【技术实现步骤摘要】
一种可调节的探针清洗装置
本技术涉及一种可调节的探针清洗装置。
技术介绍
IC测试是集成电路的测试，就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。其中探针是测试夹具中最重要的组成部分，由于在测试过程中，探针使用频率最高，经过多次使用后、摩擦之后，针头表面难免产生污垢，或者氧化变黑形成氧化层，从而影响测试效果，导致测试结果不准确甚至错误。目前大多数测试夹具中的探针在使用一段时间之后，通过更换新的探针已完成新的测试目的，但是被报废的探针远没有达到使用寿命，从而大大增加了夹具维护成本。基于上述事实，清洗探针是提高使用寿命的常用方法，但是目前的清洗方式，主要是采用人工方式，将探针从测试夹具上取下来之后，需要操作员逐一清洗，费时费力，操作繁琐，严重影响测试进度；并且在清洗过程中清洗液容易溅射到探针的另一端，有可能导致探针二次损伤，最终在测试时导致测试结果不准确。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种结构简单、操作简单、易于维护、节省人力成本、提高效率且清洗过程不会对探针造成损伤的可调节的探针清洗装置。本技术所采用的技术方案是：本技术包括清洗槽...
【技术保护点】
1.一种可调节的探针清洗装置，其特征在于：它包括清洗槽（1）、设置在所述清洗槽（1）底部的调节支架（2）和设置在所述调节支架（2）上部的托盘（3），所述托盘（3）上适配设置有若干载针板模组，所述载针板模组包括载针板（4）和盖针板（5），所述载针板（4）上设置有若干探针放置通槽。
【技术特征摘要】
1.一种可调节的探针清洗装置，其特征在于：它包括清洗槽（1）、设置在所述清洗槽（1）底部的调节支架（2）和设置在所述调节支架（2）上部的托盘（3），所述托盘（3）上适配设置有若干载针板模组，所述载针板模组包括载针板（4）和盖针板（5），所述载针板（4）上设置有若干探针放置通槽。2.根据权利要求1所述的一种可调节的探针清洗装置，其特征在于：所述载针板（4）沿长度方向的两侧均通过第一锁紧螺丝（6）与所述托盘（3）相连接，所述载针板（4）的中间部分悬空。3.根据权利要求1所述的一种可调节的探针清洗装置，其特征在于：所述盖针板（5）上设置有若干与所述探针放置通槽一一对应的缩口槽，所述缩口槽与探针（7）的管身相适配，所述盖针板（5）沿长度方向的两侧均设置有与所述载针板（4）相配合的第二锁紧螺丝（8）。4.根据权利要求1所述的一种可调节的探针清洗装置，其特征在于：所述载针板（4）的对角位置处设置有圆柱销（9），所述盖针板（5）上设置有与所述圆柱销（9）相适配的销孔。5.根据权利要求1所述的一种可调节的探针清洗装置，其特征在于：所述调节支架（2）包括底座（10）和竖向设置在所述底座（1...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱彦飞，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44
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