一种GPGPU纹理采样器的硬件实现制造技术

针对GPGPU中大量的纹理贴图应用过程中，如果采用通常的纹理采样器，上层逻辑需要根据纹理坐标的绕回、纹理边框越界等问题，需要多次发送纹理读取请求，然后根据多组纹理像素对数据进行滤波合成等操作，导致上层逻辑接口效率低下，降低整体性能。为了解决这一问题，本发明专利技术公开了一种GPGPU纹理采样单元的硬件实现方案，自动的完成纹理绕回和越界时的地址计算以及返回的纹理图片像素的滤波运算，降低纹理采样器在三维图形绘制引擎中的瓶颈效应，大幅提高上层逻辑的整体运行速度。

【技术实现步骤摘要】
一种GPGPU纹理采样器的硬件实现
本专利技术主要涉及到GPGPU图形处理芯片设计中的三维图形生成领域。特指像素纹理填充与加载部分的纹理采样单元的设计。
技术介绍
在GPGPU图形处理应用中，经常需要使用到纹理映射贴图过程（即将缓存中的二维图像数据加载到三维立体建模的图形图像中）。当前应用下，纹理贴图过程需要频繁的访问存储器以及执行各种运算，其设计效率极大的制约着三维绘图引擎的速度和性能，在实际设计中经常成为三维绘图引擎的瓶颈。在纹理贴图过程中，纹理采样器担负着从二维纹理图片中获取多组纹理像素颜色值，并将其转化为纹理函数需要的真实纹理像素颜色分量值的任务，设计高效的纹理采样器对于GPGPU整体三维图形绘制引擎性能有着关键的促进作用。
技术实现思路
针对GPGPU中大量的纹理贴图应用过程中，如果采用通常的纹理采样器，上层逻辑需要根据纹理坐标的绕回、纹理边框越界等问题，需要多次发送纹理读取请求，然后根据多组纹理像素对数据进行滤波合成等操作，导致上层逻辑接口效率低下，降低整体性能。为了解决这一问题，本专利技术公开了一种GPGPU纹理采样单元的硬件实现方案，自动的完成纹理绕回和越界时的地址计算以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.纹理采样请求解析：根据纹理坐标以及纹理绕回和纹理边框越界情况，当纹理坐标出现上溢(即坐标超过纹理图片的实际宽度和高度）和下溢(纹理坐标计算为负数)时，进行采样请求的解析发送以及缓存访问地址的生成转化。

【技术特征摘要】
1.纹理采样请求解析：根据纹理坐标以及纹理绕回和纹理边框越界情况，当纹理坐标出现上溢(即坐标超过纹理图片的实际宽度和高度）和下溢(纹理坐标计算为负数)时，进行采样请求的解析发送以及缓存访问地址的生成转化。2.纹理采样地址生成：根据纹理采样访问的特殊性，以纹理横纵坐标地位部分为单位分割为图像矩形块，将低位坐标相邻的纹理图片分块存储。3.片内数据缓存：片...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙斌，
申请(专利权)人：长沙景美集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43