半导体照明发热性能检测装置制造方法及图纸

技术编号:20194802 阅读:53 留言:0更新日期:2019-01-23 10:58
本实用新型专利技术提供一种半导体照明发热性能检测装置,包括检测箱,所述检测箱内设置有安装座,所述安装座旁设置有供电电源,通过供电电源为安装座进行供电,所述检测箱内设置有温度传感器,通过温度传感器对检测箱内的温度变化进行检测,所述检测箱外部设置有显示屏,所述显示屏与温度传感器相关联,将温度传感器检测的温度显示在显示屏上。通过安装座和供电电源对半导体照明进行照明模拟,并在半导体照明工作时由温度传感器对检测箱内的温度变化进行检测,完成半导体照明发热性能的检测工作,减少人工的工作量,并且通过冷却风机对检测箱内的温度进行回温,避免前后两侧检测结果互相干扰。

【技术实现步骤摘要】
半导体照明发热性能检测装置
本技术涉及半导体检测领域,尤其涉及一种半导体照明发热性能检测装置。
技术介绍
目前在使用半导体进行照明时,由于半导体的材质所限,对于半导体照明的发热性能检测是十分重要的,而目前在对半导体照明进行发热性能检测时,都是人工将半导体照明点亮后经过一段时间后对半导体进行接触,并使用测温装置进行温度检测,但是上述工作需要人工完成,并且由于使用触摸的方式进行检测,精度不足。因此,解决半导体照明发热性能检测时占用人工且精度不足的问题就显得尤为重要了。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本技术的目的是提供了一种半导体照明发热性能检测装置,通过安装座和供电电源对半导体照明进行照明模拟,并在半导体照明工作时由温度传感器对检测箱内的温度变化进行检测,完成半导体照明发热性能的检测工作,解决了半导体照明发热性能检测时占用人工且精度不足的问题。本技术提供一种半导体照明发热性能检测装置,包括检测箱,所述检测箱内设置有安装座,所述安装座旁设置有供电电源,通过供电电源为安装座进行供电,所述检测箱内设置有温度传感器,通过温度传感器对检测箱内的温度变化进行检测,所述检测箱外部设置有显示屏,所述显示屏与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体照明发热性能检测装置,包括检测箱(1),其特征在于:所述检测箱(1)内设置有安装座(2),所述安装座(2)旁设置有供电电源(3),通过供电电源(3)为安装座(2)进行供电,所述检测箱(1)内设置有温度传感器(4),通过温度传感器(4)对检测箱(1)内的温度变化进行检测,所述检测箱(1)外部设置有显示屏(5),所述显示屏(5)与温度传感器(4)相关联,将温度传感器(4)检测的温度显示在显示屏(5)上。

【技术特征摘要】
1.一种半导体照明发热性能检测装置,包括检测箱(1),其特征在于:所述检测箱(1)内设置有安装座(2),所述安装座(2)旁设置有供电电源(3),通过供电电源(3)为安装座(2)进行供电,所述检测箱(1)内设置有温度传感器(4),通过温度传感器(4)对检测箱(1)内的温度变化进行检测,所述检测箱(1)外部设置有显示屏(5),所述显示屏(5)与温度传感器(4)相关联,将温度传感器(4)检测的温度显示在显示屏(5)上。2.如权利要求1所述的半导体照明发热性能检测装置,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:时钟梁晏虞峻骅
申请(专利权)人:南京赛宝工业技术研究院
类型:新型
国别省市:江苏,32

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