显示面板测试电路及显示面板制造技术

本发明专利技术提供一种显示面板测试电路及显示面板。本发明专利技术的显示面板测试电路包括第一信号线、第一控制线以及多个开关单元，第一信号线包括第一子信号线、第二子信号线以及多条第三子信号线，每一第三子信号线的两端分别与第一子信号线及第二子信号线连接，每一开关单元的第一开关器件的控制端连接第一控制线，输入端连接第一子信号线，输出端为其所在的开关单元的测试信号输出端，第一子信号线位于任意两个相邻的开关单元之间的部分至少连接有一条第三子信号线，从而降低第一信号线的电阻，使得第一信号线接入的测试信号的压降较小，测试画面的亮度较高，同时各个第一开关器件的输入端接入的电压值保持一致，使得测试画面显示均匀。

【技术实现步骤摘要】
显示面板测试电路及显示面板
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板测试电路及显示面板。
技术介绍
有机发光二极管显示装置(OrganicLightEmittingDisplay，OLED)具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽，可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点，被业界公认为是最有发展潜力的显示装置。OLED按照驱动方式可以分为无源矩阵型OLED(PassiveMatrixOLED，PMOLED)和有源矩阵型OLED(ActiveMatrixOLED，AMOLED)两大类，即直接寻址和薄膜晶体管(TFT)矩阵寻址两类。其中，AMOLED具有呈阵列式排布的像素，属于主动显示类型，发光效能高，通常用作高清晰度的大尺寸显示装置。OLED器件通常包括：基板、设于基板上的阳极、设于阳极上的空穴注入层、设于空穴注入层上的空穴传输层、设于空穴传输层上的发光层、设于发光层上的电子传输层、设于电子传输层上的电子注入层及设于电子注入层上的阴极。OLED器件的发光原理为半导体材料和有机发光材料在电场驱动下，通过载流子注入和复合导致发光。具体的，OLED器件通常采用氧化铟锡(ITO)电极和金属电极分别作为器件的阳极和阴极，在一定电压驱动下，电子和空穴分别从阴极和阳极注入到电子传输层和空穴传输层，电子和空穴分别经过电子传输层和空穴传输层迁移到发光层，并在发光层中相遇，形成激子并使发光分子激发，后者经过辐射弛豫而发出可见光。请参阅图1，现有的一种OLED显示面板包括基板100、于基板100上依次间隔设置的多条数据线200、及设于基板100上的测试电路300。该基板100包括有效显示区(AA区)110及位于有效显示区110一侧的端子区120。多条数据线200设于有效显示区110内且各自的一端延伸至端子区120。测试电路300设于端子区120内，请参阅图2，所述测试电路300包括依次间隔设置的第一信号线310、第二信号线320、第一控制线330、第二控制线340以及多个开关单元350，每一开关单元350与一条数据线200对应，每一开关单元350包括第一场效应管(MOS管)Q10及第二MOS管Q20，第一MOS管Q10的栅极连接第一控制线330，源极连接第一信号线310，漏极连接其所在的开关单元300对应的数据线200，第二MOS管Q20的栅极连接第二控制线340，源极连接第二信号线320，漏极连接其所在的开关单元300对应的数据线200。第一信号线310用于接入红色测试信号D_r，第二信号线320用于接入蓝色测试信号D_b。第一控制线330用于接入红色控制信号EN_r，第二控制线340用于接入蓝色控制信号EN_b。第一信号线310包括间隔设置的第一子信号线311及第二子信号线312以及四条第三子信号线313，四条第三子信号线313的两端分别连接第一子信号线311及第二子信号线312，多个第一MOS管Q1的源极均连接第一子信号线311，四条第三子信号线313中外侧的两条与第一子信号线311的连接点分别位于多个开关单元350所在区域两侧，四条第三子信号线313中中间的两条与第一子信号线311的连接点均位于多个第一MOS管Q10中最中间的两个的源极与第一子信号线311的连接点之间，此种第一信号线310的走线设计的目的是为了降低第一信号线310的走线电阻以消除由走线电阻导致的红色测试信号在第一信号线310上的压降，以提升测试画面的亮度，然而实际上，此种走线设计提升显示面板中间区域的充电能力的效果大于提升显示面板两侧区域的充电能力的效果，使得最终显示出来的测试画面中间偏亮，两侧偏暗，产生显示不均，影响显示面板的测试效果。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种显示面板测试电路，能够保证测试画面具有较高的亮度，同时使测试画面显示均匀。本专利技术的另一目的在于提供一种显示面板，能够保证测试画面具有较高的亮度，同时使测试画面显示均匀。为实现上述目的，本专利技术首先提供一种显示面板测试电路，包括第一信号线、第一控制线以及多个开关单元；所述第一信号线及第一控制线相间隔；所述第一信号线包括第一子信号线、第二子信号线以及多条第三子信号线；第一子信号线与第二子信号线相间隔；多条第三子信号线相间隔，每一第三子信号线的两端分别与第一子信号线及第二子信号线连接；多个开关单元依次间隔设置；每一开关单元包括第一开关器件，所述第一开关器件的控制端连接第一控制线，输入端连接第一子信号线，输出端为其所在的开关单元的测试信号输出端；第一子信号线位于任意两个相邻的开关单元之间的部分至少连接有一条第三子信号线。多条第三子信号线中最外侧的两条第三子信号线与第一子信号线的连接点分别位于多个开关单元所在区域的两侧。所述开关单元的数量为n个，其中，n为大于1的正整数；第一子信号线位于第n-个开关单元及第n个开关单元之间的部分连接有两条第三子信号线；第一子信号线位于除了第n-个开关单元及第n个开关单元的组合外的任意两个相邻的开关单元之间的部分连接有一条第三子信号线。多个开关单元均设于第一子信号线及第二子信号线之间。所述第一控制线接入红色控制信号，所述第一信号线接入红色测试信号。所述第一控制线设于第二子信号线远离第一子信号线的一侧。所述显示面板测试电路还包括第二信号线及第二控制线；第一信号线、第二信号线、第一控制线及第二控制线依次间隔设置；每一开关单元还包括第二开关器件，所述第二开关器件的控制端连接第二控制线，输入端连接第二信号线，输出端连接其所在的开关单元中的第一开关器件的输出端。所述第二控制线接入蓝色控制信号，所述第二信号线接入蓝色测试信号。所述第一开关器件为第一MOS管，第一开关器件的控制端为第一MOS管的栅极，第一开关器件的输入端为第一MOS管的源极，第一开关器件的输出端为第一MOS管的漏极；所述第二开关器件为第二MOS管，第二开关器件的控制端为第二MOS管的栅极，第二开关器件的输入端为第二MOS管的源极，第二开关器件的输出端为第二MOS管的漏极。本专利技术还提供一种显示面板，包括衬底、于衬底上依次间隔设置的多条数据线以及设于衬底上的显示面板测试电路；所述显示面板测试电路为上述的显示面板测试电路；多条数据线分别与所述显示面板测试电路中多个开关单元的测试信号输出端连接。本专利技术的有益效果：本专利技术的显示面板测试电路包括第一信号线、第一控制线以及多个开关单元，第一信号线包括第一子信号线、第二子信号线以及多条第三子信号线，每一第三子信号线的两端分别与第一子信号线及第二子信号线连接，每一开关单元的第一开关器件的控制端连接第一控制线，输入端连接第一子信号线，输出端为其所在的开关单元的测试信号输出端，第一子信号线位于任意两个相邻的开关单元之间的部分至少连接有一条第三子信号线，从而降低第一信号线的电阻，使得第一信号线接入的测试信号的压降较小，测试画面的亮度较高，同时各个第一开关器件的输入端接入的电压值保持一致，使得测试画面显示均匀。本专利技术的显示面板能够保证测试画面具有较高的亮度，同时使测试画面显示均匀。附图说明为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板测试电路，其特征在于，包括第一信号线(10)、第一控制线(20)以及多个开关单元(30)；所述第一信号线(10)及第一控制线(20)相间隔；所述第一信号线(10)包括第一子信号线(11)、第二子信号线(12)以及多条第三子信号线(13)；第一子信号线(11)与第二子信号线(12)相间隔；多条第三子信号线(13)相间隔，每一第三子信号线(13)的两端分别与第一子信号线(11)及第二子信号线(12)连接；多个开关单元(30)依次间隔设置；每一开关单元(30)包括第一开关器件(31)，所述第一开关器件(31)的控制端连接第一控制线(20)，输入端连接第一子信号线(11)，输出端为其所在的开关单元(30)的测试信号输出端；第一子信号线(11)位于任意两个相邻的开关单元(30)之间的部分至少连接有一条第三子信号线(13)。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试电路，其特征在于，包括第一信号线(10)、第一控制线(20)以及多个开关单元(30)；所述第一信号线(10)及第一控制线(20)相间隔；所述第一信号线(10)包括第一子信号线(11)、第二子信号线(12)以及多条第三子信号线(13)；第一子信号线(11)与第二子信号线(12)相间隔；多条第三子信号线(13)相间隔，每一第三子信号线(13)的两端分别与第一子信号线(11)及第二子信号线(12)连接；多个开关单元(30)依次间隔设置；每一开关单元(30)包括第一开关器件(31)，所述第一开关器件(31)的控制端连接第一控制线(20)，输入端连接第一子信号线(11)，输出端为其所在的开关单元(30)的测试信号输出端；第一子信号线(11)位于任意两个相邻的开关单元(30)之间的部分至少连接有一条第三子信号线(13)。2.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，多条第三子信号线(13)中最外侧的两条第三子信号线(13)与第一子信号线(11)的连接点分别位于多个开关单元(30)所在区域的两侧。3.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述开关单元(30)的数量为2n个，其中，n为大于1的正整数；第一子信号线(11)位于第n-1个开关单元(30)及第n个开关单元(30)之间的部分连接有两条第三子信号线(13)；第一子信号线(11)位于除了第n-1个开关单元(30)及第n个开关单元(30)的组合外的任意两个相邻的开关单元(30)之间的部分连接有一条第三子信号线(13)。4.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，多个开关单元(30)均设于第一子信号线(11)及第二子信号线(12)之间。5.如权利要求1所述的显示面板测试电路，其特征在于，所述第一控制线(20)接入红色控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊锐，曹起，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42