【技术实现步骤摘要】
一种可调节前置放大电路
本技术涉及放大电路，特别涉及一种可调节前置放大电路。
技术介绍
测厚仪是轧机的关键控制设备，其精度和性能直接影响产品的厚度，其中探头是测厚仪系统中的核心部件，主要是担负接收射线的工作，其工作状态的好坏直接影响着测厚仪测量的准确性。探头主要由电离室、高压电源、前置放大板组成。现有测厚仪的探头中的前置放大板采用可编程电阻(例如：通过MAX532芯片实现)进行增益调整，这种探头前置放大板非常不稳定，并且MAX532芯片易损坏，故障率较高，维护成本高，给公司的生产和质量带来严重的影响。有申请号为CN201120329126.5(授权公告号为CN2022204487U)的中国技术专利公开了一种放射性测厚仪，包括显示单元、电离室、以及一数据处理单元，该放射性测厚仪还包括一基于AD549的微电流放大器，微电流放大器连接电离室，数据处理单元连接在微电流放大器和显示单元之间。该技术中提供的放射性测厚仪采用了基于AD549的微电流放大器，由于AD549本身是具有极低输入偏置电流的单片电路静电计型运算放大器，其输入偏置电压和输入偏置电压漂移均通过激光调节，可达到...
【技术保护点】
1.一种可调节前置放大电路，用于对测厚仪的电离室产生的微电流进行放大，包括微电流放大电路和增益调节电路，所述微电流放大电路连接电离室，所述微电流放大电路输入端INPUT为电离室产生的微电流，所述微电流放大电路连接所述增益调节电路，其特征在于：所述增益调节电路包括多路复用器IC3和第二运算放大器IC2，所述多路复用器IC3与第二运算放大器IC2相连接，用于调节放大增益。
【技术特征摘要】
1.一种可调节前置放大电路，用于对测厚仪的电离室产生的微电流进行放大，包括微电流放大电路和增益调节电路，所述微电流放大电路连接电离室，所述微电流放大电路输入端INPUT为电离室产生的微电流，所述微电流放大电路连接所述增益调节电路，其特征在于：所述增益调节电路包括多路复用器IC3和第二运算放大器IC2，所述多路复用器IC3与第二运算放大器IC2相连接，用于调节放大增益。2.根据权利要求1所述的可调节前置放大电路，其特征在于：所述微电流放大电路包括第一运算放大器IC1、第一电阻R1、第三电阻R3、第十八电阻R18、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3和第四电容C4，所述第一运算放大器IC1的第2引脚分别连接第十八电阻R18和第三电容C3一端，所述第三电容C3另一端连接第一运算放大器IC1的第3引脚并接地，所述第十八电阻R18另一端分别连接第三电阻R3和第一电阻R1一端，所述第三电阻R3另一端连接微电流放大电路输入端INPUT，所述第一电阻R1另一端连接第一运算放大器IC1的第6引脚并且第一电阻R1并联第二电容C2，所述第一运算放大器IC1的第6引脚为微电流放大电路的输出端，所述第一运算放大器IC1的第7引脚分别连接第一电压VCC和第一电容C1，所述第一电容C1另一端接地，所述第一运算放大器IC1的第4引脚分别连接第二电压VSS和第四电容C4，所述第四电容C4另一端接地，所述第一运算放大器IC1的第8引脚接地。3.根据权利要求2所述的可调节前置放大电路，其特征在于：所述增益调节电路包括与多路复用器IC3连接的第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11和集成电路IC4，所述多路复用器IC3的第十六脚、第一脚和第四脚分别对应连接集成电路IC4的第2脚、第4脚和第6脚，所述集成电路IC4的第13脚、第11脚和第9脚分别对应串联连接有第十七电阻R17、第十六电阻R16和第十五电阻R15并且第十七电阻R17、第十六电阻R16和第十五电阻R15另一端均连接第一电压VCC，所述集成电路IC4的第13脚、第11脚和第9脚分别连接增益调节电路的第一输入G0、第二输入G1和第三输入G2，所述集成电路IC4的第14脚连接第一电压VCC，所述多路复用器IC3的第五脚、第六脚、第七脚、第八脚、第九脚、第十脚、第十一脚、第十三脚分别对应串联连接第十一电阻R11、第十电阻R10、第九电阻R9、第八电阻R8、第七电阻R7、第六电阻R6、第五电阻R5...
【专利技术属性】
技术研发人员：乔爱民，林刚，赖全忠，
申请(专利权)人：宁波宝新不锈钢有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33
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