基于双因素算法的三相电掉电检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法，包括步骤：S1：获取按设定比例叠加后的三相电电压波形数据；S2：将步骤S1中所获取到的数据输入到CPU中，采用双因素算法检测出缺相信息，即，将获取到的三相电电压波形数据中的最大值、最小值及二者斜率作比较对比，并输出比较对比结果，从而高速地检测出缺相。本发明专利技术解决了取样相位时间和A/D测量误差对缺相检测的影响，不仅提高了检测时间，而且增强了缺相检测信息的可靠性，还能指示缺相的相序，适应了远程测控，降低了缺相检测信息的成本。

【技术实现步骤摘要】
基于双因素算法的三相电掉电检测方法
本专利技术涉及三相电检测
，更为具体地，涉及一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法。
技术介绍
在交流三相电系统中，某一相的掉电会对用电设备会产生极大的损害。现有的缺相检测设备容易受到取样相位时间和A/D单元测量误差的影响，一般的最快也需3-5个市电周期，约大于60-100毫秒，不仅造成缺相检测时延较大，且缺相检测信息不可靠，还不能指示缺相的相序，不适应远程测控，获取缺相检测信息的成本高。在三相电在某相掉电时，急需在掉电瞬间发出控制信号，切断设备或启动备用电源，并指示出断相相序，以备修复。目前，缺相检测设备存在误差、检测信息不可靠、检测时延较大、不适应远程测控、成本高等问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法，解决了取样相位时间和A/D测量误差对缺相检测的影响，不仅提高了检测时间，而且增强了缺相检测信息的可靠性，还能指示缺相的相序，适应了远程测控，降低了缺相检测信息的成本。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法，包括：S1：获取按设定比例叠加后的三相电电压波形数据；S2：将步骤S1中所获取到的数据输入到CPU中，采用双因素算法检测出缺相信息，即，将获取到的三相电电压波形数据中的最大值、最小值及二者斜率作比较对比，并输出比较对比结果，从而高速地检测出缺相。进一步地，在步骤S1中，包括：S10：通过无线和/或无线通信单元连接云平台，从而远程感知获取到所述的三相电电压波形数据。进一步地，在步骤S1中，包括设置有将三相电电压按比例叠加的电路；所述电路包括电流比例叠加电阻网络和线性光偶，电流比例叠加电阻网络与线性光耦连接；电流比例叠加电阻网络从电源处获取正向电流，且通过调节电流比例叠加电阻网络的电阻，使正向电流按设定的比例叠加，然后输入到线性光耦，线性光偶输出按比例叠加后的电压波形。进一步地，在步骤S1中，设定比例设置为2.5:5:10，且满度值设为10；根据该设定比例，获取不同相位角度下的相位信息，如下表：其中，A，B和C分别代表三相电中的A相，B相，C相。进一步地，在步骤S2中，通过A/D模块采样，并将三相市电电压叠加波形数据输入到CPU中。进一步地，在步骤S2中，CPU每隔一个T1周期监测一次A/D值，在一个T2周期内，即可检测出缺相及所缺相位，如下表：相位角度90120150180210240270300330360306090叠加比例A0.866A0.5(A+B)0.866BB0.866B0.5(B+C)0.866CC0.866C0.5(C+A)0.866AA平衡2.52.1653.754.3354.337.58.66108.666.1252.1652.5缺A002.54.3354.337.58.66108.66500缺B2.52.1651.2500058.66108.666.1252.1652.5缺C2.52.1653.754.3354.332.50001.252.1652.5缺AB00000058.66108.66500缺BC2.52.1651.2500000001.252.1652.5缺CA002.54.3354.332.5000000。进一步地，在步骤S2中，包括设置有用于呈现的第一缺相检测曲线，该曲线在相位角度为60度时，当连出现4个0，不对称波型为缺一相，最大值为5，前陡后缓缺C相，陡缓斜度比率为1：2。进一步地，在步骤S2中，包括设置有用于呈现的第二缺相检测曲线，该曲线在相位角度为60度时，当连出现4个0，不对称波型为缺一相，最大值为10，前陡后缓缺B相，陡缓斜度比率为1：2。进一步地，在步骤S2中，包括设置有用于呈现的第三缺相检测曲线，该曲线在相位角度为60度时，当连出现4个0，不对称波型为缺一相，最大值为10，前缓后陡缺A相，陡缓斜度比率为1：2。进一步地，在步骤S2中，包括设置有用于呈现的第四缺相检测曲线，该曲线在相位角度为180度时，当连出现12个0，对称波形为缺二相；最大值为2.5，缺C、B相；最大值为5，缺C、A相；最大值为10，缺A、B项。本专利技术的有益效果是：(1)本专利技术在三相电检测中首次采用双因素算法进行电压波形采样数据地处理，解决了取样相位时间和A/D测量误差对缺相检测的影响，不仅提高了检测时间，而且增强了缺相检测信息的可靠性，还能指示缺相的相序，适应了远程测控，降低了缺相检测信息的成本。(2)本专利技术实现了CPU每0.8毫秒监测一次A/D值，达到的检测时间指标，在20毫秒内，即可检测出缺相及所缺相位，在21毫秒内即可做出反应，相比现有技术中需要3-5个市电周期，时间大于60-100毫秒的指标而言，具有显著的技术进步。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术中缺C相的三相叠加波形第一缺相检测曲线图。图2为本专利技术中缺B相的三相叠加波形第二缺相检测曲线图。图3为本专利技术中缺A相的三相叠加波形第三缺相检测曲线图。图4为本专利技术中缺二相的三相叠加波形第四缺相检测曲线图；其中，左边为缺C、B相，中间为缺C、A相，右边为缺A、B相。图5为本专利技术中的步骤流程示意图。图6为本专利技术中的电路模块结构框图。图7为本专利技术中的三相比例叠加电路的结构图。图8为本专利技术中正常三相叠加电压检测输出波形示意图。具体实施方式下面结合附图进一步详细描述本专利技术的技术方案，但本专利技术的保护范围不局限于以下所述。本说明书中公开的所有特征，或隐含公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。下面将详细描述本专利技术的具体实施例，应当注意，这里描述的实施例只用于举例说明，并不用于限制本专利技术。在以下描述中，为了提供对本专利技术的透彻理解，阐述了大量特定细节。然而，对于本领域普通技术人员显而易见的是：不必采用这些特定细节来实行本专利技术。在其他实例中，为了避免混淆本专利技术，未具体描述公知的电路，软件或方法。下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在对实施例进行描述之前，需要对一些必要的术语进行解释。例如：若本申请中出现使用“第一”、“第二”等术语来描述各种元件，但是这些元件不应当由这些术语所限制。这些术语仅用来区分一个元件和另一个元件。因此，下文所讨论的“第一”元件也可以被称为“第二”元件而不偏离本专利技术的教导。应当理解的是，若提及一元件“连接”或者“联接”到另一元件时，其可以直接地连接或直接地联接到另一元件或者也可以存在中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法，其特征在于，包括：S1：获取按设定比例叠加后的三相电电压波形数据；S2：将步骤S1中所获取到的数据输入到CPU中，采用双因素算法检测出缺相信息，即，将获取到的三相电电压波形数据中的最大值、最小值及二者斜率作比较对比，并输出比较对比结果，从而高速地检测出缺相。

【技术特征摘要】
1.一种基于双因素算法的三相电掉电检测方法，其特征在于，包括：S1：获取按设定比例叠加后的三相电电压波形数据；S2：将步骤S1中所获取到的数据输入到CPU中，采用双因素算法检测出缺相信息，即，将获取到的三相电电压波形数据中的最大值、最小值及二者斜率作比较对比，并输出比较对比结果，从而高速地检测出缺相。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S1中，包括：S10：通过无线和/或无线通信单元连接云平台，从而远程感知获取到所述的三相电电压波形数据。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在步骤S1中，包括设置有将三相电电压按比例叠加的电路；所述电路包括电流比例叠加电阻网络和线性光偶，电流比例叠加电阻网络与线性光耦连接；电流比例叠加电阻网络从电源处获取正向电流，且通过调节电流比例叠加电阻网络的电阻，使正向电流按设定的比例叠加，然后输入到线性光耦，线性光偶输出按比例叠加后的电压波形。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在步骤S1中，设定比例设置为2.5:5:10，且满度值设为10；根据该设定比例，获取不同相位角度下的相位信息，如下表：其中，A，B和C分别代表三相电中的A相，B相，C相。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在步骤S2中，通过A/D模块采样，并将三相市电电压叠加波形数据输入到CPU中。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在步骤S2中，CPU每隔一个T1周期监测一次A/D值，在一个T2周期内，即可检测出缺相及所缺相位，如下表：相位角度90120150180210240270300330360306090叠加比例A0.866A0.5(A+B)0.866BB0.866B0.5...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜育宽，
申请(专利权)人：杜育宽，
类型：发明
国别省市：海南,46