基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质制造方法及图纸

技术编号:20220381 阅读:29 留言:0更新日期:2019-01-28 19:22
本发明专利技术公开了一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质,该方法首先接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值,然后获取PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值,最后判断以各第一坐标值为圆心,以距离设置值为半径的范围内是否存在ICT测点,若存在ICT测点,说明对应的ICT测点容易在波峰焊时受到影响,导致PCB质量降低,若全部范围内均不存在ICT测点,说明在进行波峰焊时,ICT测点不容易受到影响。由此可见,本方法能够根据坐标值的关系自动确定出ICT测点与DIP零件的pin距离是否过近,相对于人工确定的方式而言,可以减少大量的工时,而且出现漏检的概率低,提高了PCB质量。

【技术实现步骤摘要】
基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质
本专利技术涉及PCB设计领域,特别是涉及一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质。
技术介绍
PCB广泛应用于服务器、存储器等电子产品领域。例如,在PCB上需要设置DIP零件,这些零件通常需要波峰焊固定,并且为了对最终的成品进行测试,需要在PCB上预留有在线测试点,即ICT测点。因为DIP零件过波峰焊后有助焊剂及脏污残留,如果ICT测点距离DIP零件的pin过近(如3mm),这些助焊剂及脏污会覆盖ICT测点(pad形式测点)或者进入ICT测点(通孔形式测点),如果覆盖ICT测点,会导致ICT测试无法进行;如果进入ICT测点,助焊剂会腐蚀PCB线路,危害PCB质量。以上两种情况都会造成PCB不合格。现有技术中,为了确保PCB质量,通常是在对PCB布局完成之后,对DIP零件波峰焊之前,对PCB上的所有ICT测点进行预先判断,主要是判断ICT测点是否与DIP零件的pin距离过近。具体操作是:人工检测每个PCB的所有ICT测点与其周围的DIP零件的距离,如果某一个ICT测点与某一个DIP零件的距离过近,则认为当前PCB布局不合格。但是事实上,对于一个PCB来说,其上有大量的ICT测点,而并不是所有的ICT测点都会出现上述情况。因此,对于上述检测方法而言,一方面,人工检测的方式速度较慢,当面对同样的PCB时,需要重复性劳动,检测效率极低;另一方面,人工检测的方式存在漏检的概率较高,无法保证检测结果的可靠性。由此可见,如何高效率高可靠性判断PCB布局是否合理从而保证PCB质量是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质,用于高效率高可靠性判断PCB布局是否合理从而保证PCB质量。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法,包括:接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值;获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值;判断在以各所述第一坐标值为圆心,以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点;如果是,则确定当前PCB不合格,否则确定当前PCB合格。优选地,所述判断在以各所述第一坐标值为圆心,以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点具体包括:获取当前PCB上各ICT测点的第二坐标值;判断所述第二坐标值是否在所述范围内;如果是,则确定扫描到ICT测点,否则,确定未扫描到ICT测点。优选地,所述获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值具体包括:提取当前PCB上各器件的ID信息;依据所述ID信息中包含的属性信息确定出各DIP零件;依据预先设置的属性信息与坐标值的对应关系确定出各DIP零件的pin的第一坐标值。优选地,还包括:若判断出在所述范围内描到ICT测点,则将对应的DIP零件和/或ICT测点记录到数据库中。优选地,还包括:在显示界面上显示判断结果。优选地,还包括:将所述判断结果写入预设文件中以生成检测报告。优选地,在所述确定当前PCB合格之前,还包括:判断当前的判断结果的个数是否与当前PCB上的DIP零件的个数相同;如果是,则进入所述确定当前PCB合格的步骤。为解决上述技术问题,本专利技术还提供一种基于检测ICT测点确定PCB质量的装置,包括:接收模块,用于接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值;获取模块,用于获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值;判断模块,用于判断在以各所述第一坐标值为圆心,以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点;确定模块,用于在所述判断模块的判断结果为是时,确定当前PCB不合格,否则确定当前PCB合格。为解决上述技术问题,本专利技术还提供一种基于检测ICT测点确定PCB质量的装置,包括存储器,用于存储计算机程序;处理器,用于执行所述计算机程序时实现如所述的基于检测ICT测点确定PCB质量的方法的步骤。为解决上述技术问题,本专利技术还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如所述的基于检测ICT测点确定PCB质量的方法的步骤。本专利技术所提供的基于检测ICT测点确定PCB质量的方法,首先接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值,该值可以根据实际情况选取,然后获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值,最后判断以各坐标值为圆心,以距离设置值为半径的范围内是否存在ICT测点,如果某一个范围内存在ICT测点,说明对应的ICT测点与DIP零件的pin距离过近,容易在波峰焊时受到影响,导致PCB质量降低,如果全部范围内均不存在ICT测点,说明当前PCB在进行波峰焊时,ICT测点不容易受到影响,即确定PCB合格。由此可见,本方法能够根据坐标值的关系自动确定出ICT测点与DIP零件的pin距离是否过近,相对于现有技术中人工确定的方式而言,本方法可以减少大量的工时,而且出现漏检的概率非常低,大大提高PCB质量。此外,本专利技术所提供的基于检测ICT测点确定PCB质量的装置及介质,与上述方法对应,同样具有上述效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例,下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法的流程图;图2为本专利技术实施例提供的一种显示界面的示意图;图3为本专利技术实施例提供的另一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法的流程图;图4为本专利技术实施例提供的一种基于检测ICT测点确定PCB质量的装置的结构图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下,所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护范围。本专利技术的核心是提供一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法、装置及介质,用于高效率高可靠性判断PCB布局是否合理从而保证PCB质量。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。图1为本专利技术实施例提供的一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法的流程图。如图1所示,该方法包括:S10:接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值。图2为本专利技术实施例提供的一种显示界面的示意图。如图2所示,在显示界面上,有距离设置值选项1,在这个部分,用户可以输入设置的数值。需要说明的是,距离设置值需要根据波峰焊的技术决定,以目前的技术来看,波峰焊的对于距离DIP零件的pin3mm的ICT测试点有影响。因此,在具体实施中,需要由用户选择该值的大小,通常情况下,可以选取3mm,如果用户未选择,则默认值可以设置为3mm。需要说明的是,如果距离设置值设置的过大,则后续选取出的ICT测试点就会越多,而事实上,这些点也不全部都会受到波峰焊的影响,所以这种选取的方式能够较大程度的避免PCB不合格,但是精本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法,其特征在于,包括:接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值;获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值;判断在以各所述第一坐标值为圆心,以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点;如果是,则确定当前PCB不合格,否则确定当前PCB合格。

【技术特征摘要】
1.一种基于检测ICT测点确定PCB质量的方法,其特征在于,包括:接收输入的DIP零件的pin与ICT测点的距离设置值;获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值;判断在以各所述第一坐标值为圆心,以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点;如果是,则确定当前PCB不合格,否则确定当前PCB合格。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述判断在以各所述第一坐标值为圆心,以所述距离设置值为半径的范围内是否扫描到ICT测点具体包括:获取当前PCB上各ICT测点的第二坐标值;判断所述第二坐标值是否在所述范围内;如果是,则确定扫描到ICT测点,否则,确定未扫描到ICT测点。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取当前PCB上的各DIP零件的pin的第一坐标值具体包括:提取当前PCB上各器件的ID信息;依据所述ID信息中包含的属性信息确定出各DIP零件;依据预先设置的属性信息与坐标值的对应关系确定出各DIP零件的pin的第一坐标值。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:若判断出在所述范围内描到ICT测点,则将对应的DIP零件和/或ICT测点记录到数据库中。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:在显示界面上显示判断结果。...

【专利技术属性】
技术研发人员:李艳军
申请(专利权)人:郑州云海信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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