隐藏孔性能检测用定位装置制造方法及图纸

一种隐藏孔性能检测用定位装置，包括基板，所述基板一侧表面凹陷形成与待测玻璃面板或触摸屏形状大小相适配的容置槽，所述容置槽内表面覆盖有与容置槽相适配的防刮层，在所述容置槽靠端部位置开设有通光孔，所述通光孔内安装有发光灯，所述发光灯低于所述容置槽底面。本实用新型专利技术可实现在透光率检验过程中玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔与检验光源的定位。

Positioning Device for Performance Detection of Hidden Holes

A positioning device for detecting the performance of hidden holes includes a base plate, in which a recess on one side of the base plate forms a capacitive groove suitable for the shape and size of the glass panel or touch screen to be measured, the inner surface of the capacitive groove is covered with a scrape-proof layer matching the capacitive groove, and a through-light hole is arranged at the end of the capacitive groove, and a light-emitting lamp is installed in the through-light hole, and the light-emitting lamp is lower than the one of the other. The bottom surface of the holding groove. The utility model can realize the positioning of hidden holes on the surface of glass panel or touch screen and inspection light source in the process of transparency inspection.

【技术实现步骤摘要】
隐藏孔性能检测用定位装置
本技术涉及一种电子玻璃检测用装置，尤其是一种玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔性能检测用定位装置。
技术介绍
触摸屏或玻璃面板作为一种人机交互界面产品，在消费电子产品领域，比如智能手机、平板电脑等上得到了广泛应用。根据功能的不同，触摸屏或玻璃面板，表面一般分为视窗区和非视窗区；视窗区以窗口方式供使用者进行操作，而非视窗区则是用于遮盖线路。为了增强美观性，近年来在触摸屏面板非视窗区内通常设置有隐藏孔，包括隐藏式按键、指示灯孔或IR孔；在工作状态下，隐藏孔透光显现；在待机状态下，隐藏孔隐藏于非视窗区内。当隐藏孔由于触摸屏表面遮光层较厚或存在瑕疵而导致透光性较差时，会影响产品的功能性质量指标及美观度。传统针对触摸屏上隐藏孔透光性的检测方法是目视法，工人将触摸屏在强光照射下，通过人眼判断隐藏孔透光性强弱来区分产品优劣。但是目视法不仅主观性较强，而且触摸屏或玻璃面板与检验光源之间摆放的位置和距离的差异都会影响到显示光强的大小，容易造成误判或漏检。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种隐藏孔性能检测用定位装置，该装置能在对触摸屏或玻璃面板表面隐藏孔进行透光性检测时实现隐藏孔与检验光源的定位。为解决上述技术问题，本技术采用下述技术方案：该隐藏孔性能检测用定位装置包括基板，所述基板一侧表面凹陷形成与待测玻璃面板或触摸屏形状大小相适配的容置槽，所述容置槽内表面覆盖有与所述容置槽相适配的防刮层，在所述容置槽靠端部位置开设有通光孔，所述通光孔内安装有发光灯，所述发光灯低于所述容置槽底面。根据本技术的设计构思，本技术所述通光孔的位置与放置在所述容置槽内的待测玻璃面板或触摸屏上隐藏孔的位置相对应。根据本技术的设计构思，本技术在所述容置槽至少一侧边位置开设有用以使位于容置槽内的玻璃面板或触摸屏与所述容置槽相分离的分离槽，所述分离槽的深度大于所述容置槽的深度。根据本技术的设计构思，本技术所述容置槽数量为三个，所述三个容置槽结构相同，且其中两个容置槽并列设置而另一个容置槽设置于两个并列容置槽一端。与现有技术相比，本技术具有下述有益效果：（1）由于在所述基板一侧面开设有容置槽，容置槽形状大小与触摸屏形状大小相适配，在对隐藏孔进行性能检测时可将待测玻璃面板或触摸屏放入容置槽；因本技术在所述容置槽一端部位置开设有通光孔，所述通光孔的位置与所述待测玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔的位置相对应，同时在所述通光孔内安装有发光灯；当把玻璃面板或触摸屏放入容置槽后无需人工对准即可实现对玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔与所述发光灯定位，所述发光灯发出的光经过通光孔可投射入隐藏孔内。（2）在所述容置槽内表面覆盖有防刮层，所述防刮层由柔性材料制成，可防止在对玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔进行性能检测时基板刮伤玻璃面板或触摸屏；（3）在所述容置槽至少一侧边开设有深度大于所述容置槽深度的分离槽，其便于在性能检测完成后人手快速将所述容置槽内的玻璃面板或触摸屏与所述容置槽相分离。（4）由于在所述基板上同时开设有三个容置槽，在对玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔进行性能检测过程中，可在三个容置槽内分别放入标准玻璃面板或触摸屏上限样板、标准玻璃面板或触摸屏下限样板和待测触摸屏或玻璃面板样板，所述标准上限样板和所述标准下限样板在检测过程中可提供实时、同步的参考对照，以防误判或者漏检。附图说明图1为本技术单容置槽的隐藏孔性能检测用定位装置结构示意图；图2为本技术多容置槽的隐藏孔性能检测用定位装置结构示意图。具体实施方式本技术所述的玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔性能检测用定位装置，主要是针对在对玻璃面板或触摸屏上的隐藏孔进行透光性检测时，实现隐藏孔与检验光源的定位。需要进行说明的是，本技术所述的隐藏孔可以是隐藏式按键镂空孔、也可以是指示灯孔或IR孔等。参见图1，本技术的表面隐藏孔性能检测用定位装置，包括基板1，在所述基板1一侧表面凹陷形成容置槽2；所述容置槽2形状大小与所述待测玻璃面板或触摸屏形状大小相适配，在对所述玻璃面板或触摸屏表面隐藏孔进行性能检测时，将所述待测产品放入所述容置槽2内。另外，为防止在对所述隐藏孔进行性能检测过程中基板1刮伤待测产品表面，在所述容置槽2内表面覆盖有防刮层3；所述防刮层3与所述容置槽2相适配；所述防刮层3由柔性材料制成，比如聚四氟乙烯或无尘棉布。为实现对隐藏孔的透光性进行检测，在所述容置槽2靠近端部的位置开设一通光孔4，在所述通光孔4内安装有发光灯（图未示），所述通光孔4的位置与放置在所述容置槽2内的待测产品的隐藏孔的位置相对应；例如，在对触摸屏表面隐藏孔的透光性进行检测时，可把所述触摸屏放置到所述容置槽2内时，由于所述触摸屏表面的隐藏孔位于所述发光灯位置，在所述发光灯发光时，光线会经过通光孔4投射到所述触摸屏隐藏孔所在位置，而后穿过所述隐藏孔透射至人眼；然后由人眼根据透射光的强度，来判定隐藏孔性能的优劣；优选地，所述通光孔4的形状和大小与所述触摸屏的隐藏孔形状和大小相适配；而所述发光灯低于所述容置槽2底面，以防在透光性检测过程中所述发光灯将所述触摸屏顶起。为了方便在检测过程中人手操作，在所述容置槽2至少一侧边位置开设有分离槽5；所述分离槽5的深度大于所述容置槽2的深度。在对隐藏孔进行透光性检测结束后，通过人手操作从所述分离槽5将所述容置槽2内的触摸屏与所述容置槽2相分离。参见图2，作为本技术的一个实施例，本技术的隐藏孔性能检测用定位装置，在所述基板1表面同时开设三个容置槽2；优选地，所述三个容置槽2大小相等，结构相同；其中所述两个容置槽2并列设置在所述基板1一端，而另一个容置槽2单独设置在基板1上与两个并列容置槽2相对立的一端。在对隐藏孔进行透光性检测过程中，在所述两个并列容置槽2内分别放置标准产品上限样板和标准产品下限样板，在所述单独的容置槽2内放置待测产品样板；发光灯发光，以透过所述标准产品上限样板和所述标准产品下限样板表面隐藏孔的光的强度作为参考：当透过所述待测产品样板表面隐藏孔的光的强度小于透过所述标准产品上限样板表面隐藏孔的光的强度且大于透过所述标准产品下限样板表面隐藏孔的光的强度，判定所述待测产品样板表面隐藏孔透光性合格；而当透过所述待测产品样板表面隐藏孔的光的强度大于透过所述标准产品上限样板表面隐藏孔的光的强度或小于透过所述标准产品下限样板表面隐藏孔的光的强度，判定所述待测产品样板表面隐藏孔透光性不合格。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种隐藏孔性能检测用定位装置，包括基板，其特征在于，所述基板一侧表面凹陷形成与待测玻璃面板或触摸屏形状大小相适配的容置槽，所述容置槽内表面覆盖有与所述容置槽相适配的防刮层，在所述容置槽靠端部位置开设有通光孔，所述通光孔内安装有发光灯，所述发光灯低于所述容置槽底面。

【技术特征摘要】
1.一种隐藏孔性能检测用定位装置，包括基板，其特征在于，所述基板一侧表面凹陷形成与待测玻璃面板或触摸屏形状大小相适配的容置槽，所述容置槽内表面覆盖有与所述容置槽相适配的防刮层，在所述容置槽靠端部位置开设有通光孔，所述通光孔内安装有发光灯，所述发光灯低于所述容置槽底面。2.如权利要求1所述的隐藏孔性能检测用定位装置，其特征在于，所述通光孔的位置与放置在所述容置槽内的待测玻璃面板或触摸屏...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔺永祥，李怡莹，廖丽敏，游国意，
申请(专利权)人：伯恩光学惠州有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44