显示装置的点灯测试系统制造方法及图纸

本申请公开了一种显示装置的点灯测试系统，包括：微控制模块、时钟模块、处理模块和桥接转换模块；其中，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，当所述像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生像素时钟信号。通过所述时钟模块中的时钟判别单元与第一时钟单元和第二时钟单元的组合，使得显示装置点灯测试系统较原先具有更宽的适用频率范围，以解决点灯所需时钟信号的频率超出原先时钟模块极值时，显示装置无法正常点亮完成测试的问题。

Lighting Testing System of Display Device

The present application discloses a lighting test system for a display device, including a micro-control module, a clock module, a processing module and a bridge conversion module, wherein the clock module comprises a clock discrimination unit, a first clock unit and a second clock unit, and the clock discrimination unit comprises a preset value, when the frequency of the pixel clock signal exceeds the preset value, the time module comprises a clock discrimination unit and a second clock unit. The clock discrimination unit configures the first clock unit to generate a first clock signal, and the second clock unit generates a pixel clock signal according to the first clock signal. By combining the clock discrimination unit in the clock module with the first clock unit and the second clock unit, the lighting test system of the display device has a wider applicable frequency range than the original one, so as to solve the problem that the display device can not light up normally to complete the test when the frequency of the clock signal required for lighting exceeds the original clock module extremum.

【技术实现步骤摘要】
显示装置的点灯测试系统
本专利技术涉及显示装置
，特别涉及一种液晶显示装置的点灯测试系统。
技术介绍
液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay，简称LCD)具备低功耗、轻薄、低辐射等诸多优点，因此现在已经基本取代了传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示装置被广泛地应用于诸如高清数字电视、台式计算机、笔记本电脑、平板电脑、手机、数码相机等电子设备中。液晶显示装置在经过出厂之前必须都经过点灯测试。所谓点灯测试指的是将液晶显示装置的时序信号以及红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号输入液晶显示装置，以检查液晶显示装置是否可以正常的工作。图1为现有技术的显示装置的点灯测试系统示意图，其主要包括微控制模块110、时钟模块120、处理模块130、桥接转换模块140以及显示装置150。微控制模块110例如为ARM(AcornRISCMachine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并且将模式信息与参数信息发送至处理模块130，同时配置时钟模块120。时钟模块120使用cdce706芯片，cdce706芯片可以产生一定频率的时钟信号。处理模块130例如为现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray，FPGA)。处理模块130将接收到的信号转换后发送至桥接转换模块140。桥接转换模块140将接收到的信号转换成为显示装置150可识别的移动产业处理器接口(MobileIndustryProcessorInterface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(EmbeddedDisplayPort，EDP)信号，并发送给显示装置150，以完成对显示装置150的点灯测试，这里的桥接转换模块140可以使用桥芯片(BridgeIC)。然而，现有技术的显示装置的点灯测试系统100在显示装置150点亮所需的时钟信号频率超过cdce706芯片的频率上限时，就会产生无法点亮显示装置150或显示装置150呈现画面异常的现象，无法对显示装置150进行有效的检测操作。传统的解决方案为将时钟模块120的芯片更换为具有更高频率上限的高级的芯片或将处理模块130中的FPGA更换为更高级别的FPGA芯片，此种解决方案不但会造成成本的大量上涨和硬件资源的浪费，同时由于处理模块130自行产生时钟信号无法实现动态调节，使该方案仅能对特定规格参数的显示装置进行测试，应用范围较窄，兼容性差。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种显示装置的点灯测试系统，以解决显示装置所需时钟信号频率过高，测试系统无法正常完成测试的问题，控制测试系统成本，避免硬件资源的浪费，实现时钟信号在高频率下的动态调节。本专利技术提供一种显示装置的点灯测试系统，其特征在于，包括：微控制模块，根据测试要求提供显示装置所需的参数信息；时钟模块，根据所述参数信息产生像素时钟信号；处理模块，根据所述参数信息及像素时钟信号产生点屏信号和同步信号；桥接转换模块，用于将所述点屏信号转换成显示装置所需的格式；其中，所述参数信息至少包括显示装置所需的像素时钟信号的频率，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，所述预设值为所述第一时钟单元能够产生的时钟信号的频率上限值，当所述所需的像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第一时钟信号的频率与所述像素时钟信号的频率成预设比例，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生所述像素时钟信号。优选地，所述第二时钟单元与所述处理模块双向连接，并根据所述处理模块的设置，对所述第一时钟信号进行相应的倍频处理，得到所述像素时钟信号。优选地，当所需像素时钟信号的频率小于或等于所述预设值时，所述第一时钟单元产生的第一时钟信号即可满足所需像素时钟信号的频率要求，第一时钟信号作为像素时钟信号穿过所述第二时钟单元传输至所述处理模块。优选地，所述时钟判别单元通过I2C总线对所述第一时钟单元进行配置。优选地，所述预设比例为其中n为大于等于1的整数。优选地，所述第一时钟单元包括时钟芯片，所述第二时钟单元包括时钟信号产生电路。优选地，所述点灯测试系统还包括功率监测模块，所述功率监测模块与所述微控制模块相连接，用于在进行点灯测试的同时监测所述显示装置的功率。优选地，所述微控制模块包括ARM微处理器，所述处理模块为现场可编程门阵列。优选地，所述点灯测试系统还包括提示模块，所述提示模块与所述微控制模块相连接，用于在点灯测试结束时提醒工作人员。优选地，所述桥接转换模块用于将处理模块产生的点屏信号转换成移动产业处理器接口信号、嵌入式显示器端口信号和低电压差分信号中的任意一种。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的一种显示装置点灯测试系统，对时钟模块进行了改良，通过时钟模块中时钟判别单元与第一时钟单元和第二时钟单元的组合，使得显示装置的点灯测试系统较原先具有更宽的适用频率范围，以解决所需时钟信号的频率超出原先时钟模块极值时，显示装置无法正常点亮完成测试的问题，同时还在很大程度上节省了成本，实现了时钟信号在更广范围的动态调节，提高了显示装置点灯测试系统的适用范围，为使用者提供了便利。附图说明通过以下参照附图对本专利技术实施例的描述，本专利技术的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：图1所示为现有技术的显示装置的点灯测试系统的示意图。图2所示为本专利技术实施例显示装置的点灯测试系统的示意图。图3所示为本专利技术另一实施例显示装置的点灯测试系统的示意图。具体实施方式以下基于实施例对本专利技术进行描述，但是本专利技术并不仅仅限于这些实施例。在下文对本专利技术的细节描述中，详尽描述了一些特定的细节部分。对本领域技术人员来说没有这些细节部分的描述也可以完全理解本专利技术。为了避免混淆本专利技术的实质，公知的方法、过程、流程、元件和电路并没有详细叙述。下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本专利技术保护的范围。图2是本专利技术实施例显示装置的点灯测试系统的示意图。如图2所示，本专利技术的显示装置的点灯测试系统200包括微控制模块210、时钟模块220、处理模块230、桥接转换模块240。时钟模块220包括时钟判别单元221、第一时钟单元222和第二时钟单元223。所述微控制模块210例如为ARM(AcornRISCMachine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并将模式信息与参数信息通过SPI(SerialPeripheralInterface，串行外设接口)通信发送至所述处理模块230。所述参数信息包括所述显示装置的分辨率、像素时钟信号的频率、刷新率等。时钟模块220与微控制模块210相连接，用于产生点亮显示装置250所需的像素时钟信号；所述时钟判别单元221包括预设值，所述预设值例如为所述第一时钟单元222能够产生的时钟信号的频率上限值，所述时钟判别单元221根据所述微控制模块210提供的参数信息，判断其所需像素时钟信号的频率是否超过所述预设值。当所述像素时钟信号的频率不大于所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置的点灯测试系统，其特征在于，包括：微控制模块，根据测试要求提供显示装置所需的参数信息；时钟模块，根据所述参数信息产生像素时钟信号；处理模块，根据所述参数信息及像素时钟信号产生点屏信号和同步信号；桥接转换模块，用于将所述点屏信号转换成显示装置所需的格式；其中，所述参数信息至少包括显示装置所需的像素时钟信号的频率，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，所述预设值为所述第一时钟单元能够产生的时钟信号的频率上限值，当所述所需的像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第一时钟信号的频率与所述像素时钟信号的频率成预设比例，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生所述像素时钟信号。

【技术特征摘要】
1.一种显示装置的点灯测试系统，其特征在于，包括：微控制模块，根据测试要求提供显示装置所需的参数信息；时钟模块，根据所述参数信息产生像素时钟信号；处理模块，根据所述参数信息及像素时钟信号产生点屏信号和同步信号；桥接转换模块，用于将所述点屏信号转换成显示装置所需的格式；其中，所述参数信息至少包括显示装置所需的像素时钟信号的频率，所述时钟模块包括时钟判别单元、第一时钟单元和第二时钟单元，所述时钟判别单元包括预设值，所述预设值为所述第一时钟单元能够产生的时钟信号的频率上限值，当所述所需的像素时钟信号的频率超过所述预设值时，所述时钟判别单元配置所述第一时钟单元产生第一时钟信号，所述第一时钟信号的频率与所述像素时钟信号的频率成预设比例，所述第二时钟单元根据所述第一时钟信号产生所述像素时钟信号。2.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试系统，其特征在于，所述第二时钟单元与所述处理模块双向连接，并根据所述处理模块的设置，对所述第一时钟信号进行相应的倍频处理，得到所述像素时钟信号。3.根据权利要求1所述的显示装置的点灯测试系统，其特征在于，当所需像素时钟信号的频率小于或等于所述预设值时，所述第一时钟单元产生的第一时钟信号即可满足所需像素时钟信号的频率要求，第一时钟信...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵麟瑄，周永超，施骏，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32