一种NVMe SSD热插拔的测试方法及系统技术方案

本申请提供了一种NVMe SSD热插拔的测试方法，应用于主机，包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMe SSD插入，获取插入测试数据；S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出，获取拔出测试数据；S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。该方法能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMe SSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机中热插拔系统的可靠性，且能减少热插拔测试中NVMe SSD的损耗，提高数据中心的竞争力。本申请还提供一种NVMe SSD热插拔的测试系统、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

A Testing Method and System for NVMe SSD Hot Swap

This application provides a test method for NVMe SSD hot plug-in, which is applied to the host computer, including: S1, controlling the level of pins on the analog interface pin device to be high level, simulating the NVMe SSD insertion to obtain the insertion test data; S2, controlling the level to be low level to simulate the NVMe SSD pull-out to obtain the pull-out test data; S3, judging the corresponding pull-out test data. Whether the number of copies is less than the number of preset test copies; if so, return S1. This method can obtain a large number of effective NVMe SSD hot-swap test data in the same working time, and then determine the reliability of the hot-swap system in the host more accurately. It can also reduce the loss of NVMe SSD in hot-swap test and improve the competitiveness of the data center. The application also provides a NVMe SSD hot plug test system, equipment and computer readable storage medium, all of which have the above beneficial effects.

【技术实现步骤摘要】
一种NVMeSSD热插拔的测试方法及系统
本申请涉及云计算数据中心
，特别涉及一种NVMeSSD热插拔的测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在云计算时代，海量数据需要存储和读取，NVMeSSD(Non-VolatileMemoryexpress非易失性内存主机控制器接口规范，SolidStateDisk固态硬盘)引入了无与伦比的输入和输出性能，并迅速成为存储的关键组件。但NVMeSSD直接连接到通用的PCIe(PeripheralComponentInterconnectexpress高速串行计算机扩展总线标准)总线上，NVMeSSD的控制器在驱动器内部，会随着SSD的移除而删除，热插拔处理完全依赖于操作系统的PCIe热插拔处理机制。如果对热拔插的支持易用性不好，很容易导致系统异常，业务中断。因此测试主机的热拔插的系统可靠性成为存储产品测试的一项关键业务和技术。目前的NVMeSSD热插拔测试基本是人工手动测试，测试效率低，测试次数少，有效测试数据少，无法大规模快速得到有效的NVMeSSD热插拔测试数据；部分采用机械插拔测试方法，无法及时预警和记录所遇到的相关问题，只能得到成功概率等宽泛的测试数据，无法为产品的热插拔可靠性提供保障。因此，如何在相同的工作时间内获取大量有效的NVMeSSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机热插拔系统的可靠性是本领域技术人员需要解决的技术问题。申请内容本申请的目的是提供一种NVMeSSD热插拔的测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质，能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMeSSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机热插拔系统的可靠性。为解决上述技术问题，本申请提供一种NVMeSSD热插拔的测试方法，应用于主机，包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMeSSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMeSSD拔出，获取拔出测试数据；S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。优选地，利用脚本控制所述仿接口引脚装置对应的电源开启以控制所述电平为高电平；利用所述脚本控制所述电源关闭以控制所述电平为低电平。优选地，在以模拟所述NVMeSSD插入和获取插入测试数据之间，还包括：执行IO测试程序得到IO测试数据；执行预设测试脚本得到脚本测试数据。优选地，在获取拔出测试数据之后，还包括：将所述插入测试数据和所述拔出测试数据保存为测试文档。本申请还提供一种NVMeSSD热插拔的测试系统，包括：高电平控制模块，用于控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMeSSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；低电平控制模块，用于控制所述电平为低电平以模拟所述NVMeSSD拔出，获取拔出测试数据；份数判断模块，用于判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；当所述份数判断模块判断所述份数小于所述预设测试份数时，进入所述高电平控制模块及所述低电平控制模块。优选地，所述高电平控制模块包括电源开启单元，用于利用脚本控制所述仿接口引脚装置对应的电源开启以控制所述电平为高电平；所述低电平控制模块包括电源关闭单元，用于利用所述脚本控制所述电源关闭以控制所述电平为低电平。优选地，该NVMeSSD热插拔的测试系统还包括：IO执行模块，用于执行IO测试程序得到IO测试数据；测试脚本执行模块，用于执行预设测试脚本得到脚本测试数据。优选地，该NVMeSSD热插拔的测试系统还包括：存储模块，用于将所述插入测试数据和所述拔出测试数据保存为测试文档。本申请还提供一种NVMeSSD热插拔的测试设备，包括：主机、仿接口引脚装置、存储器及处理器；其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序时实现上述所述的NVMeSSD热插拔的测试方法的步骤。本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述所述的NVMeSSD热插拔的测试方法的步骤。本申请所提供的一种NVMeSSD热插拔的测试方法，应用于主机，包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMeSSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMeSSD拔出，获取拔出测试数据；S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。可见，该方法控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平和低电平分别模拟NVMeSSD插入和拔出，获取插入测试数据和拔出测试数据，在测试数据对应的份数小于预设测试份数时，则继续获取测试数据。由于并不需要真正将NVMeSSD反复插入和拔出主机，相比于现有技术能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMeSSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机中热插拔系统的可靠性，且可以有效减少热插拔测试中NVMeSSD的损耗，减少测试周期，提高数据中心的竞争力。本申请还提供一种NVMeSSD热插拔的测试系统、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果，在此不再赘述。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本申请实施例所提供的一种NVMeSSD热插拔的测试方法的流程图；图2为本申请实施例所提供的一种NVMeSSD热插拔的测试装置结构示意图；图3为本申请实施例所提供的一种NVMeSSD热插拔的测试系统的结构框图。具体实施方式本申请的核心是提供一种NVMeSSD热插拔的测试方法，能够在相同的工作时间内获取大量有效的NVMeSSD热插拔测试数据，进而更加准确判定主机热插拔系统的可靠性。本申请的另一核心是提供一种NVMeSSD热插拔的测试系统、设备及计算机可读存储介质。为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种NVMeSSD热插拔的测试方法的流程图，该NVMeSSD热插拔的测试方法具体包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟NVMeSSD插入，获取插入测试数据。本申请实施例的执行主体是主机，主机控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟NVMeSSD插入，获取插入测试数据。其中，上述仿接口引脚装置插入主机的接口插槽中，通常连接到通用的PCIe总线上。在仿接口引脚装置能够插入主机的接口插槽中这个前提下，对仿接口引脚装置的形状不作具体限定，应由本领域技术人员根据实际情况作出相应的设定，此处仿接口引脚装置用于模拟NVMeSS本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种NVMe SSD热插拔的测试方法，应用于主机，其特征在于，包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMe SSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMe SSD拔出，获取拔出测试数据；S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。

【技术特征摘要】
1.一种NVMeSSD热插拔的测试方法，应用于主机，其特征在于，包括：S1、控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMeSSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；S2、控制所述电平为低电平以模拟所述NVMeSSD拔出，获取拔出测试数据；S3、判断所述拔出测试数据对应的份数是否小于预设测试份数；若是，则返回S1。2.根据权利要求1所述的NVMeSSD热插拔的测试方法，其特征在于，利用脚本控制所述仿接口引脚装置对应的电源开启以控制所述电平为高电平；利用所述脚本控制所述电源关闭以控制所述电平为低电平。3.根据权利要求1所述的NVMeSSD热插拔的测试方法，其特征在于，在以模拟所述NVMeSSD插入和获取插入测试数据之间，还包括：执行IO测试程序得到IO测试数据；执行预设测试脚本得到脚本测试数据。4.根据权利要求1所述的NVMeSSD热插拔的测试方法，其特征在于，在获取拔出测试数据之后，还包括：将所述插入测试数据和所述拔出测试数据保存为测试文档。5.一种NVMeSSD热插拔的测试系统，其特征在于，包括：高电平控制模块，用于控制仿接口引脚装置上引脚的电平为高电平，以模拟所述NVMeSSD插入，获取插入测试数据；其中，所述仿接口引脚装置插入所述主机的接口插槽中；低电平控制模块，用于控制所述电平为低电平以模拟所述NVMeSSD拔出，获...

【专利技术属性】
技术研发人员：亓浩，赵帅，肖占慧，孙昊，姜洪正，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41