光学尺读头的感测晶片结构制造技术

技术编号:20174513 阅读:35 留言:0更新日期:2019-01-22 23:33
一种光学尺读头的感测晶片结构,包括有一设有至少一个导电接垫的基板,此基板上设有一感光芯片,其设有至少一接脚,各接脚分别以一导线连接至一个导电接垫,而感光芯片相对该基板的一侧表面上设有一编码图层,据此精简结构并减缩光学尺读头的体积。

Sensor wafer structure of optical ruler reader

A sensing wafer structure of an optical ruler reader includes a base plate with at least one conductive pad. The base plate is provided with at least one photosensitive chip, each of which is connected to a conductive pad by a wire, and the photosensitive chip is provided with a coding layer relative to one side surface of the base plate, thereby simplifying the structure and reducing the volume of the optical ruler reader.

【技术实现步骤摘要】
光学尺读头的感测晶片结构
本专利技术与光学尺有关,尤指一种光学尺读头的感测晶片结构。
技术介绍
光学尺是精密产业中测量微小距离的重要设备,如图3所示,其包括有一计量尺6(俗称主尺)及一光学读头7,其中该计量尺6上设有编码图样(通常是光栅图样),而该光学读头7内部设有一副尺71及一感光模组72,其中该副尺71为一设有光栅图样的玻璃块,当该光学读头7与该计量尺6产生相对运动时,该计量尺6与该副尺71上的光栅图样产生相对位移,进而造成连续的光强度变化,俾供该感光模组72接收并加以转换,藉此测得位移距离。但上述已知的结构中,该副尺71为一占有一定体积的立体结构,且其与该感光模组72相隔一间隔空间74并以一连接件73连接,因此令整个光学读头7占据较大的体积,难以满足精密产业中对于设备小型化的趋势需求。此外,已知结构中,由于该副尺71与该感光模组72之间的间隔空间74存有空气分子,甚至灰尘、杂质等悬浮粒子,恐将造成光线通过时产生折射或绕射等现象,进而影响测量的结果。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种光学尺读头的感测晶片结构,其在感光芯片上直接设置一光栅图案层,使传统结构的副尺与感光芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学尺读头的感测晶片结构,其特征在于,包括有:一基板,其设有至少一个导电接垫;一感光芯片,其设于该基板上;该感光芯片设有至少一接脚,各接脚分别以一导线连接至一个导电接垫;一编码图层,其设于该感光芯片相对该基板的一侧表面上。

【技术特征摘要】
1.一种光学尺读头的感测晶片结构,其特征在于,包括有:一基板,其设有至少一个导电接垫;一感光芯片,其设于该基板上;该感光芯片设有至少一接脚,各接脚分别以一导线连接至一个导电接垫;一编码图层,其设于该感光芯片相对该基板的一侧表面上。2.依权利要求1所述的光学尺读头的感测晶片结构,其特征在于,该编码图层形成光栅的图样。3.依权利要求1所述的光学尺读头的感测晶片结构,其特征在于,该感...

【专利技术属性】
技术研发人员:高清芬张家荣
申请(专利权)人:台濠科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾,71

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