用于加压流体的样品处理设备和其X射线分析器应用制造技术

一种用于材料分析的样品处理设备/技术/方法，包括：样品载体，所述样品载体用于将加压样品(例如，LPG)呈现给所述分析器的样品焦点区域；可移除固定装置，所述可移除固定装置用于将所述加压样品装入到所述样品载体中；所述可移除固定装置包括至少一个端口以向所述固定装置和载体提供样品以及从所述固定装置和载体提供样品。所述样品处理设备可以包括保持器，其中所述样品载体使用所述保持器可移除地与所述固定装置组合，所述设备可插入到所述分析器中以用于样品分析；并且其中所述保持器包括孔，所述孔用于将所述样品从所述载体的靠近所述孔的薄膜式下端呈现到所述焦点区域。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于加压流体的样品处理设备和其X射线分析器应用相关申请的交叉引用本申请要求2016年3月14日提交的美国临时专利申请序列号62/307,752的权益，所述美国临时专利申请通过全文引用并入本文中。专利
本专利技术一般来说涉及用于分析样品的设备和方法。更具体地，本专利技术涉及一种适用于液化石油气(“LPG”)应用的用于加压流体的样品池和处理设备和其X射线分析器应用。
技术介绍
样品的X射线分析是例如消费者产品、医疗、制药和石油等许多行业越来越感兴趣的领域。X射线荧光、X射线衍射、X射线光谱、X射线成像和其它X射线分析技术的使用导致了几乎所有科学领域中知识的深刻增长。X射线荧光(XRF)是一种分析技术，通过这种技术，一种物质暴露于X射线束，以确定例如某些成分的存在。在XRF中，暴露于X射线的物质的元素成分中的至少一些可以吸收X射线光子并且产生具有特性的次级荧光。这些次级X射线是物质中元素成分的特性。在适当的检测和分析后，这些次级X射线可以用于表征元素成分中的一种或多种。XRF技术在许多化学和材料科学领域中具有广泛的应用，包括工业、医疗、半导体芯片评估、石油和法医学等等。作为石油工业中所需测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于材料分析器的样品处理设备，包括：样品载体，所述样品载体用于将加压样品呈现给所述材料分析器的样品焦点区域；可移除固定装置，所述可移除固定装置用于将所述加压样品装入到所述样品载体中；并且所述可移除固定装置包括至少一个端口以向所述固定装置和载体提供样品以及从所述固定装置和载体提供样品。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.14 US 62/307,7521.一种用于材料分析器的样品处理设备，包括：样品载体，所述样品载体用于将加压样品呈现给所述材料分析器的样品焦点区域；可移除固定装置，所述可移除固定装置用于将所述加压样品装入到所述样品载体中；并且所述可移除固定装置包括至少一个端口以向所述固定装置和载体提供样品以及从所述固定装置和载体提供样品。2.根据权利要求1所述的样品处理设备，进一步包括保持器，其中，所述样品载体使用所述保持器与所述固定装置以可移除方式组合，所述设备样品处理能够插入到所述材料分析器中以用于样品分析。3.根据权利要求2所述的样品处理设备，其中，所述保持器包括孔，所述孔用于将所述样品从所述载体的靠近所述孔的薄膜式下端呈现到所述样品焦点区域。4.根据上述权利要求中任一项所述的样品处理设备与X射线分析器的组合，所述X射线分析器包括X射线引擎，所述X射线引擎包括：X射线激发路径；和X射线检测路径；其中所述X射线激发路径和/或所述X射线检测路径限定所述样品焦点区域。5.根据权利要求4所述的组合，其中，所述样品焦点区域是焦点。6.根据权利要求5所述的组合，其中，所述焦点由到达/来自在所述X射线激发路径和/或所述X射线检测路径中的至少一个聚焦光学器件的聚焦...

【专利技术属性】
技术研发人员：约瑟夫·J·斯班纳左拉·III，杰·波得特，陈泽伍，丹尼尔·顿汗姆，
申请(专利权)人：X射线光学系统公司，
类型：发明
国别省市：美国,US