本技术的具体实施例。本实施例中的一种霍尔元件测试装置，包括工作台1，所述工作台1上设有第一测试机构2、第二测试机构3、放置座4以及指示灯5，所述第一测试机构2包括垂直设置在所述工作台1上的第一支撑板201，所述第一支撑板201上端设有施加向下推力的第一升降机构，所述第一升降机构下端设有固定板202，所述固定板202上设有第一探针203，所述第一探针通过导线与连通测试装置（图中未示出）连接，所述第一测试机构2用于检测产品放入后，根据连通测试装置判断是否与该测试装置连通，所述第二测试机构3包括垂直设置在所述工作台1上的第二支撑板31，所述第一支撑板201在所述第二支撑板31一侧，所述第二支撑板31上端设有施加向下推力的第二升降机构，所述第二升降机构下方设有连接板32，所述连接板32上设有第二探针33，所述第二探针33通过导线与指示装置（图中未示出）连接，通过指示装置中的指示灯5的亮与灭来5判断霍尔元件的好坏，所述放置座4位于所述连接板32下方，所述第二支撑板31另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。本技术提供的霍尔元件测试装置，体积小，结构简单，方便移动，测试方便；无需大型电源提供磁场，降低了检测成本。进一步的，所述第一升降机构包括第一肘夹6，所述第一肘夹6上端通过第一固定件7固定在所述第一支撑板201上，所述第一固定件7通过多个螺栓固定在所述第一支撑板201上，所述第一肘夹6下端设有第一移动杆8，所述第一移动杆8另一端设有第一压块9，所述第一压块9下方设有连接块10，所述第一压块9通过连接杆11与所述连接块10连接；所述连接块10设有上下通透的凹槽12，所述连接块10为“凹”型结构，所述连接块10下端与所述固定板202连接，所述凹槽12位于所述连接块10正上方，所述第一探针203上端穿过所述连接块10且位于所述凹槽12内，防止所述第一肘夹6下压时压到所述第一探针203，方便导线与所述第一探针203上端连接，简洁美观。进一步的，所述第二升降机构包括包括第二肘夹13，所述第二肘夹13上端通过第二固定件14固定在所述第二支撑板31上，所述第二固定件14通过多个螺栓固定在所述第二支撑板31上，所述第二肘夹13下端设有第二移动杆15，所述第二移动杆15另一端设有第二压块16，所述连接板32设置在所述第二压块16下方。进一步的，所述检测机构包括探测棒17，所述探测棒17靠近所述第二测试机构的一端设有磁铁18，当所需测试产品放置连通之后，将所述探测棒17沿所述滑轨19滑至所述连接板32附近，顺时针旋转至最佳角度45°时，通过所述指示灯5的亮与灭来5判断所需测试产品的好坏，若所述指示灯5由亮变灭，则所需测试的产品功能良好；若所述指示灯5常亮，则所需测试的产品功能不良。进一步的，所述工作台1上设有滑移机构，所述滑移机构包括滑轨19以及与所述滑轨19适配的滑块20，所述探测棒17设置在所述滑块20上，所述探测棒17与所述滑轨19垂直设置，所述滑移机构便于所述检测机构的移动；所述工作台1上还设有第一挡块21、第二挡块22以及设置在所述固定板202下方的第三挡块23，所述第一挡块21、第二挡块22及第三挡块23均设置在所述第一支撑板201前方，所述第一挡块21、第二挡块22及第三挡块23成“品”字型设置，所述第一挡块21与所述第二挡块22平行设置，所述第一挡块21与所述第二挡块22均与所述第三挡块23垂直设置，所述第一挡块21、第二挡块22以及第三挡块23的设置便于固定所需测试的产品，防止所需测试的产品测试时的滑动。进一步的，所述工作台1两侧均设有通孔24，该通孔24为环形通孔，便于工作人员将整个测试装置移动到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种霍尔元件测试装置，其特征在于：包括工作台，所述工作台上设有第一测试机构、第二测试机构、放置座以及指示灯，所述第一测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第一支撑板，所述第一支撑板上端设有施加向下推力的第一升降机构，所述第一升降机构下端设有固定板，所述固定板上设有第一探针，所述第二测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第二支撑板，所述第一支撑板在所述第二支撑板一侧，所述第二支撑板上端设有施加向下推力的第二升降机构，所述第二升降机构下方设有连接板，所述连接板上设有第二探针，所述放置座位于所述连接板下方，所述第二支撑板另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。

【技术特征摘要】
1.一种霍尔元件测试装置，其特征在于：包括工作台，所述工作台上设有第一测试机构、第二测试机构、放置座以及指示灯，所述第一测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第一支撑板，所述第一支撑板上端设有施加向下推力的第一升降机构，所述第一升降机构下端设有固定板，所述固定板上设有第一探针，所述第二测试机构包括垂直设置在所述工作台上的第二支撑板，所述第一支撑板在所述第二支撑板一侧，所述第二支撑板上端设有施加向下推力的第二升降机构，所述第二升降机构下方设有连接板，所述连接板上设有第二探针，所述放置座位于所述连接板下方，所述第二支撑板另一侧设有测试霍尔元件的检测机构。2.根据权利要求1所述的霍尔元件测试装置，其特征在于，所述第一升降机构包括第一肘夹，所述第一肘夹上端通过第一固定件固定在所述第一支撑板上，所述第一肘夹下端设有第一移动杆，所述第一移动杆另一端设有第一压块，所述第一压块下方设有连接块，所述第一压块通过连接杆与所述连接块连接。3.根据权利要求2所述的霍尔元件测试装置，其特征在于，所述连接块设有上下通透的凹槽，所述连接块下端与所述固定板...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾礼江，柳朝晖，陶光红，
申请(专利权)人：深圳市合川智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44