一种光纤熔接机的放电校正方法技术

技术编号:20679124 阅读:412 留言:0更新日期:2019-03-27 18:19
本发明专利技术公开了一种光纤熔接机的放电校正方法,具体涉及光纤熔接机技术领域。该光纤熔接机的放电校正方法,将两根光纤放入熔接机中,设定一个放电参数a(一般为正常熔接参数的一半),然后推进机构把光纤推进到放电熔接的位置,只放电不推进、不对接,通过熔接机自带的显微系统直接观察两个光纤端面熔融程度。放电过程会将光纤两个端面烧成球状,两个球面顶点之间的距离间接地反映熔接时放电电弧所释放能量的强度大小,最后根据融面间隙大小来调整放电参数,根据光纤熔融后的融面间隙测试结果来计算放电参数是否合适。在整个放电校正过程中,对光纤端面切割状况不做要求,不需要多次切割光纤。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤熔接机的放电校正方法
本专利技术涉及光纤熔接机
,具体涉及一种光纤熔接机的放电校正方法。
技术介绍
光纤熔接机用于光纤的接续和热缩保护,是光纤生产、施工和维护的必备工具,市场容量巨大。其一般工作原理是利用高压电弧将两根光纤端面融化的同时利用高精度运动机构缓慢推进使两根光纤融合成一根,以实现光纤模场的良好耦合。良好的放电电弧,可以保证较低的熔接损耗。在光纤熔接机的运输或使用过程中,不可避免地会受到剧烈的振动和冲击,这会导致熔接机的放电电弧产生一定的偏移;另外大气环境中温度、湿度、气压,总是在不断变化,这使得放电的电弧温度也在不断变化;还有电极的老化和光纤碎屑粘接也会造成的放电强度的变化。以上几种情况都会造成放电强度偏离理想值,造成较高的熔接损耗,影响了接续质量。因此,如何通过简单的方法进行放电校正把光纤熔接机放电系统调整到最佳的工作状态是一个亟待解决的难题。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述不足,提出了一种通过简单的进行放电校正把光纤熔接机放电系统调整到最佳的工作状态的光纤熔接机的放电校正方法。本专利技术具体采用如下技术方案:一种光纤熔接机的放电校正方法,将两根光纤放入熔接机中,设定一个放电参数a,具体包括以下步骤:1)通过熔接机的两路显微镜把光纤成像在CMOS传感器上,两路传感器上的光纤图像经过FPGA处理、拼接后通过CPU送往LCD显示,CPU对图像信号进行分析处理,产生控制信号通过驱动电路驱动两个轴向推进马达使两根光纤推进到正常熔接的位置完成端面间隙设置;在设定的放电参数下,放电将光纤两个端面烧成球状;2)测量两个光纤之间的融面间隙△Y;3)计算两个光纤之间的融面间隙△Y是否满足要求,如果满足要求,则放电校正成功;否则根据融面间隙△Y的大小来调整当前放电参数a的大小;4)重复步骤1、步骤2、步骤3,直到融面间隙△Y满足理想值P,此时放电校正成功。优选地,如果△Y小于理想值P,逐步加大放电参数a;如果△Y大于理想值P,则减小放电参数a。优选地,在放电校正时首先设置较低的放电电流,以使熔融后的光纤端面变形较小,然后逐渐加大放电电流值,直到测算的融面间隙值符合要求。本专利技术具有如下有益效果:该方法根据光纤熔融后的融面间隙测试结果来计算放电参数是否合适,在整个放电校正过程中,对光纤端面切割状况不做要求,不需要多次切割光纤;该放电校正方法是在放电校正时首先设置较低的放电电流,以保证熔融后的光纤端面变形较小,然后逐步加大放电电流值,直到测算的融面间隙值符合要求。附图说明图1为光纤熔接机的放电校正方法中融面间隙示意图;图2为放电校正流程图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术的具体实施方式做进一步说明:如图1和图2所示,一种光纤熔接机的放电校正方法,将两根光纤放入熔接机中,设定一个放电参数a(一般为正常熔接参数的一半),然后推进机构把光纤推进到放电熔接的位置,只放电不推进、不对接,通过熔接机自带的显微系统直接观察两个光纤端面熔融程度。放电过程会将光纤两个端面烧成球状,两个球面顶点之间的距离(此距离被称为融面间隙,如图1)间接地反映熔接时放电电弧所释放能量的强度大小,最后根据融面间隙大小来调整放电参数,实现对放电强度的校正具体包括以下步骤:1)通过熔接机的两路显微镜把光纤成像在CMOS传感器上,两路传感器上的光纤图像经过FPGA处理、拼接后通过CPU送往LCD显示,CPU对图像信号进行分析处理,产生控制信号通过驱动电路驱动两个轴向推进马达使两根光纤推进到正常熔接的位置完成端面间隙设置;在设定的放电参数下,放电将光纤两个端面烧成球状;2)测量两个光纤之间的融面间隙△Y;3)计算两个光纤之间的融面间隙△Y是否满足要求,如果满足要求,则放电校正成功;否则根据融面间隙△Y的大小来调整当前放电参数a的大小;如果△Y小于理想值P,逐步加大放电参数a;如果△Y大于理想值P,则减小放电参数a。4)重复步骤1、步骤2、步骤3,直到融面间隙△Y满足理想值P,此时放电校正成功。在放电校正时首先设置较低的放电电流,以使熔融后的光纤端面变形较小,然后逐渐加大放电电流值,直到测算的融面间隙值符合要求。当然,上述说明并非是对本专利技术的限制,本专利技术也并不仅限于上述举例,本
的技术人员在本专利技术的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换,也应属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种光纤熔接机的放电校正方法,其特征在于,将两根光纤放入熔接机中,设定一个放电参数a,具体包括以下步骤:1)通过熔接机的两路显微镜把光纤成像在CMOS传感器上,两路传感器上的光纤图像经过FPGA处理、拼接后通过CPU送往LCD显示,CPU对图像信号进行分析处理,产生控制信号通过驱动电路驱动两个轴向推进马达使两根光纤推进到正常熔接的位置完成端面间隙设置;在设定的放电参数下,放电将光纤两个端面烧成球状;2)测量两个光纤之间的融面间隙△Y;3)计算两个光纤之间的融面间隙△Y是否满足要求,如果满足要求,则放电校正成功;否则根据融面间隙△Y的大小来调整当前放电参数a的大小;4)重复步骤1、步骤2、步骤3,直到融面间隙△Y满足理想值P,此时放电校正成功。

【技术特征摘要】
1.一种光纤熔接机的放电校正方法,其特征在于,将两根光纤放入熔接机中,设定一个放电参数a,具体包括以下步骤:1)通过熔接机的两路显微镜把光纤成像在CMOS传感器上,两路传感器上的光纤图像经过FPGA处理、拼接后通过CPU送往LCD显示,CPU对图像信号进行分析处理,产生控制信号通过驱动电路驱动两个轴向推进马达使两根光纤推进到正常熔接的位置完成端面间隙设置;在设定的放电参数下,放电将光纤两个端面烧成球状;2)测量两个光纤之间的融面间隙△Y;3)计算两个光纤之间的融面间隙△Y是否满足要求,如...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋乃波杨小光曹雨何春张帝房乐楠
申请(专利权)人:中电科仪器仪表安徽有限公司
类型:发明
国别省市:安徽,34

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