两用可拆式测试针结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种两用可拆式测试针结构，供以针对待测物进行电性检测，包含一本体及一检测接头。该本体一端具有至少一第一旋卡部，且该本体是中空，以供容置探针；检测接头是中空状，且检测接头的一端对应第一旋卡部设有至少一第二旋卡部，以使本体与检测接头可以旋转方式相互卡合组接或卸除，检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔，穿孔供探针穿出，电性接触部则供与待测物接触以形成导通，如此可有效提升更换速率，并于组装后具备足够刚性与准直度而利于测试结构下压检测待测物电性状态。

【技术实现步骤摘要】
两用可拆式测试针结构
本技术涉及一种电性测试结构，尤其是一种可快速拆卸组装，且利于依据检测需求更换对应测试探头，进而得以提升检测速率与效能的两用可拆式测试针结构。
技术介绍
为利于得知各类电子产品制成后的电性状态是否符合需求，一般可通过如电性检测针等用品作为检测用具。单一的电性检测针本身即具有检测功能，然实际的电子产品须检测的电性接点数量繁多，是以往往需将大量电性检测针安装于检测机台以提升整体检测速率。一般来说，电性检测针系指设置于机台，供与待测电子产品接触电性导通的装置，整体是一体成型的结构，一端供与待测产品接触，另一端则通过以导线焊接固定的方式安装在机台上，而可检验待测产品的电流状态等电性参数。供以检测电子产品的机台依据不同的电性检测需求，大多会分为诸多载区，于各载区中即设置有大量的电性检测针，电子产品即可逐一移往各载区进行对应的检测。然，实际检测应用上，基于检测精确度与安全需求，电性检测针于使用一定次数后即须加以更换，由于机台各载区中都装设有数量庞大的电性检测接头，少则数十多则数万，而受限于电性检测接头一体成型的结构，因此于拆卸更换时需将焊接导线剪除或移除，再把电性检测针取下，而后换上新的电性检测针时，需再执行导线焊接接合作业，因此相当地不便，需要耗费大量人工成本与时间成本。另一方面，当检测机台各载区因应不同的待测产品而需更换至对应规格的电性检测针时，同样遭遇需耗费大量成本的窘境。有鉴于此，本技术人系集结多年从事相关行业的经验，构思一种两用可拆式测试针结构，俾能解决目前于电性检测方面仍存有的缺失。
技术实现思路
本技术的一目的，旨在提供一种两用可拆式测试针结构，以有效减低更换作业所需时间，并可因应检测物件的规格种类快速更替所需的接头，大幅提升适用性。为达上述目的，本技术揭示一种两用可拆式测试针结构，供以针对待测物进行电性检测，包含：一本体，其一端具有至少一第一旋卡部，且该本体是中空，以供容置探针；及一检测接头，是中空状，且该检测接头的一端对应该第一旋卡部设有至少一第二旋卡部，以使该本体与该检测接头可以旋转方式相互卡合组接或卸除，该检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔，该穿孔供探针穿出，该电性接触部则供与待测物接触以形成导通。如此，即可利用该第一旋卡部及该第二旋卡部有效达到快速拆装的目的，大幅缩减更换接头所需工时，并据此使得该两用可拆式测试针结构得以快速地匹配各类待测物规格进行检测。于一实施例中，该第一旋卡部为一滑孔，该第二旋卡部为一凸柱，该第一旋卡部具有一卡固端及一连接端，且该卡固端的宽度小于该连接端的宽度，于组装时该第二旋卡部自该连接端穿设于该第一旋卡部内并移动至该卡固端后，即使该本体与该检测接头相互组接固定，如此可快速稳固定组装或拆卸该检测接头。其中，该第二旋卡部的数量为N个时，呈等间隔环状排列，且相邻的该些第二旋卡部的夹设角度是360/N，该第一旋卡部则对应该第二旋卡部设置，如此以于组装或拆卸时更为稳固地施力，且在检测过程中也可更防止轴心偏移的现象发生。于一实施例中，该电性接触部是复数导电金属条，该复数导电金属条沿该穿孔周缘呈环状排列设置，如此该两用可拆式测试针结构可通过该复数导电金属条达到分流功能，而可运用至大电流检测范畴。为有效提升该两用可拆式测试针结构的检测效能，于一实施例中该两用可拆式测试针结构更具有一导电弹片，该导电弹片设于该电性接触部，且该电性接触部的表面具有复数凹槽及复数尖锐凸肋，该复数尖锐凸肋布设于未设置该复数凹槽的区域，该复数凹槽以该穿孔为中心呈放射状排列设置；该导电弹片具有复数导脚部，该复数导脚部对应该复数凹槽呈放射状设置，以对应位于该复数凹槽内，且于该电性接触部与待测物接触导通时，该复数导脚部可沿待测物表面向外滑移。如此，通过该导电弹片及该复数尖锐凸肋即可有效消除待测物表面形成有碍于检测的氧化层，提升电性检测的精确性。较佳者，各该导脚部具有两个上区段及一下区段，该下区段连接设于两个该上区段之间且呈凹弧状，进而使该复数导脚部与待测物接触时，该下区段的弧面沿待测物表面滑移，以利用弧面结构有效地刮除氧化层。为利于握持旋转该检测接头，于一实施例中揭示该检测接头外表面设有复数沟槽，以利于握持施力。较佳者，该检测接头本身也可具有一外壳体及一内基座，该外壳体套设于该内基座外侧并具有复数沟槽，且该内基座具有该第二旋卡部及该电性接触部，如此可降低物件损坏时的更替成本。此外，为利于快速确认组装状态，该检测接头具有一对位缺口，该本体具有一对位孔，当该检测接头组设至于该本体后，该对位缺口与该对位孔相对应，而可通过一定位件插设固定。其中，较佳者，该本体对应与该检测接头组装的端，在与该检测接头旋转组固后，延伸至该检测接头内部，以增强该本体与该检测接头的组装强度。综上所述，本技术的该两用可拆式测试针结构系利用可拆组的结构，有效提升更换作业速率，以及依据各种不同的待测物规格，都可快速更换对应的该检测接头至该本体上，而可提升该两用可拆式测试针结构的适用范畴。并且，通过该电性接触部的结构设计，使该两用可拆式测试针结构可确实地应用于大电流检测，更进一步地，针对易形成于待测物表面的氧化层，也可通过该电性接触部及该导电弹片结构来防止氧化层于测试时造成的影响，更提升电性检测的精确性。附图说明图1为本技术第一实施例两用可拆式测试针结构的分解示意图(一)。图2为本技术第一实施例两用可拆式测试针结构的分解示意图(二)。图3为本技术第一实施例两用可拆式测试针结构的组装示意图。图4为本技术第一实施例两用可拆式测试针结构中设有探针的组装示意图。图5为本技术第二实施例两用可拆式测试针结构的组装示意图。图6为本技术第二实施例的两用可拆式测试针结构检测接头部分剖面示意图。附图标记说明：1-两用可拆式测试针结构；10-本体；101-第一旋卡部；1011-卡固端；1012-连接端；102-对位孔；11-检测接头；111-第二旋卡部；112-电性接触部；1121-凹槽；1122-尖锐凸肋；113-穿孔；114-沟槽；115-外壳体；116-内基座；117-对位缺口；12-导电弹片；121-导脚部；1211-上区段；1212-下区段；2-探针；3-定位件。具体实施方式为使能清楚了解本技术的内容，谨以下列说明搭配图式，敬请参阅。请参阅图1、图2、图3及图4，其是本技术第一实施例的两用可拆式测试针结构的分解示意图(一)、分解示意图(二)、组装示意图及设有探针的组装示意图。本技术揭示一种两用可拆式测试针结构1，供以针对待测物如IC、晶圆、电池等元件进行电性检测，包含一本体10及一检测接头11。该本体10的一端具有至少一第一旋卡部101，且该本体10为中空，而可供以容置一探针2。该本体10相对具有该第一旋卡部101的端供以装设于检测机台处，一般常通过螺母及导线焊接接合的方式使该本体10可固设于检测机台上。该检测接头11的一端对应该第一旋卡部101设有至少一第二旋卡部111，以使该本体10与该检测接头11可以旋转方式相互卡合组接或卸除，该检测接头11的另一端具有一电性接触部112及一穿孔113，该穿孔113与该本体10的中空区域连通，以供探针2穿出，该电性接触部112供与待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种两用可拆式测试针结构，供以针对待测物进行电性检测，其特征是包含：一本体，其一端具有至少一第一旋卡部，且该本体是中空，以供容置探针；及一检测接头，是中空状，且该检测接头的一端对应该第一旋卡部设有至少一第二旋卡部，以使该本体与该检测接头能够以旋转方式相互卡合组接或卸除，该检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔，该穿孔供探针穿出，该电性接触部则供与待测物接触以形成导通。

【技术特征摘要】
1.一种两用可拆式测试针结构，供以针对待测物进行电性检测，其特征是包含：一本体，其一端具有至少一第一旋卡部，且该本体是中空，以供容置探针；及一检测接头，是中空状，且该检测接头的一端对应该第一旋卡部设有至少一第二旋卡部，以使该本体与该检测接头能够以旋转方式相互卡合组接或卸除，该检测接头的另一端具有一电性接触部及一穿孔，该穿孔供探针穿出，该电性接触部则供与待测物接触以形成导通。2.根据权利要求1所述的两用可拆式测试针结构，其特征在于，该第一旋卡部为一滑孔，该第二旋卡部为一凸柱，该第一旋卡部具有一卡固端及一连接端，且该卡固端的宽度小于该连接端的宽度，在组装时该第二旋卡部自该连接端穿设于该第一旋卡部内并移动至该卡固端后，能够使该本体与该检测接头相互组接固定。3.根据权利要求2所述的两用可拆式测试针结构，其特征在于，该第二旋卡部的数量为N个时，呈等间隔环状排列，且相邻的第二旋卡部的夹设角度是360/N，该第一旋卡部则对应该第二旋卡部设置。4.根据权利要求2所述的两用可拆式测试针结构，其特征在于，该电性接触部是复数导电金属条，该复数导电金属条沿该穿孔周缘呈环状排列设置。5.根据权利要求2所述的两用可拆式测试针结构，其特征在于：还具有一导电弹片，该导电弹片设于该电性接触部，且该电性接触部的表面具有复数凹槽及复数尖锐...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡伯晨，陈威助，吕彦辉，郑文瑛，谢健堉，
申请(专利权)人：中国探针股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71