The embodiment of the present invention discloses a defect detection method, device, device and storage medium, which includes: acquiring the target image of the object to be measured; determining the base image of the target image, which is obtained by fitting the base surface of the target image; determining the corrected image of the target image, which is obtained from the base image; and obtaining the surface of the object to be measured based on the corrected image. Defect detection results. The embodiment of the invention solves the imaging problem caused by uneven illumination in the prior art and effectively improves the accuracy of defect detection.
【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
本专利技术实施例涉及机器视觉图像处理
，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。
技术介绍
表面缺陷的检测是产品超精密加工技术可持续发展的重要环节，在表面面形及粗糙度得到良好控制的时候，表面缺陷越来越成为制约产品超精密加工工艺和水平的主要因素。目前，工业领域对表面缺陷检测主要采用人工检测方法和视觉检测方式。人工检测方式是让工人通过人眼加先验知识进行检测，该种方式容易造成工人的视觉疲劳从而增加误检率，且随着社会发展，人工成本也在逐渐提高。而视觉检测方式是根据产品的特性等因素，采用不同的成像系统机构设计及视觉检测算法进行检测。在实现本专利技术过程中，专利技术人发现视觉检测方式中成像系统因光源的不同存在下述缺陷：穹顶光成像均匀，但光源体积与相机检测视场成正比，但检测视场较大时，体积太大不易安装，不适合大面积的缺陷检测系统；面成像较均匀，但当检测表面光滑反光时，相机成像就会出现光源的投影，不利于检测；条形光体积较小易于安装，但是成像不均匀，不利于视觉检测；同轴光适用于表面放光的物质，切成像效果很好，但是体积与检测视场成正比...
【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测对象的目标图像；确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果。
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测对象的目标图像；确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取待测对象的目标图像，包括：获取待测对象的原始图像，所述原始图像为至少两个条形光分别对所述待测对象打光时的图像，所述原始图像的数量为至少两个；将各所述原始图像融合形成的融合图像确定为目标图像。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标图像的基面图像，包括：分别对所述目标图像横向和纵向的像素进行曲线拟合并生成横向基面和纵向基面；将所述横向基面和所述纵向基面进行融合得到所述目标图像的基面图像。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标图像的矫正图像之前，还包括：确定差分图像，所述差分图像为根据所述基面图像的最大像素与所述基面图像各像素的差值得到。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，确定所述目标图像的矫正图像，包括：依据Ir＝Ic+Id(Ic/If)，确定所述目标图像的矫正图像，其中Ir为矫正图像的像素，Ic为目标图像的像素，Id为目标图像所对应差分图像的像素，If为目标图像所对应基面图像的像素。...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴嵘，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，广州镭晨智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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