基于多扇区的存储器数据校验方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:20724280 阅读:42 留言:0更新日期:2019-03-30 17:33
本发明专利技术公开了基于多扇区的存储器数据校验方法、装置、设备及介质,本发明专利技术只采用了一个存储器,并对存储器的存储空间进行分扇区处理,将相同的数据同时存储至各扇区中,在提取的时候对所有扇区的数据进行读取和对比,当某数据的一致性较好的情况下才会提取该数据,否则不提取。本发明专利技术不仅能够保证所提取数据的准确性,而且还大大简化了电路结构,降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】
基于多扇区的存储器数据校验方法、装置、设备及介质
本专利技术涉及数据校验领域,特别是基于多扇区的存储器数据校验方法、装置、设备及介质。
技术介绍
目前,对于现有的数据存储和校对,通常有以下两种方式,第一种是通过一个单独的存储器进行存储,在提取时直接从存储器中提取出已存储的数据进行使用,但是由于存储器会存在数据丢失和损坏等情况,因此会导致提取的数据出错,数据不准确;第二种是通过多个独立的存储器对相同的数据进行存储,在提取时将多个存储器中的数据进行校对,以占大多数的相同数据作为最准确的数据进行使用,但是该方式会采用多个存储器,结构复杂,成本较高。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术的目的在于提供基于多扇区的存储器数据校验方法、装置、设备及介质,不仅能够保证所提取数据的准确性,而且还大大简化了电路结构,降低了生产成本。本专利技术解决其问题所采用的技术方案是:本专利技术的第一方面,提供了一种基于多扇区的存储器数据校验方法,包括以下步骤:将存储器的存储空间分割为n个扇区,其中n≥2;获取数据,并将相同的数据同时存至所述存储器中的所有扇区中;接收数据提取指令,将所述存储器中的所有扇区中的数据进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于多扇区的存储器数据校验方法,其特征在于,包括以下步骤:将存储器的存储空间分割为n个扇区,其中n≥2;获取数据,并将相同的数据同时存至所述存储器中的所有扇区中;接收数据提取指令,将所述存储器中的所有扇区中的数据进行读取并进行对比;当n为奇数时,判断所读取的所有数据中存储数据一致的数量是否大于等于

【技术特征摘要】
1.一种基于多扇区的存储器数据校验方法,其特征在于,包括以下步骤:将存储器的存储空间分割为n个扇区,其中n≥2;获取数据,并将相同的数据同时存至所述存储器中的所有扇区中;接收数据提取指令,将所述存储器中的所有扇区中的数据进行读取并进行对比;当n为奇数时,判断所读取的所有数据中存储数据一致的数量是否大于等于当数据一致的数量大于等于则提取该数据,否则不提取数据,并提示数据出错;当n为偶数时,判断所读取的所有数据中存储数据一致的数量是否大于等于当数据一致的数量大于等于则提取该数据,否则不提取数据,并提示数据出错。2.根据权利要求1所述的一种基于多扇区的存储器数据校验方法,其特征在于:所述n=3。3.根据权利要求1所述的一种基于多扇区的存储器数据校验方法,其特征在于:所述存储器为eeprom。4.一种基于多扇区的存储器数据校验装置,其特征在于,包括:分割装置,用于将存储器的存储空间分割为n个扇区,其中n≥2;数据获取及存储装置,用于获取数据,并将相同的数据同时存...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴永慎
申请(专利权)人:江门市兰格电子有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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