【技术实现步骤摘要】
基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置和方法
本专利技术涉及一种基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置和方法,属于质量检测领域。
技术介绍
电机是一种依据电磁感应定律实现电能转换或传递的一种电磁装置,由转子和定子两部分组成。应用于工业环境下的大型电机的转子部位常设计成特别的槽形,然后将电机铜排裹上一层绝缘膜嵌入槽中,再将端环与铜排焊成一体,形成转子结构。为了控制电机温度,得到良好的散热,作为转子导线的铜排往往需要在中间切削一些孔洞,但同时也产生了毛刺,为电机埋下了很大的隐患。目前在工业应用中多采用图像背景差分的检测装置和方法对电机铜排进行毛刺检测,即利用图像中的局部灰度和梯度变化信息调整不同区域的平滑程度,得到背景图像并将预处理后的图像与其进行差值运算,得到缺陷图像。但算法在整幅图像上运算,并且会无差别地对孔头部位的划痕、磨损等缺陷进行检出,削弱了毛刺检测精度。另外,算法通用性较差,无法有效地对电机铜排各种类型毛刺进行高精度的检出,在对大量电机铜排图像实际检测的过程中,极易发生误检,给现场工作带来较大的麻烦。
技术实现思路
针对上述现有技术,本专利技术提供一种基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置和方法,用以解决上述背景差分技术所存在的问题。一种基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置,包括CCD工业摄像机、图像采集卡、LED光源、电控平移台、精密工作台、置物台、遮光罩、手动控制仪、位置探测器和计算机;所述的位置探测器设置于工件待检测位置,通过产生脉冲信号触发CCD工业摄像机工作;所述的LED光源采用环形结构的低角度漫射照明,设置于CCD工业摄像机下方;CCD工 ...
【技术保护点】
1.一种基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置和方法,其特征在于,包括CCD工业摄像机(3)、图像采集卡(4)、LED光源(2)、电控平移台(1)、精密工作台(7)、置物台(8)、遮光罩(10)、手动控制仪(11)、位置探测器(9)和计算机(5);所述的位置探测器(9)设置于工件待检测位置,通过产生脉冲信号触发CCD工业摄像机(3)工作;所述的LED光源(2)采用环形结构的低角度漫射照明,设置于CCD工业摄像机(3)下方;CCD工业摄像机(3)下方设置有精密工作台(7),将带有孔槽的铜排工件(6)放置于精密工作台(7)的置物台(8)上且通过电控平移台(1)控制置物台(8)的速度和轨迹;图像采集卡(4)和CCD工业摄像机(3)通过尾线相连并与计算机(5)通讯;CCD工业摄像机(3)垂直放置于工件待检测位置正上方,且CCD工业摄像机(3)采用遮光罩(10)屏蔽环境光影响,其镜头视场覆盖于精密工作台(7)的置物台(8)中心,能够一次对2个铜排工件(6)孔槽进行拍摄;所述的计算机(5)将图像采集卡(4)采集到的铜排图像进行分析及算法运算,并通过分类器将电机铜排孔槽中的各种类型毛刺进行捡出:包括 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置和方法,其特征在于,包括CCD工业摄像机(3)、图像采集卡(4)、LED光源(2)、电控平移台(1)、精密工作台(7)、置物台(8)、遮光罩(10)、手动控制仪(11)、位置探测器(9)和计算机(5);所述的位置探测器(9)设置于工件待检测位置,通过产生脉冲信号触发CCD工业摄像机(3)工作;所述的LED光源(2)采用环形结构的低角度漫射照明,设置于CCD工业摄像机(3)下方;CCD工业摄像机(3)下方设置有精密工作台(7),将带有孔槽的铜排工件(6)放置于精密工作台(7)的置物台(8)上且通过电控平移台(1)控制置物台(8)的速度和轨迹;图像采集卡(4)和CCD工业摄像机(3)通过尾线相连并与计算机(5)通讯;CCD工业摄像机(3)垂直放置于工件待检测位置正上方,且CCD工业摄像机(3)采用遮光罩(10)屏蔽环境光影响,其镜头视场覆盖于精密工作台(7)的置物台(8)中心,能够一次对2个铜排工件(6)孔槽进行拍摄;所述的计算机(5)将图像采集卡(4)采集到的铜排图像进行分析及算法运算,并通过分类器将电机铜排孔槽中的各种类型毛刺进行捡出:包括以下步骤:步骤1获得待检测铜排标准图像;步骤2构造铜排图像边缘检测区域;步骤3特征提取和毛刺缺陷判定。2.根据权利要求1所述的基于电机铜排毛刺生长区域的缺陷检测装置和方法,其特征在于,步骤1中,系统LED光源(2)采用环形低角度漫射照明,当铜排工件(6)于精密工作台(7)的置物台(8)上运动至待检测位置,位置探测器(9)响应并触发CCD工业摄像机(3)工作,采集铜排图像传输至计算机(5)中的图像处理模块对其进行预处理,并采用改进的中值滤波方式以3×3的小窗口进行滤波:设立阈值T,以中心画十字得到4个相邻像素,该点像素灰度值与相邻像素灰度值的差为D,当D<T时,G自加1,当a<G<b时,则可确定该像素为边缘点;其中a,b为常数,G表示相邻像素与中心像素灰度相似的个数;若a<G<b,即该点为边缘点时,不进行任何变换,直接将该点像素灰度值f(x,y)输出,否则通过式1滤波后将输出:式中,Sxy表示以点(x,y)为中心,大小为3×3的窗口子图像坐标组,g(s,t)代表领域坐标的像素灰度值,表示该点经中值滤波处理后的灰度值;然后以8连通方式标记图像区域,以面积为阈值找出最大连通区域及其参数tn,构造大小与原图像一致的全黑蒙板,利用tn得到中间留白区域并将所得蒙板与铜排图像进行掩膜运算,再同上,构造与原图像一致的全白蒙板,得到中间留黑区域,将此所得蒙板与掩膜运算的结果进行像素点位求和运算,得到待检测铜排标准图像I_ma...
【专利技术属性】
技术研发人员:范剑英,刘力源,赵首博,
申请(专利权)人:哈尔滨理工大学,
类型:发明
国别省市:黑龙江,23
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