The present invention provides a spectral line selection method for laser absorption spectral tomography, which is divided into the following steps: 1. Given the set of spectral line alternatives and the temperature range; 2. Calculate the set of spectral line strength function alternatives and the number of selected spectral lines; 3. Calculate the set of standardized spectral line strength function alternatives and calculate the inner product of elements in the set; 4. Determine the objective function of combinatorial optimization; 5. Find out the number of selected spectral lines. Solve the combinatorial optimization problem to obtain the optimal combination of spectral lines. The method proposed by the present invention can quickly determine the optimum combination of spectral lines in the alternative set of spectral lines in laser absorption spectral tomography by calculating the Gram determinant of the normalized combination of spectral line intensity functions. It has strong applicability, high reliability and wide application prospects.
【技术实现步骤摘要】
一种用于激光吸收光谱层析成像的谱线选取方法
本专利技术涉及一种用于激光吸收光谱层析成像的谱线选取方法,主要内容为如何利用吸收谱线线强度函数之间的关系,确定最优谱线组合。本专利技术涉及激光吸收光谱测速技术、层析成像技术等领域。
技术介绍
激光吸收光谱测量技术是一种用于测量气体环境状态参数的重要技术,广泛应用于工业过程检测、燃烧检测、大气环境监测等各个领域。研究人员利用激光吸收光谱技术开展了单一路径上气体温度、组分浓度、气流速度等方面的研究。结合层析成像技术(亦称断层扫描成像技术),研究人员还实现了对气体温度、组分浓度等分布参数的测量和重建。近年来,研究人员提出了基于多谱线的激光吸收光谱层析成像技术,并在相关领域得到了应用,此技术的原理简单陈述如下。激光吸收光谱技术所依赖的基本物理原理是Beer-Lambert定律,该定律指出,激光经过一段长度为L的气体环境时,特定的气体分子会对光强产生吸收作用,使得出射光强发生衰减。对于该分子的第i条谱线,其积分吸收率Ai为:其中l是激光与物质相互作用的位置,T是温度,Si(T)是第i条谱线的线强度函数,P是气体吸收组分分压。将被测区域划分为N个网格,并假设在每个网格中气体分布参数是均匀的。这样(1)式可被离散化为:其中,ln为激光穿过第n个网格的路径长度,Pn为第n个网格中的吸收组分分压,Tn为第n个网格中的温度。结合层析成像技术,可以在多个投影角度上布置多条激光束。设布置的激光束总数量为M,对于第m条激光束有如下关系:其中,Ami是第m条激光束对应积分吸收率,lmn是第m条激光束穿过第n个网格的路径长度。再利用多条吸收谱 ...
【技术保护点】
1.一种用于激光吸收光谱层析成像的谱线选取方法:步骤1,给定谱线备选集合和温度区间:吸收光谱中可测量的谱线可以根据实验中使用的激光器、探测器的光谱范围给定,将这些谱线作为备选集合,记备选集合中谱线的总数为I;温度区间可对测量对象进行估计给定,记为[T1,T2];步骤2,计算谱线线强度函数备选集合并给定选取的谱线数:线强度函数参数可通过检索HITRAN数据库获得,根据步骤1中所述温度区间,即可计算谱线线强度函数备选集合:{Si(T)|i=1,...,I;T∈[T1,T2]}, (1)其中,Si(T)是第i条谱线的线强度函数;给定需要选取的谱线数,记为K,K≤I;步骤3,计算标准化谱线线强度函数备选集合并计算集合中元素间的内积:将步骤2中所述谱线线强度函数备选集合中元素按照能量归一化,获得标准化谱线线强度函数备选集合:
【技术特征摘要】
1.一种用于激光吸收光谱层析成像的谱线选取方法:步骤1,给定谱线备选集合和温度区间:吸收光谱中可测量的谱线可以根据实验中使用的激光器、探测器的光谱范围给定,将这些谱线作为备选集合,记备选集合中谱线的总数为I;温度区间可对测量对象进行估计给定,记为[T1,T2];步骤2,计算谱线线强度函数备选集合并给定选取的谱线数:线强度函数参数可通过检索HITRAN数据库获得,根据步骤1中所述温度区间,即可计算谱线线强度函数备选集合:{Si(T)|i=1,...,I;T∈[T1,T2]},(1)其中,Si(T)是第i条谱线的线强度函数;给定需要选取的谱线数,记为K,K≤I;步骤3,计算标准化谱线线强度函数备选集合并计算集合中元素间的内积:将步骤2中所述谱线线强度函数备选集合中元素按照能量归一化,获得标准化谱线线强度函数备选集合:所述标准化谱线线强度函数备选集合中第i个元素和第j个元素间的内积为:...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐立军,曲前伟,曹章,
申请(专利权)人:北京航空航天大学,
类型:发明
国别省市:北京,11
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