一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置，方法包括：首先获取图像传感器的平场图像，将平场图像进行坏点检测处理，输出坏点位置数据，利用基于FPGA查找表的扫描法根据坏点位置数据对坏点进行一次扫描处理，根据一次扫描数据创建原查找表，对一次扫描数据进行合并处理，根据合并处理数据对查找表进行更新处理，得到更新后的查找表，数据比较处理得到最终查找表，根据最终查找表统计坏簇数量。本申请实施例提供的技术方案，引入FPGA最擅长的查找表，将经过图像坏点检测的位置数据应用于查找表，通过查找表和数据扫描处理相互配合检验，得到最终的查找表，根据最终的查找表统计得到坏簇的数量，减少比较运算次数，适宜在FPGA上实现。

A Method and Device of Bad Cluster Statistics Based on FPGA Lookup Table

The embodiment of this application provides a bad cluster statistics method and device based on the FPGA look-up table. The method includes: firstly, acquiring the flat field image of image sensor, detecting and processing the flat field image, outputting the bad spot location data, using the scanning method based on the FPGA look-up table to scan the bad spot according to the bad spot location data, and creating the original search according to the scanning data. Find tables, merge one scan data, update the lookup tables according to the merge processing data, get the updated lookup tables, compare the data to get the final lookup tables, and count the number of bad clusters according to the final lookup tables. The technical scheme provided by the embodiment of this application introduces the look-up table which is the best one of the FPGA. The location data which has been detected by image bad points is applied to the look-up table. The final look-up table is obtained by the cooperation of the look-up table and data scanning processing. According to the final look-up table, the number of bad clusters is counted and the number of comparison operations is reduced, which is suitable for implementation on the FPGA.

【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置
本公开涉及图像识别
，尤其涉及一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置。
技术介绍
图像传感器是一种将光学图像转换成电子信号的器件，被广泛应用于摄像、图像采集以及工业测量等领域。通常，一个图像传感器包含大量的感光单元，每个感光单元对应于图像传感器所输出图像中的一个像素点。由于制造工艺、运输或储存方式等方面的原因，使得图像传感器的某些感光单元损坏而不能正常感光，这些不能正常感光的感光单元在图像中所对应的像素点被称为坏点。多个连续的坏点形成坏簇，坏簇的大小和数量对图像传感器的品质有很大的影响，因此坏簇统计很重要。常见的坏簇统计方法是基于FPGA查找表的扫描法，以目标点为中心，对比其周围8个像素值的大小，需要进行多次比较运算才能得到统计结果，不便于FPGA实现。
技术实现思路
为克服相关技术对于图像传感器的坏簇统计方法需要进行多次比较运算才能得到统计结果，不便于FPGA实现的问题，本申请提供一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法及装置，能够减少比较运算次数，适宜在FPGA上实现。根据本申请实施例的第一方面，提供一种基于FPGA查找表的坏簇统计方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述方法包括：获取图像传感器的平场图像；将所述平场图像进行坏点检测处理，输出坏点位置数据；利用基于连通域的扫描法根据所述坏点位置数据对所述坏点进行一次扫描处理，得到一次扫描数据；根据所述一次扫描数据创建原查找表；对所述一次扫描数据进行合并处理，得到合并扫描数据；根据所述合并处理数据对所述查找表进行更新处理，得到更新后的查找表；判断所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容是否一致；如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致，则以所述更新后的查找表内容为索引，如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容不一致，则重复所述...

【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述方法包括：获取图像传感器的平场图像；将所述平场图像进行坏点检测处理，输出坏点位置数据；利用基于连通域的扫描法根据所述坏点位置数据对所述坏点进行一次扫描处理，得到一次扫描数据；根据所述一次扫描数据创建原查找表；对所述一次扫描数据进行合并处理，得到合并扫描数据；根据所述合并处理数据对所述查找表进行更新处理，得到更新后的查找表；判断所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容是否一致；如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致，则以所述更新后的查找表内容为索引，如果所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容不一致，则重复所述对所述一次扫描数据进行合并处理，直至所述更新后的查找表索引与所述更新后的查找表内容一致，得到最终查找表；根据所述最终查找表统计坏簇数量。2.如权利要求1所述的基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述将所述平场图像进行坏点检测处理包括：坏点标记为1，正常像素点标记为0。3.如权利要求2所述的基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述利用基于FPGA查找表的扫描法根据所述坏点位置数据对所述坏点进行一次扫描处理包括：定义像素点位置为D[H，W]，用H表示所述像素点所处的行数，用W表示所述像素点所处的列数；定义坏簇的打标记号为label_num、所述坏点位置数据为Label1、所述一次扫描数据为Label2、查找表为equal_label；初始化label_num＝1、Label2(D[H，W])＝0以及equal_label[n]＝n,其中n＝1,2，…N，用N表示坏簇的预估值；根据所述坏点位置数据，判断Label1(D[H，W])是否等于1，如果Label1(D[H，W])等于1，则判断Label2(D[H，W-1])和Label2(D[H-1，W+1])的大小，如果Label2(D[H，W-1])和Label2(D[H-1，W+1])都大于1，则取两者中的小值赋值给Label2(D[H，W])，如果两者仅有一个大于1，则将大于1的值赋值给Label2(D[H，W])；如果Label2(D[H，W-1])和Label2(D[H-1，W+1])都等于零，则判断Label2(D[H-1，W-1])是否大于1，如果Label2(D[H-1，W-1])大于1，则将Label2(D[H-1，W-1])的值赋值给Label2(D[H，W])，如果Label2(D[H-1，W-1])小于或者等于1，则判断Label2(D[H-1，W])是否大于1，如果Label2(D[H-1，W])大于1，则将Label2(D[H-1，W])的值赋给Label2(D[H，W])，如果Label2(D[H-1，W])小于或等于1，则判断Label1(D[H，W+1])、Label1(D[H+1，W-1])、Label1(D[H+1，W])以及Label1(D[H+1，W+1])的总和是否等于零，如果Label1(D[H，W+1])、Label1(D[H+1，W-1])、Label1(D[H+1，W])以及Label1(D[H+1，W+1])的总和等于零，则将Label1(D[H，W])的值赋值给Label2(D[H，W])；如果Label1(D[H，W+1])、Label1(D[H+1，W-1])、Label1(D[H+1，W])以及Label1(D[H+1，W+1])的总和不等于零，则将label_num+1赋值给Label2(D[H，W])。4.如权利要求3所述的基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述对所述一次扫描数据进行合并处理包括：判断Label2(D[H，W])是否大于1，如果Label2(D[H，W])大于1，则判断Label2(D[H+1，W])和Label2(D[H+1，W+1])的大小，如果Label2(D[H+1，W])和Label2(D[H+1，W+1])均大于1，则取两者中的小值赋值给equal_label{Label2(D[H，W])}，如果Label2(D[H+1，W])和Label2(D[H+1，W+1])只有一个值大于1，则将Label2(D[H+1，W])和Label2(D[H+1，W+1])两者中大于1的值赋给equal_label{Label2(D[H，W])}；如果Label2(D[H+1，W])和Label2(D[H+1，W+1])均等于零，则判断Label2(D[H，W+1])是否大于1，且Label2(D[H，W+1])是否小于Label2(D[H，W])，如果Label2(D[H，W+1])大于1，且Label2(D[H，W+1])小于Label2(D[H，W])，则将Label2(D[H，W+1])的值赋值给equal_label{Label2(D[H，W])}，如果Label2(D[H，W+1])等于零，或Label2(D[H，W+1])大于或等于Label2(D[H，W])，则保持equal_label{Label2(D[H，W])}的值不变。5.如权利要求4所述的基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述坏簇统计方法还包括，定义二次扫描数据为Label3，初始化Label3(D[H，W])＝0，根据所述最终查找表对所述合并扫描数据进行二次扫描处理，包括：判断Label2(D[H，W])是否大于等于1，如果Label2(D[H，W])大于等于1，则将equal_label{Label2(D[H，W])}的值赋值给Label3(D[H，W])，如果Label2(D[H，W])小于1，则将Label2(D[H，W])的值赋值给Label3(D[H，W])，得到所述二次扫描数据。6.如权利要求1所述的基于FPGA查找表的坏簇统计方法，其特征在于，所述根据所述最终查找表统计坏簇数量包括：统计所述最终查找表中不同所述查找表内容的个数。7.一种基于FPGA查找表的坏簇统计装置，其特征在于，包括：平场图像获取单元，用于获取图像传感器的平场图像；坏点检测处理单元，用于将所述平场图像进行坏点检测处理，输出坏点位置数据；一次扫描处理单元，用于利用基于FPGA查找表的扫描法根据所述坏点位置数...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭慧，姚毅，
申请(专利权)人：凌云光技术集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11