一种紧凑型光电测量暗室制造技术

本发明专利技术专利技术涉及一种可用于光电传感器、图像传感器或相机性能测试的光学暗室，属于光电测量技术领域。本发明专利技术的光学测量暗室为两层结构，其中一层是测量室，用于放置待测件及三维平移台等附属结构，设计有供光电测量用的入光口；暗室另一层是电缆室，光电测量需要使用的各类电缆包括数据线、电源线和控制线缆等从暗室外部通过电缆室出入测量室。测量室与电缆室两层之间由电缆室盖分隔，电缆室通过迷宫结构有效阻隔光线出入测量室。本发明专利技术所述的光学暗室具有遮光性好、结构紧凑、经久耐用及易于维护等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种紧凑型光电测量暗室
本专利技术专利涉及一种用于光电传感器、图像传感器与相机性能测试的光学暗室，属于光电测量

技术介绍
在光电传感器、图像传感器或相机的性能测试中，需要有遮光良好的暗室，确保在整个测试过程中待测器件不受外部光源的影响。例如，基于EMVA1288标准对图像传感器或相机进行测试过程中，在进行“暗场”测试时，要求全黑的测试环境；而在进行“明场”测试时，图像传感器表面也只能接受符合标准规定的光源发出的均匀光，不应受到外界光源的干扰。对光电传感器进行测试时，光电传感器的电源线、数据传输线及控制调试用的各类线缆需要连接到暗室外的相关测试设备上。为了确保线缆能正常出入同时阻隔光线的传输，通常有2种方法，第1种方法是在暗室壁上安装线缆转接件，所有测试线缆通过转接件接出暗室，由于转接件能完全遮光，从而有效解决了遮光的问题。但是，一方面，当数据传输线缆采用USB3.0、千兆网及万兆网线等高速接口时，这种转接方式有时会严重影响信号完整性导致信号质量变差或被测件工作不正常。另一方面，由于不可能在暗室侧壁上安装上所有不同型号的转接头来满足各类光电器件的测试需求，所以这种方法只适合少本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紧凑型光电测量暗室，用于光电传感器、图像传感器或相机的性能测试，其特征在于：包括测量室、测量室盖、电缆室、电缆室盖、待测光电器件固定平台；所述光电测量暗室被所述电缆室盖分隔为二层，其中一层为所述测量室，另一层为所述电缆室；所述待测光电器件固定平台固定在所述测量室内；所述测量室盖与测量室通过合页方式或滑槽等方式连接，测量室盖关闭时，两者之间的接缝通过凸起和凹槽结构紧密咬合，完全不漏光；测量室盖打开时方便安装、调整、观察或更换待测光电器件。

【技术特征摘要】
1.一种紧凑型光电测量暗室，用于光电传感器、图像传感器或相机的性能测试，其特征在于：包括测量室、测量室盖、电缆室、电缆室盖、待测光电器件固定平台；所述光电测量暗室被所述电缆室盖分隔为二层，其中一层为所述测量室，另一层为所述电缆室；所述待测光电器件固定平台固定在所述测量室内；所述测量室盖与测量室通过合页方式或滑槽等方式连接，测量室盖关闭时，两者之间的接缝通过凸起和凹槽结构紧密咬合，完全不漏光；测量室盖打开时方便安装、调整、观察或更换待测光电器件。2.根据权利要求1所述的光电测量暗室，其特征在于，所述光电测量暗室内所有的结构体表面全部处理为黑色超低反射率表面，以最大可能减少暗室内部光线反射。3.根据权利要求1所述的光电测量暗室，其特征在于，所述电缆室盖上开有至少一个电缆出入口，所述测量室内用于光电测试的电缆通过此电缆室盖出入口进入电缆室。4.根据权利要求1所述的光电测量暗室，其特征在于，所述电缆室侧壁上...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯兵，陈玉兰，
申请(专利权)人：西安远望图像技术有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61