一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法技术

本发明专利技术公开了一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励及宽频高灵敏度接收传感器，对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描，获取主动激励/接收的电磁信息，重建被检封闭部件外部的电磁场分布，与标准部件外部测得的电磁场分布进行比较，从而得到被检封闭壳体部件内金属成份及位置的变化情况，实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位。

【技术实现步骤摘要】
一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法
本专利技术涉及一种无损检测方法，特别是涉及一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法。
技术介绍
运载火箭一般是在总装厂进行水平组装及测试后，通过运输车水平运送到发射场，然后经过复杂的起竖过程，将其安装到发射台进行发射。然而水平组装测试完好的运载火箭内部的金属部件很可能在水平运送或在起竖过程中出现松动、移位甚至脱落或被掉包等不易察觉的问题，从而造成火箭发射失败，严重时还会导致火箭发射爆炸的重大事故。目前，针对于运载火箭携带的金属部件等一些特殊用途的封闭部件内部工件金属成份及所处位置是否移动的测定方法研究较少，可实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位的无损检测方法尚不多见。
技术实现思路
本专利技术的目的在于通过一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，来解决以上
技术介绍
部分提到的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，其特征在于：采用放置式激励线圈与接收传感器围绕被检封闭壳体部件外部环形扫查，被检封闭壳体部件沿着扫查中轴线移动的方式；或者，采用外穿式激励线圈及沿着被检封闭壳体部件外部周向阵列分布的接收传感器，被检封闭壳体部件沿着外穿式激励线圈中轴线移动的方式；采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励、采用宽频高灵敏度接收传感器接收的方法，对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描，获取其电磁感应信号，重建封闭壳体外部的电磁场分布，与标准封闭壳体部件外部测得的电磁场分布进行比较，从而得出被检封闭壳体部件内部不同电导率金属材料组成的工件的金属成份及位置相对于标准封闭壳体部件的变化情况。本专利技术的有益效果是，一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励及宽频高灵敏度接收传感器，对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描，获取主动激励/接收的电磁信息，重建被检封闭部件外部的电磁场分布，与标准部件外部测得的电磁场分布进行比较，从而得到被检封闭壳体部件内金属成份及位置的变化情况，实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位。以下结合实施例对本专利技术作进一步详细说明，但本专利技术的一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法不局限于实施例。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1为本专利技术实施例一的测定方法三维示意图。图2为本专利技术实施例一的测定方法平面示意图。图3为本专利技术实施例二的测定方法三维示意图。图4为本专利技术实施例二的测定方法平面示意图。图中，1-1.放置式激励线圈,1-2.外穿式激励线圈，2.接收传感器，3.被检封闭壳体部件，4.不同电导率金属材料组成的工件。具体实施方式实施例一，如图1、2所示，一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，其特征在于：采用放置式激励线圈1-1与接收传感器2围绕被检封闭壳体部件3外部环形扫查，被检封闭壳体部件3沿着扫查中轴线移动的方式；采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励、采用宽频高灵敏度接收传感器2接收的方法，对被检封闭壳体部件3外部进行周向及径向扫描，获取其电磁感应信号，重建封闭壳体外部的电磁场分布，与标准封闭壳体部件外部测得的电磁场分布进行比较，从而得出被检封闭壳体部件3内部不同电导率金属材料组成的工件4的金属成份及位置相对于标准封闭壳体部件的变化情况。实施例二，如图3、4所示，一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，其特征在于：采用外穿式激励线圈1-2及沿着被检封闭壳体部件3外部周向阵列分布的接收传感器2，被检封闭壳体部件3沿着外穿式激励线圈1-2中轴线移动的方式；采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励、采用宽频高灵敏度接收传感器2接收的方法，对被检封闭壳体部件3外部进行周向及径向扫描，获取其电磁感应信号，重建封闭壳体外部的电磁场分布，与标准封闭壳体部件外部测得的电磁场分布进行比较，从而得出被检封闭壳体部件4内部不同电导率金属材料组成的工件4的金属成份及位置相对于标准封闭壳体部件的变化情况。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例，并非对本专利技术的范围进行限定，在不脱离本专利技术设计精神的前提下，本领域任何技术人员对本专利技术的技术方案所作的任何修改、等同替换和改进，均应落入本专利技术权利要求书确定的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，其特征在于：采用放置式激励线圈与接收传感器围绕被检封闭壳体部件外部环形扫查，被检封闭壳体部件沿着扫查中轴线移动的方式；或者，采用外穿式激励线圈及沿着被检封闭壳体部件外部周向阵列分布的接收传感器，被检封闭壳体部件沿着外穿式激励线圈中轴线移动的方式；采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励、采用宽频高灵敏度接收传感器接收的方法，对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描，获取其电磁感应信号，重建封闭壳体外部的电磁场分布，与标准封闭壳体部件外部测得的电磁场分布进行比较，从而得出被检封闭壳体部件内部不同电导率金属材料组成的工件的金属成份及位置相对于标准封闭壳体部件的变化情况。

【技术特征摘要】
1.一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法，其特征在于：采用放置式激励线圈与接收传感器围绕被检封闭壳体部件外部环形扫查，被检封闭壳体部件沿着扫查中轴线移动的方式；或者，采用外穿式激励线圈及沿着被检封闭壳体部件外部周向阵列分布的接收传感器，被检封闭壳体部件沿着外穿式激励线圈中轴线移动的方式；采用不同脉冲...

【专利技术属性】
技术研发人员：林俊明，
申请(专利权)人：爱德森厦门电子有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35