【技术实现步骤摘要】
基于自动获取曝光参数的无损检测系统
本专利技术涉及无损检测
,具体为一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统。
技术介绍
无损检测是指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的前提下,利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化,以物理或化学方法为手段,借助现代化的技术和设备器材,对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。无损检测是工业发展必不可少的有效工具,在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平,无损检测的重要性已得到公认,主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)四种。其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。无损检测也叫无损探伤,是在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下,采用射线、超声、红外、电磁等原理技术并结合仪器对材料、零件、设备进行 ...
【技术保护点】
1.一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统,包括底座(14),其特征在于:所述底座(14)的上方安装有箱体(6),所述箱体(6)的内部安装有第三电动推杆(10),所述第三电动推杆(10)的上方安装有支撑板(11),所述支撑板(11)的上方安装有超声波发生器(9),所述超声波发生器(9)一侧的支撑板(11)上方安装有超声波接收器(20),所述第三电动推杆(10)一侧的箱体(6)内部安装有单片机(7),所述超声波发生器(9)上方的箱体(6)内部安装有隔板(8),所述箱体(6)内部的顶端安装有第一电动推杆(1),所述第一电动推杆(1)的输出端安装有X射线机(2)。
【技术特征摘要】
1.一种基于自动获取曝光参数的无损检测系统,包括底座(14),其特征在于:所述底座(14)的上方安装有箱体(6),所述箱体(6)的内部安装有第三电动推杆(10),所述第三电动推杆(10)的上方安装有支撑板(11),所述支撑板(11)的上方安装有超声波发生器(9),所述超声波发生器(9)一侧的支撑板(11)上方安装有超声波接收器(20),所述第三电动推杆(10)一侧的箱体(6)内部安装有单片机(7),所述超声波发生器(9)上方的箱体(6)内部安装有隔板(8),所述箱体(6)内部的顶端安装有第一电动推杆(1),所述第一电动推杆(1)的输出端安装有X射线机(2)。2.根据权利要求1所述的基于自动获取曝光参数的无损检测系统,其特征在于:所述箱体(6)内部的侧壁上安装有第二电动推杆(4),所述第二电动推杆(4)的输出端安装有安装架(3),所述安装架(3)的一端安装有红外线测距传感器(5),所述红外线测距传感器(5)相对面的箱体(6)侧面设置有检测口(12)。3.根据权利要求1所述的基于自动获取曝光参数的无损检测系统,其特征在于:所述箱体(6)一侧的底座(14)上方安装有夹持机构(16),所述夹持机构(...
【专利技术属性】
技术研发人员:芦少翔,杨国芳,左培庆,王伟湘,
申请(专利权)人:武汉三联特种技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:湖北,42
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。