显示面板及发光组件基板的检测方法技术

一种显示面板，包括发光组件基板、对向基板、共通电极以及至少一导通结构。发光组件基板包括基板、第一接垫、至少两个测试接垫以及至少两个微型发光二极管。第一接垫以及至少两个测试接垫位于基板上。至少两个微型发光二极管的每一者包括第一半导体层、第一电极、第二半导体层以及第二电极。第一电极电性连接至第一接垫。第二电极电性连接至至少两个测试接垫中对应的一者。对向基板与发光组件基板相隔一间距。至少一导通结构电性连接共通电极以及至少两个测试接垫。一种发光组件基板的检测方法亦被提出。

【技术实现步骤摘要】
显示面板及发光组件基板的检测方法
本专利技术是有关于一种显示面板及发光组件基板的检测方法，且特别是有关于一种具有测试接垫的显示面板及发光组件基板的检测方法。
技术介绍
发光二极管(Light-EmittingDiode；LED)为一种自发光组件，其具低功耗、高亮度、高分辨率及高色彩饱和度等特性，因而适用于构建发光二极管显示面板的画素结构。然而，随着发光二极管的体积逐渐缩小，发光二极管显示面板在制造的过程中浮现了新的问题。当一个画素电路中包括多个藉由串联或并联方式连接的微型发光二极管时，即使测量出来的画素可以正常显示，但也不能确定该画素中是否每个微型发光二极管皆正常运作。因此，目前亟需一种能解决上述问题的方案。
技术实现思路
本专利技术提供一种显示面板，能解决检测微型发光二极管是否故障的问题，以改善显示面板的质量。本专利技术提供一种发光组件基板的检测方法，能解决检测微型发光二极管是否故障的问题，以改善显示面板的质量。本专利技术的一种显示面板，包括发光组件基板、对向基板、共通电极以及至少一导通结构。发光组件基板包括基板、第一接垫、至少两个测试接垫以及至少两个微型发光二极管。第一接垫位于基板上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：一发光组件基板，包括：一基板；一第一接垫，位于该基板上；至少两个测试接垫，位于该基板上；以及至少两个微型发光二极管，该至少两个微型发光二极管中的每一者包括：一第一半导体层；一第一电极，电性连接至该第一接垫以及该第一半导体层；一第二半导体层，重叠于该第一半导体层；以及一第二电极，电性连接至该第二半导体层以及该至少两个测试接垫中对应的一者；一对向基板，位于该发光组件基板上，且与该发光组件基板相隔一间距；一共通电极，位于该对向基板上；以及至少一导通结构，电性连接该共通电极以及该至少两个测试接垫。

【技术特征摘要】
2018.07.04 TW 1071231991.一种显示面板，其特征在于，包括：一发光组件基板，包括：一基板；一第一接垫，位于该基板上；至少两个测试接垫，位于该基板上；以及至少两个微型发光二极管，该至少两个微型发光二极管中的每一者包括：一第一半导体层；一第一电极，电性连接至该第一接垫以及该第一半导体层；一第二半导体层，重叠于该第一半导体层；以及一第二电极，电性连接至该第二半导体层以及该至少两个测试接垫中对应的一者；一对向基板，位于该发光组件基板上，且与该发光组件基板相隔一间距；一共通电极，位于该对向基板上；以及至少一导通结构，电性连接该共通电极以及该至少两个测试接垫。2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，更包括：一挡墙结构，位于该至少两个微型发光二极管周围，且该至少两个测试接垫位于该挡墙结构上。3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该至少两个测试接垫中的每一个的尺寸为10微米至50微米。4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，更包括：一彩色滤光组件，位于该对向基板上。5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该至少一导通结构包括：至少一高分子柱；以及至少一导电层，位于该至少一高分子柱上。6.如权利要求1所述的显示面...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹孟熙，林振祺，郭庭玮，洪嘉泽，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71