一种高温修正光纤光栅折射率装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种高温修正光纤光栅折射率装置，包括光纤光栅、光纤光栅检测模块、高温恒温箱、PC端、光纤夹持器、送风装置、光纤光栅光路、准分子激光器；光纤光栅通过高温胶布固定放置在高温恒温箱中，光纤光栅一端延伸出高温恒温箱与光纤光栅检测模块相连，光纤光栅检测模块与PC端通讯；光纤光栅检测模块还包括光分路模块、采集模块、扫频激光器；光分路模块分别与光纤光栅和扫频激光器相连，采集模块与PC端通讯；光纤夹持器设置有多个，多个光纤夹持器固定光纤光栅两端；送风装置与PC端相连并与下方光纤光栅平行设置；准分子激光器分别与PC端和光纤光栅光路相连，光纤光栅光路与光纤光栅相连。

【技术实现步骤摘要】
一种高温修正光纤光栅折射率装置
本技术涉及纤光栅的制作
，尤其涉及一种高温修正光纤光栅折射率装置。
技术介绍
光纤光栅是光纤专利技术以来半个世纪中发展最为重要的光子器件，其具有的灵敏度高、体积小，重量轻，抗干扰性高等优点，在光纤传感领域中得到广泛的应用。在实际光纤光栅的制作工艺中，光纤光栅的反射率会根据准分子激光器照射时间以及能量而不断上升，但是目前没有可以降低反射率对光纤光栅刻写的可逆性装置。使得制作完成褪火处理后的光纤光栅不能简易的对其波形进行处理。一般通过870度超高温或者紫外线照射的方法对刻写的光纤光栅进行褪火处理。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可以简易高温修正制作的光纤光栅折射率过高的装置。本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种高温修正光纤光栅折射率装置，包括光纤光栅、光纤光栅检测模块、高温恒温箱、PC端、光纤夹持器、送风装置、光纤光栅光路、准分子激光器；所述光纤光栅通过高温胶布固定放置在所述高温恒温箱中，所述光纤光栅一端延伸出所述高温恒温箱与所述光纤光栅检测模块相连，所述光纤光栅检测模块与所述PC端通讯；所述光纤光栅检测模块还包括光分路模块、采集模块、扫频激光器；所述光分路模块分别与所述光纤光栅和所述扫频激光器相连，所述采集模块与所述PC端通讯；所述光纤夹持器设置有多个，多个光纤夹持器固定所述光纤光栅两端；所述送风装置与所述PC端相连并与下方所述光纤光栅平行设置；所述准分子激光器分别与PC端和光纤光栅光路相连，所述光纤光栅光路与所述光纤光栅相连。所述采集模块用于实时检测光纤光栅反射率使用，将获取的反射率实时传送至PC端。所述高温恒温箱对放置的所述光纤光栅进行修正，通过高温恒温箱修正所述光纤光栅中的的氢分子立即与锗发生反应形成Ge-OH键和Ge-H键，实现高温恒温箱修正所述光纤光栅折射率，达到降低光纤光栅折射率的目的。所述高温恒温箱的温度为200℃～250℃、时间为1s～30s。所述高温恒温箱进行修正光纤光栅折射率不大于-3DB。采用上述方案的有益效果是：提供了一种针对制作完成的光纤光栅反射率过高温修正的装置，利用高温恒温箱的温度调节降低光纤光栅刻写过高的反射率，采用光纤光栅检测模块确定光纤光栅折射率的实时变化情况，保证光纤光栅的质量的同时降低光纤光栅修正的成本。附图说明图1为本技术原理图；图2为本技术结构示意图。附图中，各标号所代表的部件列表如下：1、光纤光栅，2、光纤光栅检测模块，21、光分路模块，22、采集模块，23、扫频激光器，3、高温恒温箱，4、PC端，5、光纤夹持器，6、送风装置，7、光纤光栅光路，8、准分子激光器。具体实施方式以下结合附图对本技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本技术，并非用于限定本技术的范围。如图1和图2所示，一种高温修正光纤光栅折射率装置，包括光纤光栅1、光纤光栅检测模块2、高温恒温箱3、PC端4、光纤夹持器5、送风装置6、光纤光栅光路7、准分子激光器8；光纤光栅1通过高温胶布固定放置在高温恒温箱3中，光纤光栅1一端延伸出高温恒温箱3与光纤光栅检测模块3相连，光纤光栅检测模块3与PC端通讯4；光纤光栅检测模块2还包括光分路模块21、采集模块22、扫频激光器23；所述光分路模块21分别与所述光纤光栅1和所述扫频激光器23相连，所述采集模块22与所述PC端通讯4；光纤夹持器5设置有多个，多个光纤夹持器5固定所述光纤光栅1两端；送风装置6与PC端4相连并与下方光纤光栅1平行设置；准分子激光器8分别与PC端4和光纤光栅光路7相连，光纤光栅光路7与光纤光栅1相连。采集模块21用于实时检测光纤光栅1反射率使用，将获取的反射率实时传送至PC端4。高温恒温箱3对放置的光纤光栅1进行修正，通过高温恒温箱3修正光纤光栅1中的的氢分子立即与锗发生反应形成Ge-OH键和Ge-H键，实现高温恒温箱3修正光纤光栅1折射率，达到降低光纤光栅1折射率的目的。具体地，如图1所示，光纤光栅1为已刻写制作好需修正光纤光栅1折射率，将光纤光栅1用高温胶布固定后放置在高温恒温箱3中。通过光纤光栅检测模块2实时检测高温恒温箱3中的光纤光栅1的反射率，将检测到的反射率传送至PC端4。高温恒温箱3修正时设置的温度为200℃～250℃、时间为1s～30s，对光纤光栅1折射率不大于-3DB的进行修正，如果温度过高或者时间过长都会使光纤产生损伤，光纤光栅1的机械强度变弱，光纤光栅1变脆。通过高温恒温箱3修正光纤光栅1中的的氢分子立即与锗发生反应形成Ge-OH键和Ge-H键，实现高温恒温箱3修正光纤光栅折射率降低光纤光栅1折射率的目的，具体发生的反应如下：PC端4根据光纤光栅检测模块2实时计算光纤光栅1折射率，以便及时调整控制高温恒温箱3的温度及持续时间。高温恒温箱3通过与PC端4连接通讯，实时检测刻写不合格的光纤光栅1是否通过折射率的修正后使得光纤光栅1折射率合格。具体地，如图2所示，还包括光纤光栅1与光纤光栅检测模块2相连，光纤光栅检测模块2中的光分路模块21与扫频激光器23相连，光分路模块21分别与采集模块22和光纤光栅1相连。PC端4与光纤光栅检测模块2通讯在光纤光栅1需修正时，通过送风装置6与至少两个光纤夹持器5，将需修正的光纤光栅1采用两端使用光纤夹持器5拉直，让光纤光栅1起到受热均匀的作用。送风装置6与光纤光栅1的距离较近时风力较低，把高温恒温箱3设置的温度热量传递到光纤光栅1中，送风装置6根据PC端4检测的光纤光栅1折射率确定光纤光栅1是否需合格，PC端4控制送风装置6的温度及风力参数。根据折射率需要损耗的大小确定送风装置6的温度以及加热时间，因为温度过高或风力过大会因为应力的作用影响光纤光栅1的机械强度。高温恒温箱3修正时温度不大于250℃，对光纤光栅折射率不大于-3DB的进行修正。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高温修正光纤光栅折射率装置，其特征在于：包括光纤光栅(1)、光纤光栅检测模块(2)、高温恒温箱(3)、PC端(4)、光纤夹持器(5)、送风装置(6)、光纤光栅光路(7)、准分子激光器(8)；所述光纤光栅(1)通过高温胶布固定放置在所述高温恒温箱(3)中，所述光纤光栅(1)一端延伸出所述高温恒温箱(3)与所述光纤光栅检测模块(2) 相连，所述光纤光栅检测模块(2) 与所述PC端；所述光纤光栅检测模块(2)还包括光分路模块(21)、采集模块(22)、扫频激光器(23)；所述光分路模块(21)分别与所述光纤光栅(1)和所述扫频激光器(23)相连，所述采集模块(22)与所述PC端(4)；所述光纤夹持器(5)设置有多个，多个光纤夹持器(5)固定所述光纤光栅(1)两端；所述送风装置(6)与所述PC端(4)相连并与下方所述光纤光栅(1)平行设置；所述准分子激光器(8)分别与PC端(4)和光纤光栅光路(7)相连，所述光纤光栅光路(7)与所述光纤光栅(1)相连。

【技术特征摘要】
1.一种高温修正光纤光栅折射率装置，其特征在于：包括光纤光栅(1)、光纤光栅检测模块(2)、高温恒温箱(3)、PC端(4)、光纤夹持器(5)、送风装置(6)、光纤光栅光路(7)、准分子激光器(8)；所述光纤光栅(1)通过高温胶布固定放置在所述高温恒温箱(3)中，所述光纤光栅(1)一端延伸出所述高温恒温箱(3)与所述光纤光栅检测模块(2)相连，所述光纤光栅检测模块(2)与所述PC端；所述光纤光栅检测模块(2)还包括光分路模块(21)、采集模块(22)、扫频激光器(23)；所述光分路模块(21)分别与所述光纤光栅(1)和所述扫频激光器(23)相连，所述采集模块(22)与所述PC端(4)；所述光纤夹持器(5)设置有多个，多个光纤夹持器(5)固定所述光纤光栅(1)两端；所述送风装置(6)与所述PC端(4)相连并与下方所述光纤光栅(1)平行设置；所述准分子激光器(8)分别与PC端(4)和光纤光栅光路...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢建毫，刘东昌，梁嘉裕，
申请(专利权)人：深圳伊讯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44