测定方法、装置及测定设备制造方法及图纸

本申请实施例提供一种测定方法、装置及测定设备，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，该方法包括：向显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。本申请提供的测定方案通过图像采集及图像分析这种非接触、不破坏性的方式以得到显示模组的光程不均匀度，实用性更强并且不受幅面尺寸的影响。

【技术实现步骤摘要】
测定方法、装置及测定设备
本专利技术涉及光学图像处理
，具体而言，涉及一种测定方法、装置及测定设备。
技术介绍
现有裸眼3D显示技术基于在平板显示器件(LCD，LED，OLED等)上贴覆能起到分光作用的周期性光学微结构阵列(膜材、板材衬底上的狭缝或柱透镜，以下简称光栅膜)，配合特定的多视点图像交织方法，而呈现出立体效果。光栅膜周期性单元排列方向和显示屏像素排列方向存在夹角，光栅膜切割、贴合的过程中这个角度存在一定的容许浮动工艺偏差，一般在0.1°的量级。而为了达到理想的3D效果，这个角度和视图交织排列方向的角度偏差需要控制在0.005°的量级。这一背离需要在软件上进行修正，为此，一般采用生成红绿点阵测试图的方式，基于图形只有与光栅膜角度吻合、节距符合透视关系时才能够在特定距离白幕上呈现宏观条纹的原理，通过改变测试图生成规则中的方向余切、周期因子两个变量的步长，得到条纹最清晰的一组参数，以作为3D软件视图交织排列的基本参数。然而，上述方式只有在光栅膜均匀、平整地贴合于显示屏像素之上时才适用，当由于基材翘曲、胶层厚薄不均或应力、收缩等原因而导致点阵交织测试图经光栅折射后在大范围内不能形成均匀等距平直的条纹的情况下，这时在整个允许范围内都无法找到合适的一组视图合成参数以使在观看距离的幕布上呈现清晰条纹，也就是参数标定会失败。同样地，这样的显示器也难以呈现出理想的立体显示效果，局部容易出现重影、波浪纹等现象。为了找到产生不均匀的原因，形成品质控制标准，作为原材料和工艺过程控制的指标衡量依据，需要对上述不均匀、不平整性进行测定。常规的三维形貌测试方法，要么需要进行剖切断面扫描，要么无法实施于透明薄层，使得在测定过程复杂难以实现。
技术实现思路
有鉴于此，本申请的目的在于，提供一种测定方法、装置及测定设备以改善上述问题。本申请实施例提供一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。可选地，所述向所述显示模组发送测试图像信息的步骤之前，所述方法还包括：确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。可选地，所述对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：对所述条纹图像进行形态学处理；计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。可选地，所述形态学处理包括开操作处理、闭操作处理、形态学平滑处理以及顶帽变换处理中的任意一种或几种。可选地，所述根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀度。本申请实施例还提供一种测定装置，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述装置包括：测试图像信息发送模块，用于向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收模块，用于接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；处理模块，用于对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。可选地，所述测定装置还包括：设置模块，用于确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；测试图像信息获得模块，用于根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。可选地，所述处理模块包括：形态学处理单元，用于对所述条纹图像进行形态学处理；计算单元，用于计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；光程不均匀度获得单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。可选地，所述光程不均匀度获得单元包括：计算子单元，用于计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；曲率获得子单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；光程不均匀度获得子单元，用于根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀。本申请实施例还提供一种测定设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的方法步骤。本申请实施例提供的测定方法、装置及测定设备，通过向显示模组发送测试图像信息，以使显示模组中的显示屏像素层根据接收到的测试图像信息显示对应的交织点阵图像。并接收图像采集识别采集并发送的所述交织点阵图像经显示模组中的光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像，通过对所述条纹图像进行处理，并根据处理结果获得显示模组的光程不均匀度。本申请提供的测定方案通过图像采集及图像分析这种非接触、不破坏性的方式以得到显示模组的光程不均匀度，实用性更强并且不受幅面尺寸的影响。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本申请实施例提供的测试方法的应用场景示意图。图2为本申请实施例提供的测定设备的结构框图。图3为本申请实施例提供的测定方法的流程图。图4为本申请实施例提供的测定方法的另一流程图。图5为本申请实施例中的条纹点阵图的示意图。图6为本申请实施例中的显示模组上呈现的条纹图像的示意图。图7为图3中步骤S130的子步骤的流程图。图8为图7中步骤S133的子步骤的流程图。图9为本申请实施例提供的测定装置的功能模块框图。图10为本申请实施例提供的处理模块的功能模块框图。图11为本申请实施例提供的光程不均匀度获得单元的功能模块框图。图标：100-测定设备；110-测定装置；111-测试图像信息发送模块；112-接收模块；113-处理模块；1131-形态学处理单元；1132-计算单元；1133-光程不均匀度获得单元；11331-计算子单元；11332-曲率获得子单元；11333-光程不均匀度获得子单元；114-设置模块；115-测试图像信息获得模块；120-处理器；130-存储器；200-图像采集设备；300-显示模组；400-驱动设备。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，其特征在于，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。

【技术特征摘要】
1.一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，其特征在于，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述向所述显示模组发送测试图像信息的步骤之前，所述方法还包括：确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。3.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：对所述条纹图像进行形态学处理；计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。4.根据权利要求3所述的测定方法，其特征在于，所述形态学处理包括开操作处理、闭操作处理、形态学平滑处理以及顶帽变换处理中的任意一种或几种。5.根据权利要求3所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀度。6.一种测定装置，用于对显示模组的光程不均匀度进行测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆小松，张涛，蒲天发，
申请(专利权)人：宁波视睿迪光电有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33