The embodiment of the present invention discloses an automatic focusing debugging method, device, device and storage medium, in which the method includes acquiring the average position corresponding to the peak value of the clarity of the sample product, determining the target test distance of the target product according to the standard value of the average position and process capability index, and debugging the target product based on the target test distance. The corresponding position of the peak point of clarity of the target product is obtained. The embodiment of the invention determines the specification range of the product meeting the quality standard through the standard value of the process capability index related to the product quality in the production process, and takes the specification range as the testing distance of the product, realizes fast and accurate positioning, shortens the time of automatic focusing and debugging of the product, and improves the debugging efficiency.
【技术实现步骤摘要】
自动对焦调试方法、装置、设备和存储介质
本专利技术实施例涉及光学
,尤其涉及一种自动对焦调试方法、装置、设备和存储介质。
技术介绍
随着手机、平板电脑和智能手表等智能设备的拍照功能的广泛应用,为满足市场要求,需要对摄像头模组进行不同功能的测试,例如自动对焦检测。自动对焦是一种通过电子、机械装置以及图像处理手段自动完成对被拍摄物体对焦并获取清晰图像的技术。摄像头模组通过自动对焦检测及调试使其数据在客户要求的规格之内,从而使手机摄像头模组在不同距离对焦时通过快速推动音圈马达(VoiceCoilActuator/VoiceCoilMotor,VCM)带动透镜以找到到图像最清晰时对应透镜的位置。但是现有的自动对焦测试时间较长,影响生产效率。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种自动对焦调试方法、装置、设备和存储介质,以解决现有技术中调试时间长的问题。第一方面,本专利技术实施例提供了一种自动对焦调试方法,包括:获取样本产品的清晰度峰值点对应的平均位置;根据所述平均位置和过程能力指数的标准值,确定目标产品的目标测试距离;基于所述目标测试距离对所述目标产品进行调试,得到所述目标产品的清晰度峰值点对应的位置。第二方面,本专利技术实施例还提供了一种自动对焦调试装置,该装置包括:平均模块,用于获取样本产品的清晰度峰值点对应的平均位置;距离模块,用于根据所述平均位置和过程能力指数的标准值,确定目标产品的目标测试距离;调试模块,用于基于所述目标测试距离对所述目标产品进行调试,得到所述目标产品的清晰度峰值点对应的位置。第三方面,本专利技术实施例还提供了一种设备,所述设备包括: ...
【技术保护点】
1.一种自动对焦调试方法,其特征在于,包括:获取样本产品的清晰度峰值点对应的平均位置;根据所述平均位置和过程能力指数的标准值,确定目标产品的目标测试距离;基于所述目标测试距离对所述目标产品进行调试,得到所述目标产品的清晰度峰值点对应的位置。
【技术特征摘要】
1.一种自动对焦调试方法,其特征在于,包括:获取样本产品的清晰度峰值点对应的平均位置;根据所述平均位置和过程能力指数的标准值,确定目标产品的目标测试距离;基于所述目标测试距离对所述目标产品进行调试,得到所述目标产品的清晰度峰值点对应的位置。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述平均位置和过程能力指数的标准值,确定目标产品的目标测试距离,包括:依据如下公式,确定所述目标测试距离的上限值和下限值:CPK=MIN((X-LSL/3σ),(USL-X/3σ)),其中CPK为过程能力指数,X为所述样本产品的清晰度峰值点对应的平均位置,LSL为所述目标测试距离的下限值,USL为所述目标测试距离的上限值,σ是所述样本产品的标准偏差值。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取样本产品的清晰度峰值点对应的平均位置,包括:基于所述样本产品的完整测试距离对各样本产品进行调试,得到各样本产品清晰度峰值点对应的位置;根据各样本产品清晰度峰值点对应的位置,得到所述平均位置。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述目标测试距离对所述目标产品进行调试之前,还包括:设置所述目标测试距离的粗调参数和细调参数,所述粗调参数包括粗调步长,所述细调参数包括细调步长。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于所述目标测试距离对所述目标产品进行调试,得到所述目标产品的清晰度峰值点对应的位置,包括:根据所述粗调参数对所述目标产品进行粗调,得到粗调清晰度峰值点对应的位置;根据所述粗调清晰度峰值点对应的位置和所述细调参...
【专利技术属性】
技术研发人员:王翠珍,
申请(专利权)人:广州立景创新科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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