模块化数字阵列天线的环境测试方法技术

本发明专利技术公开了模块化数字阵列天线的环境测试方法，包括：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线进行连续的低温和高温工作状态测试，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、对测试结果进行对比分析计算，得出环境适应性测试报告。其应用时，可以模拟出极端温湿度环境，并将模块化数字阵列天线投入这样的环境中进行电性能测试，以便分析其环境适应性。

Environmental Test Method of Modular Digital Array Antenna

The invention discloses the environmental testing method of modular digital array antenna, including: S1, testing the electrical performance of modular digital array antenna in ideal state, recording the test results; S2, testing the low temperature working state of modular digital array antenna in test box, recording the test results; S3, continuing to carry out high modular digital array antenna in test box. Temperature working state test, record test results; S4, repeat 2 and S3, make modular digital array antenna continuous low temperature and high temperature working state test, record test results; S5, put modular digital array antenna in test box for humidity and heat test, record test results; S6, compare and calculate test results, and get environmental adaptability test report. \u3002 When it is applied, it can simulate extreme temperature and humidity environment, and put modular digital array antenna into such environment to test its electrical performance, so as to analyze its environmental adaptability.

【技术实现步骤摘要】
模块化数字阵列天线的环境测试方法
本专利技术涉及数字阵列天线测试
，具体涉及模块化数字阵列天线的环境测试方法。
技术介绍
数字阵列天线是数字阵列雷达的重要组成部分，具有通道多、损耗小、副瓣低等特点，良好的数字阵列天线性能是雷达整体性能保证的前提。随着研发和生产技术的提高，出现了模块化的数字阵列天线设备，在满足性能指标的前提下实现了小型化、轻量化、低功耗。现有的针对模块化数字阵列天线的性能测试都是在理想状态下进行的，而数字阵列天线在实际投入使用前要经过一系列的存储运输，且其投入使用的环境也可能是较为恶劣的天气环境，这些额外因素都会对数字阵列天线的性能产生影响，只是单纯对其进行理想状态下的性能测试是远远不够的。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术存在的不足，提供模块化数字阵列天线的环境测试方法，其应用时，可以模拟出极端温湿度环境，并将模块化数字阵列天线投入这样的环境中进行电性能测试，以便分析其环境适应性。本专利技术通过以下技术方案实现：模块化数字阵列天线的环境测试方法，包括以下步骤：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最低温度为-55℃，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最高温度为70℃，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线在试验箱中进行连续的低温和高温工作状态测试，温度循环次数不少于三次，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、将步骤S1～S5得出的测试结果输入计算机进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的环境适应性测试报告。优选地，在步骤S1中，将模块化数字阵列天线置于试验箱中，使其离箱壁的距离大于10cm，若是放置两台以上模块化数字阵列天线，则不能叠加放置且相互之间的间隔也大于10cm，然后从室温开始以不大于3℃/min的速率将测试温度降至最低温度，保持2h后同样以不大于3℃/min的速率将温度升至室温，并恢复1h～2h，整个过程持续4h，并且持续对模块化数字阵列天线通电进行电性能测试。优选地，在步骤S2中，从室温开始以不大于3℃/min的速率将测试温度升至最高温度，保持2h后同样以不大于3℃/min的速率将温度降至室温，并恢复1h～2h，整个过程持续4h，并且持续对模块化数字阵列天线通电进行电性能测试。优选地，在试验箱中进行升温和降温测试时，其内部的相对湿度保持在20％～80％。优选地，在步骤S5中，将模块化数字阵列天线置于试验箱中加热、加湿，整个过程相对湿度保持在90％～98％，加热过程为室温～40℃的循环加热，室温加热至40℃的过程持续5h，线性升温，在40℃保持10h后降至室温，降温过程持续5h，线性降温，然后恢复4h后进行下一个周期升温，整个测试过程共进行不少于两个周期的循环加热，并且持续对模块化数字阵列天线通电进行电性能测试。优选地，步骤S2～S5中允许的温度误差为±2℃，允许的相对湿度误差为±5％。本专利技术具有如下的优点和有益效果：1、本专利技术模块化数字阵列天线的环境测试方法，可以分别对模块化数字阵列天线进行低温和高温工作状态测试。2、本专利技术模块化数字阵列天线的环境测试方法，可以对模块化数字阵列天线进行低温和高温循环工作状态测试。3、本专利技术模块化数字阵列天线的环境测试方法，可以模拟湿热环境对模块化数字阵列天线进行工作状态测试。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中：图1为步骤S2的低温控制曲线图；图2为步骤S3的高温控制曲线图；图3为步骤S5的湿热温度控制曲线图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。实施例如图1-3所示，模块化数字阵列天线的环境测试方法，包括以下步骤：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最低温度为-55℃，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最高温度为70℃，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线在试验箱中进行连续的低温和高温工作状态测试，温度循环次数不少于三次，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、将步骤S1～S5得出的测试结果输入计算机进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的环境适应性测试报告。在步骤S1中，将模块化数字阵列天线置于试验箱中，使其离箱壁的距离大于10cm，若是放置两台以上模块化数字阵列天线，则不能叠加放置且相互之间的间隔也大于10cm，然后从室温开始以不大于3℃/min的速率将测试温度降至最低温度，保持2h后同样以不大于3℃/min的速率将温度升至室温，并恢复1h～2h，整个过程持续4h，并且持续对模块化数字阵列天线通电进行电性能测试。在步骤S2中，从室温开始以不大于3℃/min的速率将测试温度升至最高温度，保持2h后同样以不大于3℃/min的速率将温度降至室温，并恢复1h～2h，整个过程持续4h，并且持续对模块化数字阵列天线通电进行电性能测试。在试验箱中进行升温和降温测试时，其内部的相对湿度保持在20％～80％。在步骤S5中，将模块化数字阵列天线置于试验箱中加热、加湿，整个过程相对湿度保持在90％～98％，加热过程为室温～40℃的循环加热，室温加热至40℃的过程持续5h，线性升温，在40℃保持10h后降至室温，降温过程持续5h，线性降温，然后恢复4h后进行下一个周期升温，整个测试过程共进行不少于两个周期的循环加热，并且持续对模块化数字阵列天线通电进行电性能测试。步骤S2～S5中允许的温度误差为±2℃，允许的相对湿度误差为±5％。。以上所述的具体实施方式，对本专利技术的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本专利技术的具体实施方式而已，并不用于限定本专利技术的保护范围，凡在本专利技术的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.模块化数字阵列天线的环境测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最低温度为‑55℃，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最高温度为70℃，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线在试验箱中进行连续的低温和高温工作状态测试，温度循环次数不少于三次，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、将步骤S1～S5得出的测试结果输入计算机进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的环境适应性测试报告。

【技术特征摘要】
1.模块化数字阵列天线的环境测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在理想状态下对模块化数字阵列天线进行电性能测试，记录测试结果；S2、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行低温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最低温度为-55℃，记录测试结果；S3、在试验箱中对模块化数字阵列天线继续进行高温工作状态测试，测试时间为四个小时，测试过程达到的最高温度为70℃，记录测试结果；S4、重复步骤S2和S3，使模块化数字阵列天线在试验箱中进行连续的低温和高温工作状态测试，温度循环次数不少于三次，记录测试结果；S5、将模块化数字阵列天线置于试验箱中进行湿热测试，记录测试结果；S6、将步骤S1～S5得出的测试结果输入计算机进行对比分析计算，得出模块化数字阵列天线的环境适应性测试报告。2.根据权利要求1所述的模块化数字阵列天线的环境测试方法，其特征在于，在步骤S1中，将模块化数字阵列天线置于试验箱中，使其离箱壁的距离大于10cm，若是放置两台以上模块化数字阵列天线，则不能叠加放置且相互之间的间隔也大于10cm，然后从室温开始以不大于3℃/min的速率将测试温度降至最低温度，保持2h后同样以不大于3℃/min的速率将温度升至室温，并恢复1h～2h，...

【专利技术属性】
技术研发人员：阳安源，
申请(专利权)人：四川莱源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51