一种地层泥质含量估算方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种地层泥质含量估算方法及系统，该方法包括：基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等；计算中子测井曲线与密度测井曲线的第一重叠差；获得泥岩段中子测井曲线与密度测井曲线的第二重叠差；基于第一重叠差和第二重叠差，获得泥质相对值；以及基于泥质相对值，获得泥质含量。本发明专利技术通过设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等，基于中子测井曲线和密度测井曲线在测井曲线图上采用特定刻度方式时的重叠差值与泥质含量的趋势关系，建立了利用中子测井曲线和密度测井曲线估算含高自然伽马砂岩地层泥质含量的方法。

【技术实现步骤摘要】
一种地层泥质含量估算方法及系统
本专利技术涉及石油地球物理勘探
，更具体地，涉及一种地层泥质含量估算方法及系统。
技术介绍
泥质含量是反映砂岩储层岩性、物性的重要参数，是精确求取其它储层物性参数的基础，因此，确定泥质含量是石油测井解释的一项重要内容。砂泥岩剖面常用的泥质含量计算方法包括自然伽马法、自然电位法、补偿中子法、电阻率法或这几种方法的组合。在含高自然伽马砂岩地层中，部分砂岩自然伽马测井值接近泥岩自然伽马测井值，应用传统的自然伽马法计算泥质含量，将导致部分砂岩泥质含量计算偏高，而被错误识别为泥岩，进而“漏掉”储层；而自然电位测井曲线在含高自然伽马砂岩地层中常常没有稳定的泥岩基线，无法准确计算泥质含量；补偿中子测井曲线主要反映物性，电阻率曲线则受岩性、物性、含油性影响都很明显，因此在含高自然伽马砂岩地层中补偿中子法、电阻率法也不适用。含高自然伽马砂岩地层中估算泥质含量成为测井解释面临的一个难题。目前针对这种地层的测井解释，有科研人员通过实验建立高伽马砂岩与邻近常规砂岩泥质含量关系式，利用测井资料对邻近常规砂岩储层计算泥质含量，然后利用关系式获取高伽马砂岩泥质含量，但因在高伽马砂岩段没有利用测井资料计算，该方法无法实现连续的计算；还有学者利用密度、声波时差、核磁测井等资料计算泥质含量，但是密度测井、声波时差测井受岩石物性影响较大，核磁共振测井主要反映孔隙内流体状态且成本较高，且大部分井中没有采集核磁测井资料，因此测井解释中需要一种含高自然伽马砂岩地层中能够较准确估算泥质含量的方法及系统。公开于本专利技术
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术的一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
本专利技术针对含高自然伽马砂岩地层中计算泥质含量的难题，建立了利用中子测井曲线和密度测井曲线估算泥质含量的方法，该方法简便实用，实际估算结果与实验分析泥质含量一致性好。根据本专利技术的一方面，提出了一种地层泥质含量估算方法，所述方法可以包括：1)基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等；2)计算所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第一重叠差；3)获得泥岩段所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第二重叠差；4)基于所述第一重叠差和所述第二重叠差，获得泥质相对值；5)基于所述泥质相对值，获得所述泥质含量。优选地，所述地层为含高自然伽马砂岩地层。优选地，所述测井资料包括岩石骨架中子值、地层流体中子值、岩石骨架密度值和地层流体密度值。优选地，所述中子测井曲线和所述密度测井曲线的左右刻度的设置需要满足式(1)：其中，CNLL为补偿中子曲线左刻度，CNLR为补偿中子曲线右刻度，CNLM为岩石骨架中子值，CNLF为地层流体中子值，DENL为密度曲线左刻度，DENR为密度曲线右刻度，DENM为岩石骨架密度值，DENF为地层流体密度值。优选地，所述第一重叠差的值为OD：其中，DEN为密度测井曲线值，CNL为中子测井曲线值，DENL为密度曲线左刻度，DENR为密度曲线右刻度，CNLL为补偿中子曲线左刻度，CNLR为补偿中子曲线右刻度。优选地，所述泥质相对值为SH：其中，OD为第一重叠差，ODX为第二重叠差。优选地，所述泥质含量为VSH：其中，GCUR为常数，SH为泥质相对值。优选地，所述GCUR由地区岩心分析资料统计获得。根据本专利技术的另一方面，提出了一种地层泥质含量估算系统，所述系统包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：1)基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等；2)计算所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第一重叠差；3)获得泥岩段所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第二重叠差；4)基于所述第一重叠差和所述第二重叠差，获得泥质相对值；5)基于所述泥质相对值，获得所述泥质含量。优选地，所述测井资料包括岩石骨架中子值、地层流体中子值、岩石骨架密度值和地层流体密度值。本专利技术的有益效果在于：本专利技术针对含高自然伽马砂岩地层中计算泥质含量的难题，通过设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等，基于中子测井曲线和密度测井曲线在测井曲线图上采用特定刻度方式时的重叠差值与泥质含量的趋势关系，建立了利用中子测井曲线和密度测井曲线估算含高自然伽马砂岩地层泥质含量的方法。本专利技术的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明通过结合附图对本专利技术示例性实施方式进行更详细的描述，本专利技术的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本专利技术示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。图1示出了根据本专利技术的地层泥质含量估算方法的步骤的流程图。图2示出了根据本专利技术的一个实施例的计算泥质含量的效果图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本专利技术的优选实施方式。虽然附图中显示了本专利技术的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本专利技术更加透彻和完整，并且能够将本专利技术的范围完整地传达给本领域的技术人员。实施例1在该实施例中，根据本专利技术的地层泥质含量估算方法可以包括：步骤1，基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等；步骤2，计算中子测井曲线与密度测井曲线的第一重叠差；步骤3，获得泥岩段中子测井曲线与密度测井曲线的第二重叠差；步骤4，基于第一重叠差和第二重叠差，获得泥质相对值；以及步骤5，基于泥质相对值，获得泥质含量。该实施例针对含高自然伽马砂岩地层中计算泥质含量的难题，建立了利用中子测井曲线和密度测井曲线估算泥质含量的方法，该方法简便实用，实际估算结果与实验分析泥质含量一致性好。图1示出了根据本专利技术的地层泥质含量估算方法的步骤的流程图。下面参考图1详细说明根据本专利技术的地层泥质含量估算方法的具体步骤。步骤1，基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等。在一个示例中，地层为含高自然伽马砂岩地层。具体地，在含高自然伽马砂岩地层中，如果采用自然伽马测井曲线计算泥质含量，高自然伽马砂岩段泥质含量计算将偏高，可能被误认为“泥岩”，从而导致“漏掉”储层。在一个示例中，测井资料包括岩石骨架中子值、地层流体中子值、岩石骨架密度值和地层流体密度值。在一个示例中，中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度的设置需要满足式(1)：其中，CNLL为补偿中子曲线左刻度，CNLR为补偿中子曲线右刻度，CNLM为岩石骨架中子值，CNLF为地层流体中子值，DENL为密度曲线左刻度，DENR为密度曲线右刻度，DENM为岩石骨架密度值，DENF为地层流体密度值。具体地，对目标井设置测井曲线图上中子测井曲线和密度测井曲线左右刻度，使其满足公式(1)，使中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度代表的孔隙度差相等，从而消除孔隙度对重叠差的影响，同时使密度测井曲线保持在中子测井曲线右边且尽可能接近，其中，岩石骨架中子值CNLM、地层流体中子值CNLF、岩石骨架密度值DENM和地层流体密度值D本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种地层泥质含量估算方法，其特征在于，该方法包括：1)基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等；2)计算所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第一重叠差；3)获得泥岩段所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第二重叠差；4)基于所述第一重叠差和所述第二重叠差，获得泥质相对值；5)基于所述泥质相对值，获得所述泥质含量。

【技术特征摘要】
1.一种地层泥质含量估算方法，其特征在于，该方法包括：1)基于测井资料，设置中子测井曲线和密度测井曲线的左右刻度，使得左右刻度代表的孔隙度差相等；2)计算所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第一重叠差；3)获得泥岩段所述中子测井曲线与所述密度测井曲线的第二重叠差；4)基于所述第一重叠差和所述第二重叠差，获得泥质相对值；5)基于所述泥质相对值，获得所述泥质含量。2.根据权利要求1所述的地层泥质含量估算方法，其中，所述地层为含高自然伽马砂岩地层。3.根据权利要求1所述的地层泥质含量估算方法，其中，所述测井资料包括岩石骨架中子值、地层流体中子值、岩石骨架密度值和地层流体密度值。4.根据权利要求1所述的地层泥质含量估算方法，其中，所述中子测井曲线和所述密度测井曲线的左右刻度的设置需要满足式(1)：其中，CNLL为补偿中子曲线左刻度，CNLR为补偿中子曲线右刻度，CNLM为岩石骨架中子值，CNLF为地层流体中子值，DENL为密度曲线左刻度，DENR为密度曲线右刻度，DENM为岩石骨架密度值，DENF为地层流体密度值。5.根据权利要求1所述的地层泥质含量估算方法，其中，所述第一重叠差的值为OD：其中，DEN为密度测井曲线值，CNL为中子测...

【专利技术属性】
技术研发人员：张军，李军，刘志远，南泽宇，苏俊磊，王晓畅，武清钊，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11