图像处理方法、装置、电子设备及储存介质制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种图像处理方法、装置、电子设备及储存介质，涉及图像处理技术领域。方法包括：获得图像采样框的形状相关的形状参数；根据形状参数和卷积核的卷积核参数，将卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；根据调整后的卷积核对图像采样框内的图像进行卷积处理。通过采样点位置分布与图像采样框形状匹配的卷积核来对图像采样框内的图像进行卷积处理，就可以避免对图像的检测结果出现偏差，从而也提高了检测的精度。

【技术实现步骤摘要】
图像处理方法、装置、电子设备及储存介质
本申请涉及图像处理
，具体而言，涉及一种图像处理方法、装置、电子设备及储存介质。
技术介绍
目前，在目标检测技术中，可以生成框选住图像中物体的图像采样框，以对图像采样框内的目标物图像进行进一步检测和识别。但是，由于目标物图像在图像中的大小和位置的随机性比较大，导致生成的图像采样框的形状大小差异性也很大。故由于图像采样框的形状大小不固定，导致在对图像采样框内的目标物图像进行检测的过程中，对目标物的检测结果出现偏差，从而导致检测的精度受到影响。
技术实现思路
本申请在于提供一种图像处理方法、装置、电子设备及储存介质，以有效防止对目标物的检测结果出现偏差，从而提高检测的精度。为了实现上述目的，本申请的实施例通过如下方式实现：第一方面，本申请实施例提供了一种图像处理方法，所述方法包括：获得图像采样框的形状相关的形状参数；根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，所述形状参数包括：所述图像采样框的长度和宽度，以及所述图像采样框在下采样中的缩小倍数；所述根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，包括：根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标；根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，其中，调整前的每个采样点的坐标为第一横坐标和第一纵坐标，表示每个采样点的位置位于当前的第一位置处，以及调整后的每个采样点的坐标为第二横坐标和第二纵坐标，表示每个采样点的位置位于调整后的第二位置处；获得调整后的卷积核，所述调整后的卷积核中每个采样点的位置位于第二位置处。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，所述根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，所述将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标，包括：根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标的第一偏差值；根据每个采样点的横坐标的第一偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，所述卷积核参数包括：所述卷积核的总列数，以及每个采样点的所在列与所述卷积核的中心点之间的间隔列数；所述根据所述长度、所述缩小倍数和卷积核参数，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值，包括：根据所述长度W、所述缩小倍数S、所述总列数M和所述间隔列数m，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值为W*m/M*S。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，所述将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，包括：根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值；根据每个采样点的纵坐标的第二偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述长度对应的第二纵坐标。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，所述卷积核参数还包括：所述卷积核的总行数，以及每个所述采样点的所在行与所述卷积核的中心点之间的间隔行数；所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值，包括；根据所述宽度H、所述缩小倍数S、所述总行数N和所述间隔行数n，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值H*n/N*S。结合第一方面、第一方面的第一种至第五种可能的实施方式中的任一方式，本申请实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，在所述获得图像采样框的形状之前，所述方法还包括：获得所述图像采样框的中心点的第一位置参数；根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，其中，每个采样点处于第一位置表示所述卷积核的中心点与所述图像采样框的中心点重合。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式，所述第一位置参数包括：第一中心横坐标和第一中心纵坐标，所述第二位置参数包括：第二中心横坐标和第二中心纵坐标，所述根据所述第一位置参数和所述卷积核的中心点的第二位置参数，将每个采样点从当前的第三位置调整至第一位置，包括：根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标；根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标，其中，每个采样点的坐标为第三横坐标和第三纵坐标表示每个采样点的位置位于当前的第三位置处。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第八种可能的实施方式，所述根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标，包括：根据所述第一中心横坐标和所述第二中心横坐标，确定出所述第一中心横坐标与所述第二中心横坐标之间的第三偏差值；根据所述第三偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第三横坐标调整为第一横坐标。结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第九种可能的实施方式，所述根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标，包括：根据所述第一中心纵坐标和所述第二中心纵坐标，确定出所述第一中心纵坐标与所述第二中心纵坐标之间的第四偏差值；根据所述第四偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第三纵坐标调整为第一纵坐标。结合第二方面，本申请实施例提供了一种图像处理装置，所述装置包括：形状获得模块，用于获得图像采样框的形状相关的形状参数；形状调整模块，用于根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；卷积模块，用于根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。结合第二方面，本申请实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，所述形状参数包括：所述图像采样框的长度和宽度，以及所述图像采样框在下采样中的缩小倍数；所述形状调整模块，还用于根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标；根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将每个采样点的纵坐标从当前的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像处理方法，其特征在于，所述方法包括：获得图像采样框的形状相关的形状参数；根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。

【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法，其特征在于，所述方法包括：获得图像采样框的形状相关的形状参数；根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，其中，所述至少两个采样点中的任意两个采样点当前所处的位置不相同，任意两个采样点调整后的位置也不相同；根据所述调整后的卷积核对图像进行卷积处理。2.根据权利要求1所述的图像处理方法，其特征在于，所述形状参数包括：所述图像采样框的长度和宽度，以及所述图像采样框在下采样中的缩小倍数；所述根据所述形状参数和卷积核的卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点从当前的第一位置调整至与所述形状参数对应的第二位置，获得调整后的卷积核，包括：根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标；根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，其中，调整前的每个采样点的坐标为第一横坐标和第一纵坐标，表示每个采样点的位置位于当前的第一位置处，以及调整后的每个采样点的坐标为第二横坐标和第二纵坐标，表示每个采样点的位置位于调整后的第二位置处；获得调整后的卷积核，所述调整后的卷积核中每个采样点的位置位于第二位置处。3.根据权利要求2所述的图像处理方法，其特征在于，所述根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，所述将所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标，包括：根据所述长度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出所述卷积核的至少两个采样点中的每个采样点的横坐标的第一偏差值；根据每个采样点的横坐标的第一偏差值，将每个采样点的横坐标从当前的第一横坐标调整为与所述长度对应的第二横坐标。4.根据权利要求3所述的图像处理方法，其特征在于，所述卷积核参数包括：所述卷积核的总列数，以及每个采样点的所在列与所述卷积核的中心点之间的间隔列数；所述根据所述长度、所述缩小倍数和卷积核参数，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值，包括：根据所述长度W、所述缩小倍数S、所述总列数M和所述间隔列数m，确定出所述卷积核中的每个采样点的横坐标的第一偏差值为W*m/M*S。5.根据权利要求2所述的图像处理方法，其特征在于，所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，所述将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述宽度对应的第二纵坐标，包括：根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积核参数，确定出每个采样点的纵坐标的第二偏差值；根据每个采样点的纵坐标的第二偏差值，将每个采样点的纵坐标从当前的第一纵坐标调整为与所述长度对应的第二纵坐标。6.根据权利要求5所述的图像处理方法，其特征在于，所述卷积核参数还包括：所述卷积核的总行数，以及每个所述采样点的所在行与所述卷积核的中心点之间的间隔行数；所述根据所述宽度、所述缩小倍数和所述卷积...

【专利技术属性】
技术研发人员：李作新，俞刚，
申请(专利权)人：北京旷视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11