一种质谱仪和离子检测方法技术

本发明专利技术公开了一种质谱仪和离子检测方法，该质谱仪包括离子源、四极杆滤质器、离子捕捉装置和第一离子检测装置；在离子源下游依次设置四极杆滤质器、离子捕捉装置和第一离子检测装置，离子捕捉装置具有捕获从四极杆滤质器输出的离子，将离子束缚在离子捕捉装置中，以及在离子的捕获过程结束后，在第二时长内将离子输出至第一离子检测装置的功能。本发明专利技术中四极杆滤质器实现了对离子的筛选，离子捕捉装置可将四极杆滤质器筛选出来的离子富集起来，在短于离子捕获时长的第二时长内将离子输出至第一离子检测装置，使第一离子检测装置单位时间内检测到的离子数量相对于四极杆滤质器单位时间内输出的离子数量大幅增加，进而提高质谱仪的灵敏度。

【技术实现步骤摘要】
一种质谱仪和离子检测方法
本专利技术涉及质谱
，尤其涉及一种质谱仪和离子检测方法。
技术介绍
目前，单四极杆质谱仪因其本身原理及结构原因，只能够使目标离子连续穿出该质谱仪中的四极杆滤质器进该入质谱仪中的检测器，这使得单次通过检测器的离子数量有限，从而导致质谱仪的灵敏度相对较低，也就是对于浓度低的样品，通过四极杆滤质器后所得到的离子数量可能低于检测器的检出限，导致质谱仪无法得到相应的信号或得到的信号低于质谱仪本身噪声的信号强度，进而无法实现对低浓度样品的质谱检测。
技术实现思路
本专利技术实施例的主要目的在于提供一种质谱仪和离子检测方法，可提高质谱仪的灵敏度。为实现上述目的，本专利技术实施例提供一种质谱仪，该质谱仪所述质谱仪包括：离子源、四极杆滤质器、离子捕捉装置和第一离子检测装置；所述四极杆滤质器位于所述离子源下游，所述离子捕捉装置位于所述四极杆滤质器下游，所述第一离子检测装置位于所述离子捕捉装置下游，所述离子捕捉装置具有捕获从所述四极杆滤质器输出的离子，将所述离子束缚在所述离子捕捉装置中，以及在所述离子的捕获过程结束后，在第二时长内将所述离子输出至所述第一离子检测装置的功能，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种质谱仪，其特征在于，所述质谱仪包括：离子源、四极杆滤质器、离子捕捉装置和第一离子检测装置；所述四极杆滤质器位于所述离子源下游，所述离子捕捉装置位于所述四极杆滤质器下游，所述第一离子检测装置位于所述离子捕捉装置下游，所述离子捕捉装置具有捕获从所述四极杆滤质器输出的离子，将所述离子束缚在所述离子捕捉装置中，以及在所述离子的捕获过程结束后，在第二时长内将所述离子输出至所述第一离子检测装置的功能，其中，所述离子捕捉装置捕获所述离子的操作花费的时长为第一时长，所述第一时长大于所述第二时长。

【技术特征摘要】
1.一种质谱仪，其特征在于，所述质谱仪包括：离子源、四极杆滤质器、离子捕捉装置和第一离子检测装置；所述四极杆滤质器位于所述离子源下游，所述离子捕捉装置位于所述四极杆滤质器下游，所述第一离子检测装置位于所述离子捕捉装置下游，所述离子捕捉装置具有捕获从所述四极杆滤质器输出的离子，将所述离子束缚在所述离子捕捉装置中，以及在所述离子的捕获过程结束后，在第二时长内将所述离子输出至所述第一离子检测装置的功能，其中，所述离子捕捉装置捕获所述离子的操作花费的时长为第一时长，所述第一时长大于所述第二时长。2.如权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述离子捕捉装置为离子束缚子装置，所述离子束缚子装置的离子输入端面向所述四极杆滤质器的离子输出端，所述离子束缚子装置具有将输入的离子束缚在所述离子束缚子装置中，以及在所述离子的捕获过程结束后，在第二时长内将所述离子输出至所述第一离子检测装置的功能。3.如权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述离子捕捉装置由离子束缚子装置和离子偏转子装置构成，所述离子偏转子装置设置于所述四极杆滤质器的离子输出端和所述离子束缚子装置的离子输入端之间，所述离子偏转子装置用于改变从所述四极杆滤质器的离子输出端输出的离子的轨迹，使所述离子的轨迹转向所述离子束缚子装置的离子输入端，所述离子束缚子装置具有将输入的离子束缚在所述离子束缚子装置中，以及在所述离子的捕获过程结束后，在第二时长内将所述离子输出至所述第一离子检测装置的功能。4.如权利要求3所述的质谱仪，其特征在于，所述离子偏转子装置具有偏转电极，所述离子偏转子装置通过所述偏转电极改变从所述四极杆滤质器输出的离子的轨迹。5.如权利要求3所述的质谱仪，其特征在于，所述质谱仪还包括位于所述四极杆滤质器下游的第二离子检测装置，所述第二离子检测装置的离子输入端面向所述四极杆滤质器的离子输出端，所述第二离子检测装置用于在所述离子偏转子装置关闭的状态下，接收从所述四极杆滤质器中输出的离子并基于所述离子进行检测。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小华，查卓越，
申请(专利权)人：苏州安益谱精密仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32