基于多结构化照明的3D传感技术制造技术

一种用于测量物体距离的方法和装置。为了实现这一点，可以将第一光源(102a，202a)和第二光源(102b，202b)配置为向该物体发射第一光线和第二光线，以照射该物体。该第一光线和该第二光线的发射可以被配置为使得两束光线在第一点处会聚并在第二点处发散。可以使用光学传感器(100，200，700)来捕获被该第一光线照射的该物体的第一图像，以及捕获被该第二光线照射的该物体的第二图像。该物体的该第一图像和该第二图像之间的图像差异可以被确定。然后，基于该图像差异和该第一点与该第二点之间的距离差，可以确定该物体相对于该第一点的距离。

3D Sensing Technology Based on Multi-structured Illumination

A method and device for measuring the distance of an object. To achieve this, the first light source (102a, 202a) and the second light source (102b, 202b) can be configured to emit the first and second light rays to the object to illuminate the object. The emission of the first light and the second light can be configured so that two beams of light converge at the first point and diverge at the second point. Optical sensors (100, 200, 700) can be used to capture the first image of the object illuminated by the first light and the second image of the object illuminated by the second light. The image difference between the first image and the second image of the object can be determined. Then, based on the image difference and the distance difference between the first point and the second point, the distance between the object and the first point can be determined.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于多结构化照明的3D传感技术优先权要求和相关申请的交叉引用本专利文件要求于2017年8月13日递交的第15/675,779号、题为“基于多结构化照明的3D传感技术”的美国临时专利申请的优先权。
这里的实施例总体上涉及确定物体距离的深度测量方法。
技术介绍
在3D计算机图形学中，深度图是包含与从视点到场景物体表面的距离相关的信息的图像或图像通道。有许多常见的已知方法用于确定深度图。例如，飞行时间(timeoffly，TOF)在本领域中是已知的，其用于通过向物体发射光束来测量物体相对于参考点的距离。通常，在TOF下，可以在t1向该物体发射光线，并且(由于该物体的反射)可以在时间t2捕获所返回的光线。可以计算t1与t2之间的时间差。由于光速是已知的，所以基于时间差可以知道该物体相对于该参考点的距离。然而，与确定物体距离的TOF相关的缺点在于，使用单束光线，只能用来测量该物体的一个点(或一个区域)的距离。为了确定该深度图，通常需要将光线“射”到物体上的不同的点上(例如，以扫描线的方式)，以确定该物体上的这些点的距离。这可能是低效且耗时的。在一些使用TOF检测器阵列获取3D图像的其它方法中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量物体距离的方法，所述方法包括：第一光源向所述物体发射第一光线；第二光源向所述物体发射第二光线，其中所述第一光线和所述第二光线在第一点处会聚并在第二点处发散；使用光学传感器捕获被所述第一光线照射的所述物体的第一图像；使用所述光学传感器捕获被所述第二光线照射的所述物体的第二图像；确定所述物体的所述第一图像与所述第二图像之间的图像差异；以及基于所述图像差异和所述第一点与所述第二点之间的距离差，确定所述物体相对于所述第一点的距离。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.08.13 US 15/675,7791.一种测量物体距离的方法，所述方法包括：第一光源向所述物体发射第一光线；第二光源向所述物体发射第二光线，其中所述第一光线和所述第二光线在第一点处会聚并在第二点处发散；使用光学传感器捕获被所述第一光线照射的所述物体的第一图像；使用所述光学传感器捕获被所述第二光线照射的所述物体的第二图像；确定所述物体的所述第一图像与所述第二图像之间的图像差异；以及基于所述图像差异和所述第一点与所述第二点之间的距离差，确定所述物体相对于所述第一点的距离。2.如权利要求1所述的方法，其中所述第一光线和所述第二光线与所述第一点完全重叠。3.如权利要求1所述的方法，其中所述第一光线和所述第二光线在所述第二点处完全发散。4.如权利要求1所述的方法，其中所述图像差异指示所述第一光线与所述第二光线之间的重叠程度。5.如权利要求1所述的方法，还包括在所述第一光源和所述第二光源附近放置光束结构掩模，以将所述第一光线和所述第二光线结构化，从而获得结构化的第一光线和结构化的第二光线，其中所述结构化的第一光线和所述结构化的第二光线具有相同的结构。6.如权利要求1所述的方法，其中结构化的第一光线和结构化的第二光线包括一组子光点，使得所述结构化的第一光线中的每个子光点与所述结构化的第二光线中的子光点相对应。7.如权利要求1所述的方法，其中结构化的第一光线中的第一子光点与结构化的第二光线中的第一子光点相对应，并且其中确定所述物体的所述第一图像与所述第二图像之间的所述图像差异包括：比较所述结构化的第一光线中的所述第一子光点的位置和所述结构化的第二光线中的所述第一子光点的位置；以及基于所述比较，确定所述结构化的第一光线中的所述第一子光点与所述结构化的第二光线中的所述第一子光点之间的重叠程度。8.如权利要求7所述的方法，还包括：对所述第一图像和所述第二图像进行归一化来获得对应的位置图像，以确定所述结构化的第一光线中的所述第一子光点与所述结构化的第二光线中的所述第一子光点的之间所述重叠程度。9.如权利要求1所述的方法，其中所述光学传感器被配置为捕获彩色图像，并且所述第一光线和所述第二光线具有不同的颜色。10.如权利要求9所述的方法，其中所述第一图像和所述第二图像是相同的图像，并且其中所述第一光线和所述第二光线同时或基本上同时照射所述物体。11.如权利要求1所述的方法，其中所述第一光线和所述第二光线同时或基本上同时照射所述物体，并且其中所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：何毅，皮波，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44