一种CPU的测试方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种CPU的测试方法、装置及电子设备，本发明专利技术中能够自动配置SETWP测试中的decay命令、以及decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间，进而实现对CPU的正确的SETWP测试，获取测试结果。通过本发明专利技术实施例，不需要依赖人工调整各条命令对应的delay的参数值。

A CPU Test Method, Device and Electronic Equipment

The invention provides a test method, device and electronic equipment for CPU. The decay command in SETWP test and the corresponding command execution time of each command after decay command can be automatically configured in the present invention, thereby realizing the correct SETWP test for CPU and obtaining test results. By means of an embodiment of the present invention, the delay parameter values corresponding to each command need not be adjusted manually.

【技术实现步骤摘要】
一种CPU的测试方法、装置及电子设备
本专利技术涉及服务器领域，更具体的说，涉及一种CPU的测试方法、装置及电子设备。
技术介绍
服务器主板在研发过程中需要做详细严格的测试，来验证主板各项功能是否正常，各项参数是否符合设计标准。中央处理器CPU作为主板上的核心部件，其测试工作也是重点关注的部分。在对CPU执行SETWP测试时，当将SVIDDn命令由fast改为decay，并将SETWPdate由22改为32后，开始执行decay测试。当decay命令以及后续命令执行出错时，需要人工调整各条命令对应的delay的参数值，才能使得decay命令以及后续命令正确执行。但是人工调整各条命令对应的delay的参数值，费时费力。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种CPU的测试方法、装置及电子设备，以解决人工调整各条命令对应的delay的参数值，费时费力的问题。为解决上述技术问题，本专利技术采用了如下技术方案：一种CPU的测试方法，包括：执行对CPU的SETWP测试，确定并配置所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并获取测试数据，以根据所述测试数据确定所述CPU是否合格；其中，所述测试数据包括最终生成的cso信号中出现第一个上升沿的时间与最终生成的alert信号中的出现每个下降沿的时间的时间差。优选地，确定所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间，包括：获取生成的cso信号中的出现第一个上升沿的第一时间以及生成的alert信号中出现第一个下降沿的第二时间；计算所述第一时间与所述第二时间的第一时间差；根据所述第一时间差，计算所述第一命令执行时间。优选地，调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间，包括：获取生成的alert信号中第i个下降沿以及确定所述第i个下降沿对应的命令；其中，i≥2、且i为正整数；判断所述命令是否是位于所述decay命令之后的第i-1个命令；若是，则确定并配置位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间；若不是，则将所述命令以及所述第i-1个命令的顺序对调，并执行所述确定并配置位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间这一步骤；判断所述第i-1个命令是否是所述SETWP测试中需执行的最后一个命令；若不是，则返回执行所述获取生成的alert信号中第i个下降沿以及所述第i个预设下降沿对应的命令这一步骤，直到为decay命令之后每一命令配置第二命令执行时间后停止。优选地，确定位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间，包括：获取生成的cso信号中的出现第一个上升沿的第三时间以及生成的alert信号中出现第i个下降沿的第四时间；计算所述第三时间与所述第四时间的第二时间差；根据所述第二时间差，计算并配置所述第二命令执行时间。优选地，根据所述第一时间差，计算所述第一命令执行时间，包括：计算所述第一时间差与预设数值的比值，并将所述比值作为所述第一命令执行时间。一种CPU的测试装置，包括：第一配置模块，用于执行对CPU的SETWP测试，确定并配置所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间；第二配置模块，用于重新执行所述SETWP测试，并调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间；数据获取模块，用于重新执行所述SETWP测试，并获取测试数据，以根据所述测试数据确定所述CPU是否合格；其中，所述测试数据包括最终生成的cso信号中出现第一个上升沿的时间与最终生成的alert信号中的出现每个下降沿的时间的时间差。优选地，所述第一配置模块包括：第一获取子模块，用于获取生成的cso信号中的出现第一个上升沿的第一时间以及生成的alert信号中出现第一个下降沿的第二时间；第一计算子模块，用于计算所述第一时间与所述第二时间的第一时间差；第二计算子模块，用于根据所述第一时间差，计算所述第一命令执行时间。优选地，所述第二配置模块包括：第二获取子模块，用于获取生成的alert信号中第i个下降沿以及确定所述第i个下降沿对应的命令；其中，i≥2、且i为正整数；第一判断子模块，用于判断所述命令是否是位于所述decay命令之后的第i-1个命令；配置子模块，用于若第一判断模块判断出所述命令是位于所述decay命令之后的第i-1个命令，确定并配置位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间；顺序调整子模块，用于若第一判断模块判断出所述命令不是位于所述decay命令之后的第i-1个命令，将所述命令以及所述第i-1个命令的顺序对调；所述配置子模块，还用于所述顺序调整子模块将所述命令以及所述第i-1个命令的顺序对调后，确定并配置位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间；第二判断子模块，用于判断所述第i-1个命令是否是所述SETWP测试中需执行的最后一个命令；所述第二获取子模块，还用于第二判断子模块判断出所述第i-1个命令不所述SETWP测试中需执行的最后一个命令后，获取生成的alert信号中第i个下降沿以及所述第i个预设下降沿对应的命令，直到为decay命令之后每一命令配置第二命令执行时间后停止。优选地，所述配置子模块包括：获取单元，用于获取生成的cso信号中的出现第一个上升沿的第三时间以及生成的alert信号中出现第i个下降沿的第四时间；第一计算单元，用于计算所述第三时间与所述第四时间的第二时间差；第二计算单元，用于根据所述第二时间差，计算并配置所述第二命令执行时间。一种电子设备，包括：存储器和处理器；其中，所述存储器用于存储程序；处理器调用程序并用于：执行对CPU的SETWP测试，确定并配置所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并获取测试数据，以根据所述测试数据确定所述CPU是否合格；其中，所述测试数据包括最终生成的cso信号中出现第一个上升沿的时间与最终生成的alert信号中的出现每个下降沿的时间的时间差。相较于现有技术，本专利技术具有以下有益效果：本专利技术提供了一种CPU的测试方法、装置及电子设备，本专利技术中能够自动配置SETWP测试中的decay命令、以及decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间，进而实现对CPU的正确的SETWP测试，获取测试结果。通过本专利技术实施例，不需要依赖人工调整各条命令对应的delay的参数值。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种CPU的测试方法的方法流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种对CPU测试的场景示意图；图3为本专利技术实施例提供的另一种对CPU测试的场景示意图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种CPU的测试方法，其特征在于，包括：执行对CPU的SETWP测试，确定并配置所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并获取测试数据，以根据所述测试数据确定所述CPU是否合格；其中，所述测试数据包括最终生成的cso信号中出现第一个上升沿的时间与最终生成的alert信号中的出现每个下降沿的时间的时间差。

【技术特征摘要】
1.一种CPU的测试方法，其特征在于，包括：执行对CPU的SETWP测试，确定并配置所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间；重新执行所述SETWP测试，并获取测试数据，以根据所述测试数据确定所述CPU是否合格；其中，所述测试数据包括最终生成的cso信号中出现第一个上升沿的时间与最终生成的alert信号中的出现每个下降沿的时间的时间差。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，确定所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间，包括：获取生成的cso信号中的出现第一个上升沿的第一时间以及生成的alert信号中出现第一个下降沿的第二时间；计算所述第一时间与所述第二时间的第一时间差；根据所述第一时间差，计算所述第一命令执行时间。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间，包括：获取生成的alert信号中第i个下降沿以及确定所述第i个下降沿对应的命令；其中，i≥2、且i为正整数；判断所述命令是否是位于所述decay命令之后的第i-1个命令；若是，则确定并配置位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间；若不是，则将所述命令以及所述第i-1个命令的顺序对调，并执行所述确定并配置位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间这一步骤；判断所述第i-1个命令是否是所述SETWP测试中需执行的最后一个命令；若不是，则返回执行所述获取生成的alert信号中第i个下降沿以及所述第i个预设下降沿对应的命令这一步骤，直到为decay命令之后每一命令配置第二命令执行时间后停止。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，确定位于所述decay命令之后的第i-1个命令对应的第二命令执行时间，包括：获取生成的cso信号中的出现第一个上升沿的第三时间以及生成的alert信号中出现第i个下降沿的第四时间；计算所述第三时间与所述第四时间的第二时间差；根据所述第二时间差，计算并配置所述第二命令执行时间。5.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，根据所述第一时间差，计算所述第一命令执行时间，包括：计算所述第一时间差与预设数值的比值，并将所述比值作为所述第一命令执行时间。6.一种CPU的测试装置，其特征在于，包括：第一配置模块，用于执行对CPU的SETWP测试，确定并配置所述SETWP测试中decay命令对应的第一命令执行时间；第二配置模块，用于重新执行所述SETWP测试，并调整所述SETWP测试中所述decay命令之后的每一命令对应的命令执行时间；数据获取模块，用于重新执行所述SETWP测试，并获取测试数据，以根据所述测试数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：石德礼，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41