测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:20796851 阅读:55 留言:0更新日期:2019-04-06 10:28
本发明专利技术公开了一种测试存储系统读写性能的方法,根据预先设置的码流路数,创建对应数量的读取线程数及写入线程数,每一个线程对应一路文件;根据预先设置的存储系统读写参数,确定单次读写操作的最大时延阈值;分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值;如果是,则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧;如果否,则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。本申请通过预设的码流路数创建线程数,并根据预设读写参数确定最大时延阈值,用于判断是否存在丢帧,从而实现存储系统的性能测试。此外,本申请还公开了一种测试存储系统读写性能的装置、设备和一种计算机可读存储介质,同样能实现上述技术效果。

Methods, devices, devices and media for testing the read-write performance of storage systems

The invention discloses a method for testing the read and write performance of a storage system, which creates a corresponding number of read threads and write threads according to the pre-set number of bitstream paths, and each thread corresponds to a file; determines the maximum delay threshold of a single read and write operation according to the pre-set storage system read and write parameters; and separately determines whether the current delay of each thread exceeds the said one. Maximum delay threshold; if so, it is determined that there is frame loss in the read-write performance of the storage system; if not, it is determined that there is no frame loss in the read-write performance of the storage system. This application establishes the number of threads through the preset number of bitstream paths, and determines the maximum delay threshold according to the preset read and write parameters, which is used to determine whether there is frame loss, so as to realize the performance test of storage system. In addition, the application also discloses a device, device and a computer readable storage medium for testing the read and write performance of a storage system, which can also achieve the above technical effects.

【技术实现步骤摘要】
测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质
本专利技术涉及计算机
,特别是涉及一种测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及计算机可读存储存储介质。
技术介绍
存储系统大家并不陌生,不同公司针对不同客户应用场景研发的各种各样的存储系统等。而这些存储系统的性能对比,或者说在某种应用场景下哪些存储系统性能更好,或者同种存储系统在不同的接入方式下的性能对比情况,需要使用一些测试工具来进行对比测试。在恒定码率的场景中,比如视频监控场景,前端摄像头一般都是恒定的码率,如4Mb/s等。这些视频录像的要保证数据及时安全的写入到存储系统中,对存储系统是有一定的性能要求的。因此对于这种场景下存储系统的测试是非常有必要的。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及计算机可读存储存储介质,以在恒定码率的场景下对存储系统的读写性能进行测试。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种测试存储系统读写性能的方法,该方法包括:根据预先设置的码流路数,创建对应数量的读取线程数及写入线程数,每一个线程对应一路文件;根据预先设置的存储系统读写参数,确定单次读写操作的最大时延阈值;分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试存储系统读写性能的方法,其特征在于,包括:根据预先设置的码流路数,创建对应数量的读取线程数及写入线程数,每一个线程对应一路文件;根据预先设置的存储系统读写参数,确定单次读写操作的最大时延阈值;分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值;如果是,则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧;如果否,则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。

【技术特征摘要】
1.一种测试存储系统读写性能的方法,其特征在于,包括:根据预先设置的码流路数,创建对应数量的读取线程数及写入线程数,每一个线程对应一路文件;根据预先设置的存储系统读写参数,确定单次读写操作的最大时延阈值;分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值;如果是,则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧;如果否,则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。2.如权利要求1所述的测试存储系统读写性能的方法,其特征在于,所述根据预先设置的码流路数,创建对应数量的读取线程数及写入线程数包括:根据预先设置的码流路数,创建对应数量的线程数;根据预先设置的读写百分比,计算读取路数以及写入路数,创建对应所述读取路数的读取线程数,创建对应所述写入路数的写入线程数。3.如权利要求2所述的测试存储系统读写性能的方法,其特征在于,所述根据预先设置的存储系统读写参数,确定单次读写操作的最大时延阈值包括:根据预先设置的码率,计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小;确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。4.如权利要求3所述的测试存储系统读写性能的方法,其特征在于,当读取倍速值为M,且M≠1时,所述确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的时延为最大时延阈值包括:确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1/Ms。5.如权利要求1至4任一项所述的测试存储系统读写性能的方法,其特征在于,在所述判定所述存储系统的读写性能存在丢帧之后还包括:生成指示所述存储系统的读写性能不满足...

【专利技术属性】
技术研发人员:安祥文
申请(专利权)人:浪潮北京电子信息产业有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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