接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

技术编号:20176564 阅读:55 留言:0更新日期:2019-01-23 00:20
本发明专利技术提供一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括:获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。本发明专利技术提供的方法及设备自动生成并维护测试用例,减少重复的劳动,减轻测试人员的日常工作负担,用以节省不必要的维护成本。

Interface Test Case Generation Method, Device, Electronic Equipment and Storage Media

The invention provides an interface test case generation method, a device, an electronic device and a storage medium. The method includes: obtaining interface configuration information of the interface to be tested, the configuration information includes at least one field value setting; generating a list of valid field values and an invalid field value list according to the field value setting of the field. The valid field values in the list of valid field values conform to the field value setting, and the invalid field values in the list of invalid field values do not conform to the field value setting mentioned above. Field value setting; traversing the valid field value list to generate positive test cases; traversing the invalid field value list to generate negative test cases; and combining the positive test cases and negative test cases of each field of the interface to be tested to generate the interface test case list of the interface to be tested. The method and equipment provided by the invention automatically generates and maintains test cases, reduces repetitive labor, reduces the daily work burden of testers, and saves unnecessary maintenance costs.

【技术实现步骤摘要】
接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质
本专利技术涉及计算机应用
,尤其涉及一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质。
技术介绍
在如今系统设计的背景下,REST(表述性状态传递,RepresentationalStateTransfer)风格的接口应用越发广泛,针对该类型的接口测试需求也日趋旺盛。在传统的接口测试模式下,测试人员需要使用各式各样的接口请求工具或者手动编写接口请求代码,并且测试人员还需要维护大量的测试用例与测试数据。对于REST风格的接口来说,非业务逻辑的接口测试存在一定的逻辑规律,并且针对同类型的栏位配置信息,测试用例的相似度非常高。为了应对频繁变更的系统开发需求,测试人员需要花费大量人力成本在维护接口测试用例上,其中很多都是单一重复的操作。尤其是当接口的栏位数量或者类型发生改变时,修改调试对应的测试用例需要占用大量的时间,而紧凑的开发周期可能会导致这部分接口无法得到充分的测试,从而变向提高了实施接口测试自动化的难度。
技术实现思路
本专利技术为了克服上述现有技术存在的缺陷,提供一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质,以自动生成并维护本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种接口测试用例生成方法,其特征在于,包括:获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。

【技术特征摘要】
1.一种接口测试用例生成方法,其特征在于,包括:获取待测试接口的接口配置信息,所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定;依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表,所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定,所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定;遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例;遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例;以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例,生成待测试接口的接口测试用例列表。2.如权利要求1所述的接口测试用例生成方法,其特征在于,所述栏位值设定包括:栏位值类型、栏位类型、栏位值长度范围、栏位值连续取值范围、栏位值离散取值范围中的至少一项。3.如权利要求2所述的接口测试用例生成方法,其特征在于,依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表包括:依据栏位的栏位值设定中的栏位值类型,随机生成至少一个基础栏位值,并基于所述基础栏位值及所述栏位值长度范围,生成有效栏位值列表和无效栏位值列表。4.如权利要求2所述的接口测试用例生成方法,其特征在于,依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表包括:依据栏位的栏位值设定中的栏位值类型,自一预存基础栏位值表中选取符合所述栏位值类型的基础栏位值,并基于所述基础栏位值及所述栏位值长度范围,生成有效栏位值列表和无效栏位值列表。5.如权利要求1所述的接口测试用例生成方法,其特征在于,还包括:依据所述待测试接口的接口配置信息判断所述待测试接口是否具有引用接口;若所述待测试接口具有引用接口,则使所述待测试接口的栏位的有效栏位值列表中的有效栏位值设置为所述引用接口经接口测试用例执行成功时的返回值。6.如权利要求5所述的接口测试用例生成方法,其特征在于,还包括:对待测试接口执行所述接口测试用例,若所述待测试接口为引用接口,则保存该待测试接口经接口测试用例执行成功时的返回值。7.如权利要求5或6所述的接口测试用例生成方法,其特征在于,所述待测试接口的接口配置信息具有一引用标识,所述引用标识指示所述待测试接口为引用接口、被引用接口或无引用关系接口;所述待测试接口的接口配置信息基于所述引用...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘林圣侍小欣
申请(专利权)人:上海精数信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海,31

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