【技术实现步骤摘要】
太赫兹时域光谱仪
本专利技术涉及光谱
，特别涉及一种太赫兹时域光谱仪。
技术介绍
太赫兹时域光谱仪可以通过测试待测样品的透射波或者测试待测样品的反射波两种方式来测试待测样品的特性。目前用的比较多的是透射模式，太赫兹波的优点是可以透过很多物质，更好的测试物质的指纹吸收谱。对于反射模式，可以用来测试样品的内部分层结构，对于不均匀的物体，其内部存在分层，会形成不同时延的反射脉冲。对于目前的太赫兹时域光谱仪测试反射波和透射波需要更改光路或者使用三个太赫兹天线，导致太赫兹时域光谱仪比较复杂，使用不便。
技术实现思路
基于此，有必要针对测试反射波和透射波的太赫兹时域光谱仪比较复杂，使用不便的问题，提供一种太赫兹时域光谱仪。一种太赫兹时域光谱仪，包括：激光器，用于产生激光；第一分光镜，用于将所述激光分为泵浦光和探测光；时间延迟设备，设置于所述探测光的光路上，所述时间延迟设备用于调节所述探测光相对于所述泵浦光的时间延迟；第二分光镜，用于将所述探测光分为第一探测光和第二探测光；第一太赫兹天线，用于在所述泵浦光的作用下发射第一太赫兹波，并探测该第一太赫兹波被待测样品所反射的太赫兹波...
【技术保护点】
1.一种太赫兹时域光谱仪，其特征在于，包括：激光器，用于产生激光；第一分光镜，用于将所述激光分为泵浦光和探测光；时间延迟设备，设置于所述探测光的光路上，所述时间延迟设备用于调节所述探测光相对于所述泵浦光的时间延迟；第二分光镜，用于将所述探测光分为第一探测光和第二探测光；第一太赫兹天线，用于在所述泵浦光的作用下发射第一太赫兹波，并探测该第一太赫兹波被待测样品所反射的太赫兹波和所述第一探测光；第二太赫兹天线，用于探测所述第一太赫兹波透射所述待测样品后的太赫兹波和所述第二探测光；第一处理模块，用于根据所述第一太赫兹天线测得的光谱信号对所述待测样品进行反射信号分析；以及第二处理模块...
【技术特征摘要】
1.一种太赫兹时域光谱仪，其特征在于，包括：激光器，用于产生激光；第一分光镜，用于将所述激光分为泵浦光和探测光；时间延迟设备，设置于所述探测光的光路上，所述时间延迟设备用于调节所述探测光相对于所述泵浦光的时间延迟；第二分光镜，用于将所述探测光分为第一探测光和第二探测光；第一太赫兹天线，用于在所述泵浦光的作用下发射第一太赫兹波，并探测该第一太赫兹波被待测样品所反射的太赫兹波和所述第一探测光；第二太赫兹天线，用于探测所述第一太赫兹波透射所述待测样品后的太赫兹波和所述第二探测光；第一处理模块，用于根据所述第一太赫兹天线测得的光谱信号对所述待测样品进行反射信号分析；以及第二处理模块，用于根据所述第二太赫兹天线测得的光谱信号对所述待测样品进行透射信号分析。2.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述第二分光镜还将所述泵浦光分为第一泵浦光和第二泵浦光；所述第一太赫兹天线设置于所述第一泵浦光的光路上；所述第二太赫兹天线设置于所述第二泵浦光的光路上；所述太赫兹时域光谱仪还包括控制器，所述控制器控制所述第一太赫兹天线在所述第一泵浦光的作用下发射所述第一太赫兹波，并控制所述第二太赫兹天线不发射太赫兹波；或者，所述控制器控制所述第二太赫兹天线在所述第二泵浦光的作用下发射第二太赫兹波，并控制所述第一太赫兹天线不发射太赫兹波。3.根据权利要求2所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述第一泵浦光到达所述第一太赫兹天线时所述激光的光程与所述第二泵浦光到达所述第二太赫兹天线时所述激光的光程相等；所述第一探测光到达所述第一太赫兹天线时所述激光的光程与所述第二探测光到达所述第二太赫兹天线时所述激光的光程相等。4.根据权利要求3所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述第二太赫兹天线接收到由所述待测样品透射的波与所述第二太赫兹天线接收的所述第二探测光的光程差在第一预设范围内变化；所述第一太赫兹天线与所述第二太赫兹天线之间的距...
【专利技术属性】
技术研发人员：何坚兵，潘奕，丁庆，
申请(专利权)人：雄安华讯方舟科技有限公司，深圳市太赫兹科技创新研究院，
类型：发明
国别省市：河北,13
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