【技术实现步骤摘要】
校验数据生成方法及固态硬盘
本专利技术涉及固态硬盘
，具体而言，涉及一种校验数据生成方法及固态硬盘。
技术介绍
当前大容量低成本的三维堆叠的三层存储单元(3DTrinary-LevelCell，3DTLC)和三维堆叠的四层存储单元(3DQuad-LevelCell，3DQLC)NAND闪存的使用越来越普遍，然而由于电压存储状态变多，每种状态分布范围变小，随之带来的错误率增高，另外，NAND闪存在出厂时就存在某些块(block)的存储单元(cell)被击穿不可用的问题，这些问题对NAND的固态硬盘(SolidStateDrives，SSD)的控制器提出了较高要求，现有技术使用独立冗余磁盘阵列(RedundantArrayofIndependentDisks，RAID)进行纠错，由于RAID硬件模块需要大量的内存资源做校验运算，而SSD盘的控制器由于成本和面积的限制，导致其带有的内存资源极其有限，但是，现有的RAID对每个RAID条带做校验运算时需要至少两份内存资源，因此内存资源的消耗比较大，有限的内存资源很容易成为SSD盘性能瓶颈，降低了SSD盘的性能。专利技...
【技术保护点】
1.一种校验数据生成方法，其特征在于，应用于固态硬盘，所述固态硬盘包括多个依次编号的die，所述多个die包括多个数据die，每个die包括多个依次编号的plane，所述方法包括：对起始编号的数据die中多个plane做校验运算，得到第一校验数据；将所述第一校验数据与和所述起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，得到第二校验数据；将所述第二校验数据与和所述当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，直到完成所述多个数据die的校验运算，得到校验结果。
【技术特征摘要】
1.一种校验数据生成方法，其特征在于，应用于固态硬盘，所述固态硬盘包括多个依次编号的die，所述多个die包括多个数据die，每个die包括多个依次编号的plane，所述方法包括：对起始编号的数据die中多个plane做校验运算，得到第一校验数据；将所述第一校验数据与和所述起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，得到第二校验数据；将所述第二校验数据与和所述当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，直到完成所述多个数据die的校验运算，得到校验结果。2.如权利要求1所述的校验数据生成方法，其特征在于，所述对起始编号的数据die中多个plane做校验运算，得到第一校验数据的步骤，包括：将所述起始编号的数据die中起始两个plane做校验运算，得到起始校验数据；将所述起始校验数据与所述起始编号的数据die中其余plane依次迭代做校验运算，得到第一校验数据。3.如权利要求1所述的校验数据生成方法，其特征在于，所述将所述第一校验数据与和所述起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，得到第二校验数据的步骤，包括：将所述起始编号连续的当前编号的数据die中的第一个plane与第一校验数据做校验运算，得到当前校验数据；将所述当前校验数据与所述起始编号连续的当前编号的数据die中的其余plane依次迭代做校验运算，得到第二校验数据。4.如权利要求1所述的校验数据生成方法，其特征在于，所述多个die包括一个校验die，所述得到校验结果的步骤之后，所述方法还包括：将所述校验结果写入至所述校验die中的第一个plane；将写入所述校验die中的第一个plane中的校验结果拷贝至所述校验die中的其余plane。5.如权利要求1所述的校验数据生成方法，其特征在于，每个plane包括多个依次按序排列的block，多个die上字线相同的block组成superblock，一个或多个superblock组成一个physicalblock，所述方法还包括：基于写数据的写操作请求获取一个待擦除的physicalblock；对所述待擦除的physicalblock中的block进行擦除，并依据擦除结果确定出第一待写入块和第二待写入块，其中，所述第一待写入块是所述待擦除physicalblock中第一个擦除结果成功的block，所述第二待写入块是所述待擦除physicalblock中最后一个擦除结果成功的block；当将所述写数据写入所述第一待写入...
【专利技术属性】
技术研发人员：任艳伟，
申请(专利权)人：湖南国科微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。