The invention relates to a system and a method for solving the problem of single event flipping and locking of video ADC chip. The self-repair of ADC chip when single event flip or lock-in problem occurs is realized. The system includes CCD detector, FPGA chip, ADC chip, power chip and CAMERALINK interface chip. The function is realized by performing the following steps in the chip: [1] determining the key parameters; [2] refreshing the registers of ADC chip regularly when the system is powered on; [3] first fault diagnosis; [4] first fault processing; [5] ADC chip continues to work. Continue to refresh the registers of ADC chips regularly; [6] second fault diagnosis; [7] second fault processing.
【技术实现步骤摘要】
解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的系统及方法
本专利技术涉及一种解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的系统及方法。
技术介绍
ADC芯片是CCD相机中至关重要的器件之一,担负着将CCD输出的模拟信号转换成数字信号的任务。ADC芯片的工作主要分为采样和量化两个部分。目前,CCD相机使用的ADC芯片的功能越来越多,性能指标越来越高。在使用时往往要配置大量的参数到ADC芯片的寄存器中,这就使得工作在恶劣环境中的ADC芯片容易出现故障,比如发生单粒子效应。单粒子效应是指单个高能粒子穿过微电子器件的灵敏区时造成器件状态的非正常改变的一种辐射效应,主要包括单粒子翻转和单粒子锁定。单粒子翻转是指单粒子入射器件逻辑状态出现翻转的现象。单粒子锁定是指单粒子入射产生瞬态电流导致设备的功能性破坏的现象。ADC芯片发生单粒子翻转或者锁定时会出现故障从而导致无法正常输出图像数据的数字信号。这时,整台相机就会故障,无法正常工作。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中的问题,实现ADC芯片在发生单粒子翻转或者锁定时可以进行故障排除,达到自我修复的目的,本专利技术提供了一种解决视频ADC芯片单粒 ...
【技术保护点】
1.一种解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的系统,其特征在于:包括CCD探测器,FPGA芯片、ADC芯片、电源芯片和CAMERALINK接口芯片;FPGA芯片为CCD探测器、ADC芯片提供驱动信号,并为电源芯片提供使能信号;CCD探测器输出的模拟信号进入ADC芯片进行数模转换变成数字信号,ADC芯片输出的数字信号进入FPGA芯片进行格式整理,FPGA芯片将最终的图像数据通过CAMERALINK接口芯片传输到外部设备上进行显示。
【技术特征摘要】
1.一种解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的系统,其特征在于:包括CCD探测器,FPGA芯片、ADC芯片、电源芯片和CAMERALINK接口芯片;FPGA芯片为CCD探测器、ADC芯片提供驱动信号,并为电源芯片提供使能信号;CCD探测器输出的模拟信号进入ADC芯片进行数模转换变成数字信号,ADC芯片输出的数字信号进入FPGA芯片进行格式整理,FPGA芯片将最终的图像数据通过CAMERALINK接口芯片传输到外部设备上进行显示。2.根据权利要求1所述解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的系统,其特征在于:ADC芯片采用ADDI7004,电源芯片采用MPD23797,FPGA芯片采用XC7A100T,CAMERALINK接口芯片采用DS90CR287。3.一种解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的方法,其特征在于,采用权利要求1所述的解决视频ADC芯片单粒子翻转及锁定问题的系统,并在该系统的FPGA芯片中执行以下步骤:【1】确定关键参数值;所述关键参数包括ADC芯片掉电需要的最小时间T0与上电需要的最小时间T1;ADC芯片的复位时间T2;ADC芯片判断为故障时间阈值T3;两次故障之间的最小间隔时间T4;【2】系统上电,对ADC芯片的寄存器进行定时刷新;同时对ADC芯片输出的行标志字进行检测,计算相邻两个行标志字的间隔T;【3】第一次故障判断情况A1:当T≤T3时,则判断为ADC芯片工作正常,不采取额外的操作;情况B1:当T>T3时,...
【专利技术属性】
技术研发人员:孔亮,陈小来,刘永征,闫鹏,温志刚,魏文鹏,刘文龙,周冠,张昕,
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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