一种处理器的状态测试方法技术

本发明专利技术公开了一种处理器的状态测试方法，包括控制处理器将预设的检测数据写入存储设备；控制处理器读取写入存储设备的检测数据；判断读取的检测数据与预设的检测数据是否相同；若是，则处理器的写功能与读功能正常；否则处理器的写功能和/或读功能异常。本发明专利技术能够确定出处理器的写功能与读功能是否正常，此种情况下，在确定出处理器写功能和/或读功能异常后，工作人员便可以及时地对处理器进行维修或更换，提高了故障处理速度，提高了与处理器相关工作的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种处理器的状态测试方法
本专利技术涉及电子
，特别是涉及一种处理器的状态测试方法。
技术介绍
处理器是计算机领域中常见的一种硬件，可以对数据进行各种复杂运算或处理，处理器随着工作时间的增长或者其他因素，可能会产生一些故障，例如无法将数据写入存储中或者无法从存储中读取数据等，现有技术中没有一种成熟的测试处理器写功能以及读功能状态的方法，无法主动且及时地获知处理器的读功能以及写功能的状态，也就无法及时地对故障的处理器进行维修或替换，降低了与处理器相关工作的工作效率。因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种处理器的状态测试方法，能够主动确定处理器的读写功能是否正常，提高了故障处理速度。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种处理器的状态测试方法，包括：控制处理器将预设的检测数据写入存储设备；控制所述处理器读取写入所述存储设备的所述检测数据；判断读取的所述检测数据与预设的所述检测数据是否相同；若是，则所述处理器的写功能与读功能正常；否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常。优选地，所述控制处理器将预设的检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种处理器的状态测试方法，其特征在于，包括：控制处理器将预设的检测数据写入存储设备；控制所述处理器读取写入所述存储设备的所述检测数据；判断读取的所述检测数据与预设的所述检测数据是否相同；若是，则所述处理器的写功能与读功能正常；否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常。

【技术特征摘要】
1.一种处理器的状态测试方法，其特征在于，包括：控制处理器将预设的检测数据写入存储设备；控制所述处理器读取写入所述存储设备的所述检测数据；判断读取的所述检测数据与预设的所述检测数据是否相同；若是，则所述处理器的写功能与读功能正常；否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常。2.根据权利要求1所述的状态测试方法，其特征在于，所述控制处理器将预设的检测数据写入存储设备之前，该状态测试方法还包括：若当前预设的检测数据为第一子检测数据，将所述检测数据设置为第二子检测数据；若当前预设的检测数据为第二子检测数据，将所述检测数据设置为第一子检测数据；则所述若是，则所述处理器的写功能与读功能正常之后，该状态测试方法还包括：间隔第一预设时段后返回步骤：若当前预设的检测数据为第一子检测数据，将所述检测数据设置为第二子检测数据；若当前预设的检测数据为第二子检测数据，将所述检测数据设置为第一子检测数据。3.根据权利要求2所述的状态测试方法，其特征在于，所述否则所述处理器的所述写功能和/或所述读功能异常之后，该状态测试方法还包括：将异常次数加1；判断所述异常次数是否大于预设次数；若是，则进行报警；否则间隔第二预设时段后返回步骤：若当前预设的检测数据为第一子检测数据，将所述检测数据设置为第二子检测数据；若当前预设的检测数据为第二子检测数据，将所述检测数据设置为第一子检测数据；所述若是，则所述处理器的写功能与读功能正常具体为：若是，则所述处理器的写功能与读功能正常，并将所述异常次数清零。4.根据权利要求3所述的状态测试方法，其特征在于，所述第二预设时段小于所述第一预设...

【专利技术属性】
技术研发人员：王兴隆，宿燕鸣，
申请(专利权)人：浪潮北京电子信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11