一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法技术

本发明专利技术公开了一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法，包括以下步骤：1)在FPGA的芯片内部划分一部分可编程存储区域，在其中存放参数配置数据，其功能逻辑、参数值、时序接口根据PROM接口要求进行一致化设计；2)在FPGA验证板上，针对PROM对ASIC进行多次参数读取校验验证；3)当完成在FPGA基础上进行的参数配置预验证完成后，将FPGA上划出的可编程存储区域中的参数区烧录至PROM芯片，参数区以外程序区域进行ASIC流片工作。本发明专利技术实现高可靠ASIC芯片参数配置，防止ASIC芯片在空间环境中SRAM单粒子翻转。

【技术实现步骤摘要】
一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法
本专利技术涉及航空航天
，尤其涉及一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法。
技术介绍
随着人类对外太空深入探索，航天电子设备所要面临的辐射环境也愈复杂。对于航天器中的集成电路而言，存储器占据极其重要的地位，存储器的抗辐射性能的高低直接影响航天设备的稳定性。当单个粒子入射电路时，可能会导致存储单元中的数据发生变化，即单粒子翻转。随着工艺尺寸的不断缩减，电路集成度逐步提高，单个粒子对存储器的危害日益严重。传统的加固技术，如：SOI工艺，其成本高且自身寄生的效应对电路带来的危害是不可忽视的，而通过增加冗余存储节点的电路级加固技术需要额外的面积开销，同时电路集成度的提高导致这种设计思想已面临失效。
技术实现思路
为了解决在空间环境中ASIC芯片参数配置部分SRAM单粒子翻转的问题，本专利技术提出了一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法。本专利技术所采用的技术方案是：一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法，包括以下步骤：1)在FPGA的芯片内部划分一部分可编程存储区域，在其中存放参数配置数据，其功能逻辑、参数值、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在FPGA的芯片内部划分一部分可编程存储区域，在其中存放参数配置数据，其功能逻辑、参数值、时序接口根据PROM接口要求进行一致化设计；2)在FPGA验证板上，针对PROM对ASIC进行多次参数读取校验验证；3)当完成在FPGA基础上进行的参数配置预验证完成后，将FPGA上划出的可编程存储区域中的参数区烧录至PROM芯片，参数区以外程序区域进行ASIC流片工作。

【技术特征摘要】
1.一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在FPGA的芯片内部划分一部分可编程存储区域，在其中存放参数配置数据，其功能逻辑、参数值、时序接口根据PROM接口要求进行一致化设计；2)在FPGA验证板上，针对PROM对ASIC进行多次参数读取校验验证；3)当完成在FPGA基础上进行的参数配置预验证完成后，将FPGA上划出的可编程存储区域中的参数区烧录至PROM芯片，参...

【专利技术属性】
技术研发人员：金晔，田宇，王炜，万晓光，屈毅，闵康磊，奚廉承，秦奋，陈龙，罗小成，
申请(专利权)人：上海航天测控通信研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31