【技术实现步骤摘要】
一种光纤干涉仪制作装置及方法
本申请涉及光通讯设备制造
，具体涉及一种光纤干涉仪制作装置及方法。
技术介绍
光纤干涉仪是基于光的干涉原理制作出的光学仪器，可以用于测量位移、温度、相位等物理量，也可以用来对相位信息进行调制或解调，因此在光学、工程测量、波谱分析等领域有广泛应用。最常见的光纤干涉仪有Mach-Zehnder（MZ）干涉仪、Michelson干涉仪等。这些光纤干涉仪通过控制臂长差来影响干涉效果，因此臂长差的精度直接影响干涉仪的性能，是干涉仪的重要指标之一。现有制作干涉仪时精确控制臂长差的方式主要通过研磨装置。以制作等臂MZ干涉仪为例，将MZ干涉仪第一臂光纤与组成干涉仪一臂的另一段光纤进行熔接，熔接后称为参考臂，制作完成参考臂后，测量干涉仪的两臂光纤的臂长差，另一臂光纤需要切掉的长度记为ΔL。制作另一臂的光纤在刻度显微镜测量下，设置一定的余量，使用宝石刀切掉长度略小于ΔL的光纤，而后使用研磨装置对切割后的另一臂光纤进行研磨，研磨该臂光纤，研磨完成后再次测量两臂的臂长差，若臂长差不符合要求，则重复上述步骤直到该臂光纤的臂长符合要求，得到第二臂光纤，然后...
【技术保护点】
1.一种光纤干涉仪制作装置，其特征在于，包括光纤长度测量单元（1）、光纤切割单元（2）、第一臂长差测量单元（3）、第一光纤熔接单元（4）以及第二光纤熔接单元（5）；所述光纤长度测量单元（1）用于测量另一臂光纤的长度；所述光纤切割单元（2）用于根据测量的另一臂光纤的长度，对另一臂光纤进行第一次切割，得到切割光纤；所述第一臂长差测量单元（3）用于测量切割光纤与第一臂光纤的臂长差，得到臂长差值；所述第一光纤熔接单元（4）用于将切割光纤熔接一段长度的光纤，得到熔接光纤；所述光纤切割单元（2）还用于根据臂长差值对熔接光纤进行第二次切割，得到第二臂光纤，其中所述光纤切割单元（2）包括底...
【技术特征摘要】
1.一种光纤干涉仪制作装置，其特征在于，包括光纤长度测量单元（1）、光纤切割单元（2）、第一臂长差测量单元（3）、第一光纤熔接单元（4）以及第二光纤熔接单元（5）；所述光纤长度测量单元（1）用于测量另一臂光纤的长度；所述光纤切割单元（2）用于根据测量的另一臂光纤的长度，对另一臂光纤进行第一次切割，得到切割光纤；所述第一臂长差测量单元（3）用于测量切割光纤与第一臂光纤的臂长差，得到臂长差值；所述第一光纤熔接单元（4）用于将切割光纤熔接一段长度的光纤，得到熔接光纤；所述光纤切割单元（2）还用于根据臂长差值对熔接光纤进行第二次切割，得到第二臂光纤，其中所述光纤切割单元（2）包括底座（21）以及夹具（22），光纤夹持在夹具（22）中，所述夹具（22）卡合在所述底座（21）上，且所述夹具（22）与所述底座（21）卡合的位置固定不变；所述第二光纤熔接单元（6）用于将第二臂光纤与组成干涉仪一臂的另一段光纤进行熔接得到MZ干涉仪。2.根据权利要求1所述的光纤干涉仪制作装置，其特征在于，在熔接第二臂光纤之前，所述光纤干涉仪制作装置还包括第二臂长差测量单元（6）；所述第二臂长差测量单元（6）用于测量第二臂光纤与第一臂光纤之间的臂长差。3.根据权利要求1或2所述的光纤干涉仪制作装置，其特征在于，在所述底座（21）上设置有固定柱（211）；在所述夹具（22）上设置有与所述固定柱（211）数量相同的固定通孔（221）；所述固定通孔（221）的形状与所述固定柱（211）的形状契合，用于将所述夹具（22）放置在所述底座（21）上，且所述夹具（22）与所述底座（21）的相对位置不变。4.根据权利要求3所述的光纤干涉仪制作装置，其特征在于，所述固定柱（211）至少设置有两个，所述底座（21）内设置有磁性材料，所述夹具（22）由铁质材料制成。5.根据权利要求3所述的光纤干涉仪制作装置，其特征在于，当制作等臂干涉仪时，所述第一臂长差测量单元（3）包括光纤熔接机、光谱仪以及宽谱光源；所述光纤熔接机用于将切割光纤与组成干涉仪的另一段光纤对准；当对准后，干涉仪的入射端与所述宽谱光源连接，干涉仪的出射端与所述光谱仪连接。6.根据权利要求3所述的光纤干涉仪制作装置，其特征在于，当制作不等臂干涉仪时，所述第一臂长差测量单元（3）还包括标准干涉仪；所述标准干涉仪...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴微微，徐宏，
申请(专利权)人：北京中创为南京量子通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32
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