晶振测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种晶振测试装置，属于晶振测试技术领域。该晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，控制模块与电源连接，多个测试板设置在恒温箱中，主控板、电源和频率计置于恒温箱外，每个测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多个晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，通过控制模块控制译码器、第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器，使测试板上的晶振被通电，并通过频率计进行检测，由于只有测试板在恒温箱中，主控板、电源、频率计均置于恒温箱外，因此避免温度对主控板、电源、频率计的影响，有利于提高测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
晶振测试装置
本技术涉及晶振测试
，特别涉及一种晶振测试装置。
技术介绍
晶振即晶体振荡器，是各种通信系统中最基础的元器件，也是系统中的基准时钟，其性能直接影响系统的稳定性、频率特性等晶振在投入使用前，需要进行测试，检测晶振的频率，确保晶振的性能满足要求。晶振通常通过晶振测试装置进行测试，为了提高测试的准确性，通常在恒温箱中进行，但是由于整个晶振测试装置都放置在恒温箱中，会对晶振测试装置造成一定的影响，从而影响到测试的准确性。
技术实现思路
为了提高晶振测试的准确性，本技术实施例提供了一种晶振测试装置。所述技术方案如下：本技术实施例提供了一种晶振测试装置，所述晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，所述主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，所述控制模块与所述电源连接，所述多个测试板设置在所述恒温箱中，所述主控板、所述电源和所述频率计置于所述恒温箱外，所述多个测试板的结构相同，每个所述测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座，每个所述晶振安装座均具有用于与晶振的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子、信号输出端子和接地端子，所述电源通过多个继电器分别与所述多个测试板上的所述晶振安装座的供电端子连接，同一所述测试板上的所述晶振安装座的供电端子与同一所述继电器的输出端相连，所述控制模块与所述译码器的输入端连接，所述译码器的多个输出端与所述多个继电器的控制端一一对应连接，每个所述测试板上，所述多个第三多路选择器的多个分支端分别与一组晶振安装座中的所述多个晶振安装座的信号输出端子一一对应连接，所述多个第三多路选择器的主干端分别与所述第二多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述多个测试板上的所述第二多路选择器的主干端分别与所述第一多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述第一多路选择器的主干端与所述频率计连接，所述控制模块分别与所述第一多路选择器、所述第二多路选择器和所述第三多路选择器的控制端连接。可选地，所述晶振测试装置还包括D/A转换器，所述晶振安装座还包括用于与晶振的压控端连接的压控端子，所述D/A转换器的输入端与所述控制模块连接，所述D/A转换器的输出端与所述压控端子连接。可选地，所述恒温箱的箱壁上设置有线缆通孔。可选地，所述晶振安装座包括底座和压板，所述底座上设置有晶振安装槽，所述晶振安装槽的槽底设置有多个通孔，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子分别插装在所述多个通孔中，所述压板与所述底座可拆卸连接，且所述压板位于所述晶振安装槽处。可选地，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子与所述晶振安装槽的槽底均连接有弹簧。可选地，所述晶振测试装置还包括数据存储模块，所述数据存储模块与所述频率计连接。可选地，所述译码器为三八译码器。可选地，所述第一多路选择器、所述第二多路选择器、所述第三多路选择器均为8选1选择器。可选地，所述控制模块包括stc89c51单片机。可选地，所述频率计为53230A频率计。本技术实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：通过在主控板上设置控制模块、译码器、第一多路选择器，在测试板上设置第二多路选择器、第三多路选择器和晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，控制模块通过译码器控制与一个测试板相连的继电器导通，使得该测试板上的晶振被通电，同时控制模块控制第一多路选择器，使该测试板上的第二多路选择器的主干端通过第一多路选择器与频率计导通，控制模块控制该测试板上的第二多路选择器选择性导通，使该测试板上的一个第三多路选择器与第二多路选择器导通，控制模块控制该第三多路选择器选择性导通，这样使一个晶振的信号输出端能够连通到频率计，并通过频率计进行检测，控制模块通过对译码器、第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器进行控制，可以对多个测试板上的多个晶振进行逐个测试，由于只有测试板被放置在恒温箱中，主控板、电源、频率计均置于恒温箱外，因此可以避免温度对主控板、电源、频率计的影响，有利于提高测试的准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的一种晶振测试装置的结构示意图；图2是本技术实施例提供的一种晶振安装座的结构示意图；图3是本技术实施例提供的一种恒温箱的结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施方式作进一步地详细描述。图1是本技术实施例提供的一种晶振测试装置的结构示意图。如图1所示，该晶振测试装置包括主控板10、电源20、恒温箱30、频率计40和多个测试板50(为了便于说明，图1中仅示出了1个测试板50)。主控板10上设置有控制模块11、译码器12、第一多路选择器13，控制模块11与电源连接20。多个测试板50设置在恒温箱30中，主控板10、电源20和频率计40置于恒温箱30外。多个测试板50的结构相同，每个测试板50上均设置有一个第二多路选择器51、多个第三多路选择器52(为了便于说明，图1中仅示出了1个第三多路选择器52)和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座。图2是本技术实施例提供的一种晶振安装座的结构示意图，如图2所示，每个晶振安装座53均具有用于与晶振1的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子533、信号输出端子534和接地端子535。电源20通过多个继电器分别与多个测试板50上的晶振安装座53的供电端子533连接，同一测试板50上的晶振安装座53的供电端子533与同一继电器的输出端相连。控制模块11与译码器12的输入端连接，译码器12的多个输出端与多个继电器的控制端一一对应连接。每个测试板50上，多个第三多路选择器52的多个分支端分别与一组晶振安装座53中的多个晶振安装座53的信号输出端子534一一对应连接，多个第三多路选择器52的主干端分别与第二多路选择器51的多个分支端一一对应连接，多个测试板50上的第二多路选择器51的主干端分别与第一多路选择器13的多个分支端一一对应连接，第一多路选择器13的主干端与频率计40连接。控制模块11分别与第一多路选择器13、第二多路选择器51和第三多路选择器52的控制端连接，控制模块11被配置为控制第一多路选择器13、第二多路选择器51和第三多路选择器52选择性导通。为了便于说明，图1中仅示出了与译码器12的输出端相连的一个继电器，每个测试板50上仅示出了与第二多路选择器51的一个分支端连接的第三多路选择器52。本技术实施例提供通过在主控板上设置控制模块、译码器、第一多路选择器，在测试板上设置第二多路选择器、第三多路选择器和晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，控制模块通过译码器控制与一个测试板相连的继电器导通，使得该测试板上的晶振被通电，同时控制模块控制第一多路选择器，使该测试板上的第二多路选择器的主干端通过第一多路选择器与频率计导通，控制模块本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶振测试装置，其特征在于，所述晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，所述主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，所述控制模块与所述电源连接，所述多个测试板设置在所述恒温箱中，所述主控板、所述电源和所述频率计置于所述恒温箱外，所述多个测试板的结构相同，每个所述测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座，每个所述晶振安装座均具有用于与晶振的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子、信号输出端子和接地端子，所述电源通过多个继电器分别与所述多个测试板上的所述晶振安装座的供电端子连接，同一所述测试板上的所述晶振安装座的供电端子与同一所述继电器的输出端相连，所述控制模块与所述译码器的输入端连接，所述译码器的多个输出端与所述多个继电器的控制端一一对应连接，每个所述测试板上，所述多个第三多路选择器的多个分支端分别与一组晶振安装座中的所述多个晶振安装座的信号输出端子一一对应连接，所述多个第三多路选择器的主干端分别与所述第二多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述多个测试板上的所述第二多路选择器的主干端分别与所述第一多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述第一多路选择器的主干端与所述频率计连接，所述控制模块分别与所述第一多路选择器、所述第二多路选择器和所述第三多路选择器的控制端连接。...

【技术特征摘要】
1.一种晶振测试装置，其特征在于，所述晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，所述主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，所述控制模块与所述电源连接，所述多个测试板设置在所述恒温箱中，所述主控板、所述电源和所述频率计置于所述恒温箱外，所述多个测试板的结构相同，每个所述测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座，每个所述晶振安装座均具有用于与晶振的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子、信号输出端子和接地端子，所述电源通过多个继电器分别与所述多个测试板上的所述晶振安装座的供电端子连接，同一所述测试板上的所述晶振安装座的供电端子与同一所述继电器的输出端相连，所述控制模块与所述译码器的输入端连接，所述译码器的多个输出端与所述多个继电器的控制端一一对应连接，每个所述测试板上，所述多个第三多路选择器的多个分支端分别与一组晶振安装座中的所述多个晶振安装座的信号输出端子一一对应连接，所述多个第三多路选择器的主干端分别与所述第二多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述多个测试板上的所述第二多路选择器的主干端分别与所述第一多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述第一多路选择器的主干端与所述频率计连接，所述控制模块分别与所述第一多路选择器、所述第二多路选择器和所述第三多路选择器的控制端连接。2.根据权利要求1所述的晶振测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘雄，程照明，琚格格，刘红，杨军，马耿，郑松峰，
申请(专利权)人：武汉船舶通信研究所中国船舶重工集团公司第七二二研究所，
类型：新型
国别省市：湖北,42