一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法及装置，属于材料分析测试与计算机算法设计与分析技术领域。本发明专利技术所述方法根据主元素的EDS线扫描数据、微合金元素的熔化热数据，以及环境温度，通过卷积算法，获得主元素的浓度分布与过饱和程度数据。本发明专利技术所述装置包括多个分频器、多个输入振荡器、多个1位DAC、一个求和节点、一个输出振荡器、一个低通滤波器、一个异步数字缓存器，以及一个模拟输出缓存器。本发明专利技术能够在保留EDS线扫描信号的函数特征的前提下，精确地耦合微合金元素对主元素浓度的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法及装置
本专利技术涉及一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法及装置，属于材料分析测试与机器学习

技术介绍
EDS作为一种检测化学成分变化的常见且有效的手段，被广泛应用于分析材料中的元素分布情况。EDS线扫描的相邻扫描点间距低于电子束作用区半径，使得扫描点间信号相互干涉，干扰主元素的EDS线扫描数据，进而影响相关分析测试结果的精确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法，具体为：(1)根据主元素的EDS线扫描原始数据yW％(x)与基于快速傅里叶变换的数据获得基于快速傅里叶变换的未添加微合金元素时的扫描点主元素浓度γW％(x)；其中，x为扫描点位置，yW％(x)为未添加微合金元素时的扫描点主元素浓度，yW％,0为基于快速傅里叶变换的扫描振幅，f为基于快速傅里叶变换的扫描频率；(2)根据微合金元素的熔化热数据ΔfusH、环境温度T、扩散方程φ(χ)＝yW％,0exp(αχ)、yW％,0∝ΔfusH，以及获得微合金元素的卷积因子φ(χ)、微合金元素的卷积因子跨度χ0本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法，其特征在于：(1)根据主元素的EDS线扫描原始数据yW％(x)与基于快速傅里叶变换的数据

【技术特征摘要】
1.一种基于卷积网络耦合微合金元素对主元素浓度影响的方法，其特征在于：(1)根据主元素的EDS线扫描原始数据yW％(x)与基于快速傅里叶变换的数据k∈N*，获得基于快速傅里叶变换的未添加微合金元素时的扫描点主元素浓度γW％(x)；其中，x为扫描点位置，yW％(x)为未添加微合金元素时的扫描点主元素浓度，yW％,0为基于快速傅里叶变换的扫描振幅，f为基于快速傅里叶变换的扫描频率；(2)根据微合金元素的熔化热数据ΔfusH、环境温度T、扩散方程φ(χ)＝yW％,0exp(αχ)、yW％,0∝ΔfusH，以及获得微合金元素的卷积因子φ(χ)、微合金元素的卷积因子跨度χ0；(3)根据卷积算法获得添加微合金元素时的扫描点主元素浓度YW％(x)；同时，根据微合金元素的卷积因子跨度χ0与基于快速傅里叶变换的扫描周期跨度X之间的关系，将基于快速傅里叶变换的未添加微合金元素时的扫描点主元素浓度γW％(x)与添加微合金元素时的扫描点主元素浓度YW％(x)进行对比，确定耦合微合金元素对主要元素浓度的影响：①若χ0∈(nX,nX+X+),n∈N，则YW％(x)的值域最小，振幅最大，γW％(x)与YW％(x)之间的相位差为零，主元素浓度未超过饱和值，无法由浓度高处向浓度低处扩散，相邻扫描点之间的浓度位置不发生偏移，降低成分偏析程度仅通过添加微合金元素挤走主元素途径实现，YW％(x)随γW％(x)同步变化，持续震荡；X为基于快速傅里叶变换的扫描周期跨度，X+为扫描周期增跨度，X-为扫描周期减跨度；②若χ0∈(nX+X+,(n+1)X),n∈N，则YW％(x)的值域适中，振幅适中，γW％(x)与YW％(x)之间的相位差高于零，主元素浓度已超过饱和值，由浓度高处向浓度低处扩散，相邻扫描点之间的浓度位置发生偏移，降低成分偏析程度通过添加微合金元素挤走主元素与大量过饱和...

【专利技术属性】
技术研发人员：李祖来，张哲轩，山泉，蒋业华，
申请(专利权)人：昆明理工大学，
类型：发明
国别省市：云南,53